Синтез и кристаллическая структура Марганец-замещенного гексаферрита стронция M иW типа

Автор: Гудкова С.А., Живулин В.Е., Зирник Г.М., Винник Д.А.

Журнал: Вестник Южно-Уральского государственного университета. Серия: Химия @vestnik-susu-chemistry

Рубрика: Физическая химия

Статья в выпуске: 1 т.17, 2025 года.

Бесплатный доступ

Статья посвящена синтезу и изучению структуры гексаферрита стронция и гексаферрита стронция, легированного марганцем. Образцы получены при различных температурах в диапазоне 1100-1300 °С методом твердофазного синтеза. Проведен рентген-фазовый анализ, установлены зависимости параметров решетки основных фаз от температуры синтеза. Обнаружено, что при температуре 1300 °С из карбоната стронция и оксида железа (III) образуется однофазный гексаферрит стронция SrFe12O19 M типа, однако при той же температуре, но добавлении в шихту оксида марганца приводит к изменению типа феррита с M на W.

Гексаферрит стронция, легирование марганцем, кристаллическая структура

Короткий адрес: https://sciup.org/147248058

IDR: 147248058   |   DOI: 10.14529/chem250118

Текст научной статьи Синтез и кристаллическая структура Марганец-замещенного гексаферрита стронция M иW типа

Гексагональные ферриты М типа AFe 12-x Me x O 19 известны своими неординарными магнитными свойствами, способностью модифицировать свойства материала благодаря вытянутой вдоль оси с кристаллической решетки и возможностью замещения ионов железа в пяти неэквивалентных по кислородному окружению позициях, которые в свою очередь определяют магнитную подрешетку материала. Магнитный момент иона-заместителя и позиция, в которой произошло замещение, определяет суммарный магнитный момент системы, увеличивая ее либо уменьшая. Наиболее изученный гексаферрит по части замещения является гексаферрит бария. Известны процессы замещения такими элементами как Mn [1, 2], Co [3, 4], Ti [5], Al [6], Zr [7], Ni, Сu [8] и др., причем максимальная степень замещения определяется условиями синтеза гомогенного образца. Также замещение проводят и по центральному иону, в этом случае к примеру барий частично удаётся заместить на Ca, Sr, Pb [9–11]. Замещение центрального иона создает условия для образования электрических диполей, что, как следствие, может влиять на механизм проводимости в материале. Большинство работ посвященных механизму замещения в гексаферрритах нацелены на изменение электро-физических характеристик, магнитных свойств или регулирование частоты ферромагнитного резонанса. При этом публикаций, посвященных изучению условий перехода одного типа кристаллической решетки в другой, смене типа магнитной подрешетки не обнаружено. Данная статья направлена на изучение условий синтеза гексагональных ферритов стронция, осуществляющих переход от кристаллической решетки М типа к W.

Экспериментальная часть

Для получения серии образцов с общей формулой SrFe 12-x Mn x O 19 (x = 0; 2) были использованы порошки оксидов железа (Fe 2 O 3 ) и марганца (Mn 2 O 3 ), а также карбоната бария (BaCO 3 ). Все используемые химические реактивы имели квалификацию ЧДА. Синтез проводили при температурах 1100, 1200, 1250 и 1300 °С.

Исходные вещества были взяты в заданных стехиометрических отношениях. Шихта компонентов была приготовлена путём смешения индивидуальных оксидов и их тщательного перетирания в течение 30 минут в агатовой ступе. В табл. 1 представлен расчет массовой доли исходных веществ, необходимых для синтеза образцов из смеси исходных компонентов. Далее полученная шихта была спрессована в таблетки размером около 20 мм в диаметре. Спекание образцов было произведено в трубчатой печи (SiC нагреватели) с программируемым терморегулятором. В качестве инертной подложки был использован платиновый лист. Скорость нагрева печи составляла 400 °С/ч. Скорость охлаждения печи до 900 °С составляла 100 °С/ч, при меньших температурах скорость охлаждения не контролировали. Образцы были охлаждены с печью.

Таблица 1

Расчет массовой доли компонентов

Количе ство молей в ещества

Расчет массы навески на 15 г, г

Хим. формула

SrCO 3

Fe 2 O 3

Mn2O3

SrCO 3

Fe 2 O 3

Mn2O3

1

1

6

0

2,003

12,997

0,000

SrFe 12 O 19

2

1

5,5

1

1,871

11,129

2,000

SrFe10Mn2O19

С использованием вышеописанного метода синтеза было получено восемь керамических образцов гексаферрита стронция и гексаферрита стронция с степенью замещения марганца равного двум.

Данные о фазовом составе образцов была получены при помощи порошкового рентгеновского дифрактометра Rigaku Ultima IV (излучение Cu Кα, скорость регистрации 5 °/мин) в геометрии Брэгг – Брентано.

