Синтез и кристаллическая структура Марганец-замещенного гексаферрита стронция M иW типа
Автор: Гудкова С.А., Живулин В.Е., Зирник Г.М., Винник Д.А.
Журнал: Вестник Южно-Уральского государственного университета. Серия: Химия @vestnik-susu-chemistry
Рубрика: Физическая химия
Статья в выпуске: 1 т.17, 2025 года.
Бесплатный доступ
Статья посвящена синтезу и изучению структуры гексаферрита стронция и гексаферрита стронция, легированного марганцем. Образцы получены при различных температурах в диапазоне 1100-1300 °С методом твердофазного синтеза. Проведен рентген-фазовый анализ, установлены зависимости параметров решетки основных фаз от температуры синтеза. Обнаружено, что при температуре 1300 °С из карбоната стронция и оксида железа (III) образуется однофазный гексаферрит стронция SrFe12O19 M типа, однако при той же температуре, но добавлении в шихту оксида марганца приводит к изменению типа феррита с M на W.
Гексаферрит стронция, легирование марганцем, кристаллическая структура
Короткий адрес: https://sciup.org/147248058
IDR: 147248058 | DOI: 10.14529/chem250118
Текст научной статьи Синтез и кристаллическая структура Марганец-замещенного гексаферрита стронция M иW типа
Гексагональные ферриты М типа AFe 12-x Me x O 19 известны своими неординарными магнитными свойствами, способностью модифицировать свойства материала благодаря вытянутой вдоль оси с кристаллической решетки и возможностью замещения ионов железа в пяти неэквивалентных по кислородному окружению позициях, которые в свою очередь определяют магнитную подрешетку материала. Магнитный момент иона-заместителя и позиция, в которой произошло замещение, определяет суммарный магнитный момент системы, увеличивая ее либо уменьшая. Наиболее изученный гексаферрит по части замещения является гексаферрит бария. Известны процессы замещения такими элементами как Mn [1, 2], Co [3, 4], Ti [5], Al [6], Zr [7], Ni, Сu [8] и др., причем максимальная степень замещения определяется условиями синтеза гомогенного образца. Также замещение проводят и по центральному иону, в этом случае к примеру барий частично удаётся заместить на Ca, Sr, Pb [9–11]. Замещение центрального иона создает условия для образования электрических диполей, что, как следствие, может влиять на механизм проводимости в материале. Большинство работ посвященных механизму замещения в гексаферрритах нацелены на изменение электро-физических характеристик, магнитных свойств или регулирование частоты ферромагнитного резонанса. При этом публикаций, посвященных изучению условий перехода одного типа кристаллической решетки в другой, смене типа магнитной подрешетки не обнаружено. Данная статья направлена на изучение условий синтеза гексагональных ферритов стронция, осуществляющих переход от кристаллической решетки М типа к W.
Экспериментальная часть
Для получения серии образцов с общей формулой SrFe 12-x Mn x O 19 (x = 0; 2) были использованы порошки оксидов железа (Fe 2 O 3 ) и марганца (Mn 2 O 3 ), а также карбоната бария (BaCO 3 ). Все используемые химические реактивы имели квалификацию ЧДА. Синтез проводили при температурах 1100, 1200, 1250 и 1300 °С.
Исходные вещества были взяты в заданных стехиометрических отношениях. Шихта компонентов была приготовлена путём смешения индивидуальных оксидов и их тщательного перетирания в течение 30 минут в агатовой ступе. В табл. 1 представлен расчет массовой доли исходных веществ, необходимых для синтеза образцов из смеси исходных компонентов. Далее полученная шихта была спрессована в таблетки размером около 20 мм в диаметре. Спекание образцов было произведено в трубчатой печи (SiC нагреватели) с программируемым терморегулятором. В качестве инертной подложки был использован платиновый лист. Скорость нагрева печи составляла 400 °С/ч. Скорость охлаждения печи до 900 °С составляла 100 °С/ч, при меньших температурах скорость охлаждения не контролировали. Образцы были охлаждены с печью.
Таблица 1
Расчет массовой доли компонентов
№ |
Количе ство молей в ещества |
Расчет массы навески на 15 г, г |
Хим. формула |
||||
SrCO 3 |
Fe 2 O 3 |
Mn2O3 |
SrCO 3 |
Fe 2 O 3 |
Mn2O3 |
||
1 |
1 |
6 |
0 |
2,003 |
12,997 |
0,000 |
SrFe 12 O 19 |
2 |
1 |
5,5 |
1 |
1,871 |
11,129 |
2,000 |
SrFe10Mn2O19 |
С использованием вышеописанного метода синтеза было получено восемь керамических образцов гексаферрита стронция и гексаферрита стронция с степенью замещения марганца равного двум.
Данные о фазовом составе образцов была получены при помощи порошкового рентгеновского дифрактометра Rigaku Ultima IV (излучение Cu Кα, скорость регистрации 5 °/мин) в геометрии Брэгг – Брентано.
