Совместное использование структурного анализа и метрики Хаусдорфа при сравнении объекта и эталона
Автор: Хмелев Р.В.
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Обработка изображений: Методы и прикладные задачи
Статья в выпуске: 27, 2005 года.
Бесплатный доступ
Короткий адрес: https://sciup.org/14058643
IDR: 14058643
Статья
