Синтез бинарного фокусатора в произвольную кривую в электромагнитном приближении
Автор: Сойфер В.А., Казанский Н.Л., Харитонов С.И.
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 16, 1996 года.
Бесплатный доступ
Короткий адрес: https://sciup.org/14058321
IDR: 14058321
Текст статьи Синтез бинарного фокусатора в произвольную кривую в электромагнитном приближении
-
1.1. Геометрооптический расчет фокусаторов (общие сведения)
Пусть лазерное излучение с комплексной амплитудой Eo (х) = 10 (х) exp [ik(Sx)], где 10 (х) - интенсивность освещающего пучка, к = 2л/Л, X - длина волны освещающего пучка, х - набор декартовых координат в трехмерном пространстве, падает на отражательный оптический элемент с апертурой D, расположенный в плоскости й = (u, v), который преобразует падаю излучение в поле E(й) = ^10 (u) exp[ik^(w)].
Задача состоит в отыскании функции ф ( и) , которая должна обеспечивать в плоскости z=f с декартовыми координатами (x,y) формирование светового поля, сфокусированного вблизи каустической фокальной кривой. Считаем, что фокальная кривая (Рис.1) задается следующими параметрическими уравнениями *
x - X( 5 ), 5е [0, / ] (1)
Рис. 1. Фокусировка в произвольную фокальную кривую
В работах [1-2] приведен метод расчета фо-кусатора в кривую, основанный на геометрооптической аппроксимации оператора распространения комплексной амплитуды света. Распределение энергии вдоль фокальной кривой характеризуется линейной плотностью. Фокальная кривая представляет собой вырожденную каустику, поэтому большое значение имеют дифракционные эффекты, которые не учитываются при геометрооптическом подходе к решению обратной задачи фокусировки.
Для того чтобы охарактеризовать распределе -ние световой энергии вдоль каустической фокальной кривой, введем в окрестности геометрической кривой криволинейные координаты по формулам:
x ( 5 , , n , ) = X ( 5 , ) + Y ' ( 5 , ) n ,
У ( 5 , , n , ) = Y ( 5 1 ) - X ' ( 5 , ) n ,
Распределение энергии вдоль фокальной кривой будем характеризовать функцией 9 (^, s )
+ Е
9(5,, Е) = JI(51, n,)dn, , — Е где I - средняя плотность потока вектора Умова-Пойнтинга в плоскости фокусировки.
Пусть А - дифракционная ширина фокальной кривой.
При 2 е >> А функция 9 (^, s ) представляет собой линейную плотность энергии вдоль отрезка [,].
При 2 е << А функция 9 (^, s ) пропорциональна интенсивности светового поля на геометрической фокальной кривой.
Будем искать решение, при котором все геометрооптические лучи выходящие из “фокусирующей кривой”, расположенной в плоскости оптического элемента, попадают в одну точку на фокальной каустической кривой. Фокусирующую кривую согласно [,], будем называть слоем.
Уравнение слоя на фокусаторе имеет вид [,] [ ( u — X ( 5 ) ) X ' ( 5 ) ] 2 = c 2( 5 ) [ f + ( и — X ( 5 ) ) 2 ] , (2)
представляющий гиперболу, где c( 5 ) - константа, определяемая из энергетических соотношений.
Определяя из (2) соответствие 5 = 5(и) и под ставляя его в уравнение наклонов [3]
——
X ( 5 ( г—)) — г—
^ф =
,
[ f 2 + ( X ( 5 ( й )) — г—) ) 2 ] 2
можно найти 5 = 5 ( и ) , а затем восстановить ф ( и )
методами теории потенциала: г—
ф ( — - ф ( и 0) + J V ^ d u , (4)
— где интегрирование ведется по произвольной кривой, соединяющей точку и с некоторой начальной точкой и0
v -f хд 1 .
( du д J
-
1.2. Анализ эффективности бинарного фокусатора в произвольную кривую в электромагнитном приближении
В предыдущем пункте приведен метод расчета фокусаторов лазерного излучения в произвольную фокальную кривую. Были получены формулы для фазовой функции оптического элемента, осуществляющего данную фокусировку. Для того чтобы изготовить дифракционный оптический элемент (ДОЭ), необходимо знать функцию высоты микрорельефа. Расчет высоты микрорельефа ДОЭ по заданной фазовой функции рассмотрен в работах [,-2]. В этих работах расчет высоты микрорельефа по заданной фазовой функции оптического элемента был основан на приближении геометрической оптики. Следует отметить, что приближение геометрической оптики в данном случае справедливо, если ширина зоны на дифракционном оптическом элементе составляет несколько десятков длин волн. Однако для многих технических приложений актуально использование короткофокусных ДОЭ. Средняя ширина зоны на таком оптическом элементе приблизительно равна длине волны освещающего когерентного излучения.
В данной работе будут рассмотрены некоторые методы создания заданных фазовых распределений, основанные на представлении ДОЭ в виде набора дифракционных решеток с различным направлением штрихов и различным периодом.
Для того чтобы решить поставленную задачу, рассмотрим отражение плоской электромагнитной волны от идеально проводящей дифракционной решетки.
Пусть плоская волна exp( iksx) падает на дифракционную решетку, расположенную в плоскости, определяемой вектором нормали N . Штрихи дифракционой решетки направлены вдоль вектора f (рис 2).

