Разработка кластерного теста для электронного модуля с JTAG интерфейсом
Автор: Гречишников Владимир Михайлович, Бутько Алексей Дмитриевич, Лавров Андрей Юрьевич
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Механика и машиностроение
Статья в выпуске: 6-2 т.17, 2015 года.
Бесплатный доступ
В работе рассмотрена возможность повышения тестового покрытия электронных модулей за счёт использования программных моделей, написанных на языке Python. Приведен пример реализации кластерного теста для диагностики электронного модуля ввода-вывода данных самолета.
Метод граничного сканирования, jtag-интерфейс, кластер
Короткий адрес: https://sciup.org/148204264
IDR: 148204264
Список литературы Разработка кластерного теста для электронного модуля с JTAG интерфейсом
- Иванов, А В. Ключевые моменты тестопригодной разработки/А.В. Иванов//Электронные компоненты. -2010. -№ 18. С. 4-8.
- Городецкий А. А. JTAG тестирование кластеров/. А. А. Городецкий//Компоненты и технологии. -2010. -№1. С. 38-39.
- Гречишников В. М. Многофункциональные пакеты программ граничного сканирования/А. Д. Бутько//XII королевские чтения -2013. -Том 2. С. 116-117.
- Иванов, А В. Два подхода к тестированию кластеров в технологии периферийного сканирования/А.В. Иванов//Компоненты и технологии. -2011. -№10. С. 203-206.
Статья научная
