Рентгенодифрактометрические исследования структуры приповерхностной области монокристаллов

Список литературы Рентгенодифрактометрические исследования структуры приповерхностной области монокристаллов

• Пинскер 3. Г. Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука, 1982. 392 с.
• Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. И. Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев. М.: Наука, 1989. 152 с.
• Боуэн Д. К, Таннер Б. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография. СПб.: Наука, 2002. 274 с.
• Бушуев В. А. Влияние дефектов структуры на угловое распределение рентгеновской дифракции в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем//ФТТ. 1989. Т. 31, в. И. С. 70-78.
• Iida A., Kohra К. Separate measurements of dynamical and kinematical X-ray difractions from silicon crystals with a triple crystal diffractometer // Phys. Stat. Sol. (a), 1979. V. 51, № 2. P. 533-542.