Обсуждение результатов

На рис. 1 изображены спектры рентгеновской дифракции образцов, полученные для порошков гексаферрита стронция, синтезированных при температуре 1100, 1200, 1250 и 1300 °C. Литературные данные для SrFe12O19 и Fe2O3 также представлены в виде штрихграмм. Из рис. 1 видно, что до температуры спекания в 1300 °C образуется двухфазная смесь, основной фазой которой является гексаферрит стронция SrFe12O19, а примесной – гематит α-Fe2O3. Следует отметить, что с ростом температуры содержание примесной фазы постепенно снижается, при достижении температуры в 1300 °C наличия примесной фазы зафиксировано не было. Расчет параметров кристаллической решетки был выполнен с использованием метода полнопрофильного анализа по Ритвельду. Расчёт был проведён в автоматическом режиме с использованием программного комплекса Match. Результаты расчёта представлены в табл. 2. Присутствие примесной фазы при 1100 °С приводит к значительному снижению параметра с элементарной ячейки, в то время как в диапазоне температур 1200–1300 °С параметры кристаллической решетки гексаферрита стронция изменяются в пределах погрешности и соотношение с/а остается постоянным.

2 theta, угол

Рис. 1. Дифрактограммы образцов гексаферрита стронция, полученных при температуре T = 1100 °C, T = 1200 °C, T = 1250 °C, T = 1300 °C.

Штрихами обозначены литературные данные [12–13]

Феррит SrFe 12 O 19 относится к гексагональным ферритам М типа, легирование которого удаётся успешно провести путём добавления оксидов или карбонатов соответствующих ионов в качестве компонентов шихты. В табл. 1 представлен расчет шихты для легирования гексаферрита стронция ионами марганца. На рис. 2 отображены полученные от гексаферрита стронция ди-фрактограммы для образцов, синтезированных при разных температурах. Следует отметить, что уже при 1100 °С образуется однофазный легированный марганцем гексаферрит стронция. В то же время в образце чистого гексаферрита стронция в отличие от нелегированного образца при температуре 1100 °С зафиксировано наличие примесной фазы гематита α-Fe 2 O 3 . Таким образом, диапазон температур получения не содержащего посторонних фаз гексагонального феррита при легировании снизился до 1100–1250 °С.

Рис. 2. Дифрактограммы образцов гексаферрита стронция, замещенных марганцем, полученных при температуре T = 1100 °C, T = 1200 °C, T = 1250 °C, T = 1300 °C.

Штрихами обозначены литературные данные [13–15]

При температуре спекания в 1300 °С протекающая химическая реакция твердофазного синтеза отличается от предполагаемой реакции (в ходе которой предположительно должен был образовываться гексаферрит M типа), согласно схеме

SrCO 3 + 5 Fe 2 O 3 + Mn 2 O 3 → SrMn 2 Fe 10 O 19 + CO 2 ↑                     (1)

Установлено, что в ходе реакции образуется гексагональный феррит W типа. Полученная фаза идентифицируется как SrMn 2 Fe 16 O 27 , то есть гексагональный феррит стронция, у которого параметр а кристаллической решетки практически совпадает с M типом, а параметр с в полтора раза больше. Рассчитанные по методу Ритвельда параметры решетки гексаферрита стронция М и W типа представлены в табл. 2.

Таблица 2

Параметры кристаллической решетки

Брутто

T, °C

a, Å

c, Å

c/a

V, Å3

1

SrFe 12 O 19

1100

5,8873

22,8289

3,88

685,248

2

1200

5,8808

23,0661

3,92

690,844

3

1250

5,88545

23,0593

3,92

691,731

4

1300

5,88506

23,0504

3,92

691,372

5

SrFe 12-x Mn x O 19

1100

5,8886

22,926

3,89

688,481

6

1200

5,8852

23,0475

3,92

691,316

7

1250

5,8760

22,9474

3,91

686,166

8

1300

5,9150

32,8422

5,55

995,119

Таким образом, предполагаемая схема реакции получения феррита W типа из шихты аналогичного состава, но в температурной области около 1300 °С (см. табл. 1), будет выглядеть как реакция с дефицитом стронция:

SrCO 3 + 8 Fe 2 O 3 + Mn 2 O 3 → SrMn 2 Fe 16 O 27 + SrO + CO 2 ↑                    (2)

Важно отметить, что в реакции (2) как побочный продукт может образовываться не только SrO, но и, предположительно, нестехиометрический SrO x [16]. Однако использование данной формулы усложняет представление записи протекающей реакции с точки зрения материального баланса. По данной причине, мы представили схему (2) только для случая получения SrO. Согласно данным дифракции при 1300 °С образуется гомогенный феррит. Предположение о присутствии аморфного оксида стронция SrO x основано на выводах авторов публикации [17] о сегрегации оксида бария на поверхности гексаферрита бария при легировании марганцем.

Заключение

С помощью методов рентгеновской дифракции установлено, что легирование марганцем гексаферрита стронция приводит к снижению диапазона температур получения гомогенного образца с 1200–1300 °С до 1100–1250 °С. При температуре 1100 °С образуется примесная фаза гематита при получении гексаферрита стронция. При замещении марганцем при температуре синтеза выше 1250 °С происходит образование W типа феррита SrMn 2 Fe 10 O 19 .

Статья научная