Разработка способа изготовления непланарных подложек для фотопреобразователей нового поколения

Автор: Кондратенко Тимофей Тимофеевич, Максимов Павел Валерьевич

Журнал: НБИ технологии @nbi-technologies

Рубрика: Технические инновации

Статья в выпуске: 5, 2011 года.

Бесплатный доступ

В работе выполнено исследование строения внешней боковой поверхности монокристаллов кремния после травления в газовой атмосфере H2+ 2 %об. HCl при высокой температуре. Установлено, что в результате травления на боковой поверхности кремниевых монокристаллических цилиндрических подложек, выращенных в направлении , формируется периодический рельеф, состоящий из ступеней глубиной 0,1-5 мкм, длиной до 50 мкм.

Монокристалл, высоко-температурное травление, кремний, поверхности монокристалла, газовая атмосфера

Короткий адрес: https://sciup.org/14968179

IDR: 14968179

Текст научной статьи Разработка способа изготовления непланарных подложек для фотопреобразователей нового поколения

Рис. 1. Непланарная полупроводниковая монокристаллическая подложка

а

Рис. 2. Боковая поверхность непланарной кремниевой подложки

Внешнюю поверхность полой цилиндрической подложки, состоящую из выходов краев атомных плоскостей различных кристаллографических направлений {hkl} , полировали механически с применением алмазных паст от АСМ 28/23 до АСМ 1/0 (алмазная синтетическая мелкодисперсная) по специально разработанной методике до шероховатости не хуже, чем Rz 0,05.

Механически полированные подложки подвергали химико-динамическому травлению для удаления нарушенного слоя. Качество химико-динамического травления контролировали при помощи рентгеноструктурного анализа поверхности – съемки «кривых качания» по методике, описанной в работе [3].

Травление внешней поверхности монокристаллического полого цилиндра осуществляли в установке «ЭпиКВАР». Подложку закрепляли в специальной графитовой оснастке на поверхности графитового пьедестала, нагреваемого токами высокой частоты – 0,5 МГц. Температуру поверхности подложки определяли при помощи оптического пирометра.

Время травления составило 10 минут.

Температура поверхности подложки 1 200 °С.

Скорость движения газовой атмосферы – не более 10 см/с.

Поверхность обработанных подложек исследовали металлографически на электронном микроскопе «Jeol».

Установлено, что в результате высокотемпературного травления в газовой фазе на боковой поверхности цилиндрических тонкостенных кремниевых подложек образуется рельеф, состоящий из периодически повторяющихся элементов, образованных выходами групп краев атомных плоскостей в виде прямоугольных ступеней (рис. 2, а ) либо угловых уступов (рис. 2, б ).

Высота ступени (уступа) в зависимости от условий травления (времени травления, температуры травления) может изменяться в пределах от 0,1 до 2 мкм.

Полученные структуры с развитой периодической поверхностью могут быть использованы для изготовления полупроводниковых фотоэлектрических преобразователей с повышенным КПД [1], в качестве подложек для размещения веществ-катализаторов и других целей.

Список литературы Разработка способа изготовления непланарных подложек для фотопреобразователей нового поколения

  • Зи, С. Физика полупроводниковых приборов/С. Зи. -М.: Наука, 1982.
  • Крапухин, В. В. Теоретические основы технологии полупроводников/В. В. Крапухин, И. А. Соколов, Г. Д. Кузнецов. -М.: Высш. шк., 1996.
  • Bublik, V. T. Single-Cristal X-Ray Diffraction Analysis of Nonplanar Autoepitaxial Silicon Layers/V. T. Bublik, L.V. Kozhitov, and T. T. Kondratenko//Inorganic Materials. -2009. -Vol. 45, № 14. -P. 1610-1613.
Статья научная