Разработка способа изготовления непланарных подложек для фотопреобразователей нового поколения

Кондратенко Тимофей Тимофеевич Максимов Павел Валерьевич

Журнал: НБИ технологии @nbi-technologies

Рубрика: Технические инновации

Статья в выпуске: 5, 2011 года.

Бесплатный доступ

В работе выполнено исследование строения внешней боковой поверхности монокристаллов кремния после травления в газовой атмосфере H2+ 2 %об. HCl при высокой температуре. Установлено, что в результате травления на боковой поверхности кремниевых монокристаллических цилиндрических подложек, выращенных в направлении , формируется периодический рельеф, состоящий из ступеней глубиной 0,1-5 мкм, длиной до 50 мкм.

монокристалл \ высоко-температурное травление \ кремний \ поверхности монокристалла \ газовая атмосфера

Похожие статьи в разделе Электротехника

РЕГУЛИРОВАНИЕ ГИДРОФИЛЬНО-ГИДРОФОБНЫХ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИН
РЕГУЛИРОВАНИЕ ГИДРОФИЛЬНО-ГИДРОФОБНЫХ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЕВЫХ ПЛАСТИН

В. Е. Курочкин, С. В. Мякин, Н. А. Бубис, Л. М. Кузнецов, А. Ю. Шмыков

Исследование травления диоксида кремния во внеэлектродной плазме с использованием хромовой маски
Исследование травления диоксида кремния во внеэлектродной плазме с использованием хромовой маски

Подлипнов Владимир Владимирович, Колпаков Всеволод Анатольевич, Казанский Николай Львович

Рентгеноспектральный микроанализ поверхности карбида кремния после микроцарапания титана
Рентгеноспектральный микроанализ поверхности карбида кремния после микроцарапания титана

Носенко Владимир Андреевич, Носенко Сергей Владимирович, Авилов Александр викторовиЧ., Бахмат Вера ивановнА.

Разработка пористых структур на кремнии
Разработка пористых структур на кремнии

Сакун Е.А., Полюшкевич А.В., Харлашин П.А., Семенова О.В., Корец А.Я.

Короткий адрес: https://sciup.org/14968179

IDS: 14968179   |   УДК: 621.315.592

Текст научной статьи Разработка способа изготовления непланарных подложек для фотопреобразователей нового поколения

Рис. 1. Непланарная полупроводниковая монокристаллическая подложка

а

Рис. 2. Боковая поверхность непланарной кремниевой подложки

Внешнюю поверхность полой цилиндрической подложки, состоящую из выходов краев атомных плоскостей различных кристаллографических направлений {hkl} , полировали механически с применением алмазных паст от АСМ 28/23 до АСМ 1/0 (алмазная синтетическая мелкодисперсная) по специально разработанной методике до шероховатости не хуже, чем Rz 0,05.

Механически полированные подложки подвергали химико-динамическому травлению для удаления нарушенного слоя. Качество химико-динамического травления контролировали при помощи рентгеноструктурного анализа поверхности – съемки «кривых качания» по методике, описанной в работе [3].

Травление внешней поверхности монокристаллического полого цилиндра осуществляли в установке «ЭпиКВАР». Подложку закрепляли в специальной графитовой оснастке на поверхности графитового пьедестала, нагреваемого токами высокой частоты – 0,5 МГц. Температуру поверхности подложки определяли при помощи оптического пирометра.

Время травления составило 10 минут.

Температура поверхности подложки 1 200 °С.

Скорость движения газовой атмосферы – не более 10 см/с.

Поверхность обработанных подложек исследовали металлографически на электронном микроскопе «Jeol».

Установлено, что в результате высокотемпературного травления в газовой фазе на боковой поверхности цилиндрических тонкостенных кремниевых подложек образуется рельеф, состоящий из периодически повторяющихся элементов, образованных выходами групп краев атомных плоскостей в виде прямоугольных ступеней (рис. 2, а ) либо угловых уступов (рис. 2, б ).

Высота ступени (уступа) в зависимости от условий травления (времени травления, температуры травления) может изменяться в пределах от 0,1 до 2 мкм.

Полученные структуры с развитой периодической поверхностью могут быть использованы для изготовления полупроводниковых фотоэлектрических преобразователей с повышенным КПД [1], в качестве подложек для размещения веществ-катализаторов и других целей.

Список литературы Разработка способа изготовления непланарных подложек для фотопреобразователей нового поколения

  • Зи, С. Физика полупроводниковых приборов/С. Зи. -М.: Наука, 1982.
  • Крапухин, В. В. Теоретические основы технологии полупроводников/В. В. Крапухин, И. А. Соколов, Г. Д. Кузнецов. -М.: Высш. шк., 1996.
  • Bublik, V. T. Single-Cristal X-Ray Diffraction Analysis of Nonplanar Autoepitaxial Silicon Layers/V. T. Bublik, L.V. Kozhitov, and T. T. Kondratenko//Inorganic Materials. -2009. -Vol. 45, № 14. -P. 1610-1613.