Cluster development test for electronic module with JTAG port
Автор: Grechishnikov Vladimir, Butko Alexey, Lavrov Andrey
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Механика и машиностроение
Статья в выпуске: 6-2 т.17, 2015 года.
Бесплатный доступ
The paper considers the possibility of increasing the test coverage of the electronic circuit boards through the use of modules written in Python. Example of realization of the functional test for the diagnosis of the electronic module I / o data of the aircraft «SuperJet 100».
Jtag-интерфейс, boundary scan, cluster, jtag-interface
Короткий адрес: https://sciup.org/148204264
IDR: 148204264
Статья научная