Отраженное поле представляет собой суперпозицию
W ( Х ) = Е R n exP( ika n x (5)
где a n - определяет направление отраженных волн. Согласно результатам, полученным в [4],
5 m = ( a 0 f ) f + ( a 0 5 + A m / d ) n +
+7 (1 - ( a 0 f )2 - ( a 0 n + A m / d )2) N
где a 0 = f - 2 N |_ N * f J , n = [ f * N ] - вектор нормали к штрихам решетки, d - период решетки.
Проводя анализ формул (5) и (6) нетрудно заметить, что при отражении от решетки волна получает дополнительный сдвиг фазы
А ф т = ■( "n ) + arg R m ( u , V ) . (7) d ( u , v )
Это свойство дифракционных решеток придавать при отражении дополнительный сдвиг фазы в дальнейшем будем использовать для создания требуемых волновых фронтов.
Пусть требуется создать в плоскости z=0 фазовое распределение ф (u , v ), где u = ( u , v ) - декартовые координаты в плоскости оптического элемента.
Рассмотрим плоскую волну exp(iksx), падающую на плоский отражательный фазовый корректор, который рассматривается в дальнейшем как дифракционную решетка с переменным периодом и направлением штрихов. Фазовое распределение в падающей волне имеет вид
Ф 0 ( u , v ) = k ( 50 f ) f u + k ( a 0 5 ) n5 . (8)
После отражения фазовое распределение обретает вид
ф ( u , v ) = Ф 0 ( u , v ) + ^ф m == k ( 5 0 f ) f 5 +
+ k\ ( a0n ) n + ^m 5 ^5 + arg R ( u , v ) c 2 d ( u , V ) ) - '
.
Предположим, что d(u,v) и R m (x,y) есть ленно меняющиеся функции, тогда
, Am . n = V ( ф ( u , v ) - C o 5) .
d ( u , v )
при-
мед-
Из формулы (10) видно, что границы штрихов решетки (или границы зон фазового корректора) совпадают с линиями уровня функции
ф (u , v ) = ф ( u , v ) - a 0 5 .
Следует отметить, что границы зон на ДОЭ, вычисленные по формуле (11), не совпадают c границами зон ДОЭ, микрорельеф которого находится в приближении геометрической оптики. Отличие от подхода, изложенного в работах [1,2,5], посвященных синтезу фокусаторов в скалярном геометрооптическом приближении, состоит в предположении, что локальные дифракционные решетки, из которых состоит ДОЭ, имеют только один дифракционный порядок. Действительно, если ширина зон на дифракционном оптическом элементе составляет несколько десятков длин волн, это предположение справедливо с достаточной степенью точности.
С другой стороны, в скалярном приближении бинарный ДОЭ всегда имеет низкую дифракционную эффективность (приблизительно 40%), и ее в данном приближении нельзя повысит никакими методами. Используя строгую электромагнитную теорию, можно рассчитать ДОЭ с высокой эффективностью, значение которой в некоторых случаях приближается к 100%. Это происходит потому, что в строгой электромагнитной теории (в отличие от скалярной теории) дифракционная эффективность в соответствующем дифракционном порядке сильно зависит от ориентации падающей волны по отношению к плоскости дифракционной решетки и периода дифракционной решетки. Выбирая эти параметры можно добиться высокой (приближающейся к 100%) дифракционной эффективности в заданном дифракционном порядке.
Методы расчета бинарных дифракционных решеток в электромагнитном приближении подробно рассмотрены в работе [4]. В данной работе мы ограничимся лишь изложением основных результатов.
Из анализа результатов расчета, приведенных на рис. 3, видно, что в случае s-поляризации (вектор электрического поля перпендикулярен направлению штрихов дифракционной решетки) максимальная дифракционная эффективность в минус первом порядке дифракции достигается при отношении 0,8 < —0 dd < 1,8
— 0 = —

s , %

х /а
Рис. 3. Зависимость дифракционной эффективности отражательной дифракционной решетки от отношения X/ d
Для достижения максимальной дифракционной эффективности при синтезе ДОЭ необходимо, чтобы ширина зон на дифракционном оптическом элементе находилась в заданных пределах.
Пусть зависимость дифракционного коэффициента в соответствующем дифракционном порядке описывается функцией eff n = F n ( — 0/ d ) .
Тогда локальная дифракционная эффективность представляется в виде eff (u, v) = F f 2uv) 1 (13)
( d ( u , v ) )
A o ( x , y ) = — (14)
V 1 - ( a , ? ) 2