Обсуждение результатов
На рис. 1 изображены спектры рентгеновской дифракции образцов, полученные для порошков гексаферрита стронция, синтезированных при температуре 1100, 1200, 1250 и 1300 °C. Литературные данные для SrFe12O19 и Fe2O3 также представлены в виде штрихграмм. Из рис. 1 видно, что до температуры спекания в 1300 °C образуется двухфазная смесь, основной фазой которой является гексаферрит стронция SrFe12O19, а примесной – гематит α-Fe2O3. Следует отметить, что с ростом температуры содержание примесной фазы постепенно снижается, при достижении температуры в 1300 °C наличия примесной фазы зафиксировано не было. Расчет параметров кристаллической решетки был выполнен с использованием метода полнопрофильного анализа по Ритвельду. Расчёт был проведён в автоматическом режиме с использованием программного комплекса Match. Результаты расчёта представлены в табл. 2. Присутствие примесной фазы при 1100 °С приводит к значительному снижению параметра с элементарной ячейки, в то время как в диапазоне температур 1200–1300 °С параметры кристаллической решетки гексаферрита стронция изменяются в пределах погрешности и соотношение с/а остается постоянным.

2 theta, угол
Рис. 1. Дифрактограммы образцов гексаферрита стронция, полученных при температуре T = 1100 °C, T = 1200 °C, T = 1250 °C, T = 1300 °C.
Штрихами обозначены литературные данные [12–13]
Феррит SrFe 12 O 19 относится к гексагональным ферритам М типа, легирование которого удаётся успешно провести путём добавления оксидов или карбонатов соответствующих ионов в качестве компонентов шихты. В табл. 1 представлен расчет шихты для легирования гексаферрита стронция ионами марганца. На рис. 2 отображены полученные от гексаферрита стронция ди-фрактограммы для образцов, синтезированных при разных температурах. Следует отметить, что уже при 1100 °С образуется однофазный легированный марганцем гексаферрит стронция. В то же время в образце чистого гексаферрита стронция в отличие от нелегированного образца при температуре 1100 °С зафиксировано наличие примесной фазы гематита α-Fe 2 O 3 . Таким образом, диапазон температур получения не содержащего посторонних фаз гексагонального феррита при легировании снизился до 1100–1250 °С.

Рис. 2. Дифрактограммы образцов гексаферрита стронция, замещенных марганцем, полученных при температуре T = 1100 °C, T = 1200 °C, T = 1250 °C, T = 1300 °C.
Штрихами обозначены литературные данные [13–15]
При температуре спекания в 1300 °С протекающая химическая реакция твердофазного синтеза отличается от предполагаемой реакции (в ходе которой предположительно должен был образовываться гексаферрит M типа), согласно схеме
SrCO 3 + 5 Fe 2 O 3 + Mn 2 O 3 → SrMn 2 Fe 10 O 19 + CO 2 ↑ (1)
Установлено, что в ходе реакции образуется гексагональный феррит W типа. Полученная фаза идентифицируется как SrMn 2 Fe 16 O 27 , то есть гексагональный феррит стронция, у которого параметр а кристаллической решетки практически совпадает с M типом, а параметр с в полтора раза больше. Рассчитанные по методу Ритвельда параметры решетки гексаферрита стронция М и W типа представлены в табл. 2.
Таблица 2
Параметры кристаллической решетки
№ |
Брутто |
T, °C |
a, Å |
c, Å |
c/a |
V, Å3 |
1 |
SrFe 12 O 19 |
1100 |
5,8873 |
22,8289 |
3,88 |
685,248 |
2 |
1200 |
5,8808 |
23,0661 |
3,92 |
690,844 |
|
3 |
1250 |
5,88545 |
23,0593 |
3,92 |
691,731 |
|
4 |
1300 |
5,88506 |
23,0504 |
3,92 |
691,372 |
|
5 |
SrFe 12-x Mn x O 19 |
1100 |
5,8886 |
22,926 |
3,89 |
688,481 |
6 |
1200 |
5,8852 |
23,0475 |
3,92 |
691,316 |
|
7 |
1250 |
5,8760 |
22,9474 |
3,91 |
686,166 |
|
8 |
1300 |
5,9150 |
32,8422 |
5,55 |
995,119 |
Таким образом, предполагаемая схема реакции получения феррита W типа из шихты аналогичного состава, но в температурной области около 1300 °С (см. табл. 1), будет выглядеть как реакция с дефицитом стронция:
SrCO 3 + 8 Fe 2 O 3 + Mn 2 O 3 → SrMn 2 Fe 16 O 27 + SrO + CO 2 ↑ (2)
Важно отметить, что в реакции (2) как побочный продукт может образовываться не только SrO, но и, предположительно, нестехиометрический SrO x [16]. Однако использование данной формулы усложняет представление записи протекающей реакции с точки зрения материального баланса. По данной причине, мы представили схему (2) только для случая получения SrO. Согласно данным дифракции при 1300 °С образуется гомогенный феррит. Предположение о присутствии аморфного оксида стронция SrO x основано на выводах авторов публикации [17] о сегрегации оксида бария на поверхности гексаферрита бария при легировании марганцем.
Заключение
С помощью методов рентгеновской дифракции установлено, что легирование марганцем гексаферрита стронция приводит к снижению диапазона температур получения гомогенного образца с 1200–1300 °С до 1100–1250 °С. При температуре 1100 °С образуется примесная фаза гематита при получении гексаферрита стронция. При замещении марганцем при температуре синтеза выше 1250 °С происходит образование W типа феррита SrMn 2 Fe 10 O 19 .