Сравнение методов расчета распространения рентгеновского излучения через доэ в параксиальной области
Автор: Налимов А.Г., Хонина С.Н.
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Физика и электроника
Статья в выпуске: 4-1 т.12, 2010 года.
Бесплатный доступ
В статье приведены результаты различных вариантов моделирования распространения света после прохождения через зонную пластинку из меди и кремния для рентгеновского излучения. Моделирование проводилось с помощью расчета одномерного преобразования Френеля, одномерного непараксиального распространения (через угловой спектр), двумерного интеграла Релея-Зоммерфельда, RSoft BeamProp из пакета FullWave, производитель RSoft Design Group, США. Показано, что первые три метода дают очень близкие результаты. Результат, полученный с помощью программы BeamProp, отличается приблизительно на 10%.
Зонная пластинка, рентгеновское излучение, гамма, преобразование френеля, интеграл релея-зоммерфельда, угловой спектр
Короткий адрес: https://sciup.org/148199370
IDR: 148199370
Список литературы Сравнение методов расчета распространения рентгеновского излучения через доэ в параксиальной области
- Attwood D. Soft x rays and extreme ultraviolet radiation: principles and applications/D. Attwood//Cambridge University Press, 1999.
- Sub-38 nm resolution tabletop microscopy with 13 nm wavelength laser light/Vaschenko G., Brewer C., Brizuela F., Wang Y. [and oth.]//Opt. Lett. 2006. Vol. 31. Pp. 1214-1216.
- Nano-imaging with a compact extreme ultraviolet laser/Vaschenko G., Brizuela F., Brewer C., Grisham M. [and oth.]//Opt. Lett., 2005. Vol. 30. Pp. 2095-2097.
- High efficiency and low absorption Fresnel compound zone plates for hard X-ray focusing/Kuyumchyan M., Isoyan A., Shulakov A., Aristov E., Kondratenkov V., Snigirev M., Snigireva A., Yabashi I. URL: http://arxiv.org/pdf/cs.OH/0503005 (дата обращения 22.01.2010) (Cornell University, 2005).
- "High efficiency and low absorption Fresnel compound zone plates for hard X-ray focusing/Kuyumchyan M., Isoyan A., Shulakov A., Aristov E., Kondratenkov V., Snigirev M., Snigireva A., Yabashi I. URL: http://arxiv.org/pdf/cs.OH/0503005 (дата обращения 22.01.2010) (Cornell University, 2005).
- The 8th International Conference on X-ray Microscopy (Institute of Pure and Applied Physics, Tokyo, 2006); and references therein/Aoki S., Kagoshima Y., Y. Suzuki [and oth.].
- Soft X-ray microscopy at a spatial resolution better than 15 nm/Chao W.L., Harteneck B.D., Liddle J.A., Anderson E.H. [and oth.]//Nature. 2005. Vol. 435. N. 7046. Pp. 1210-1213.
- Zone-doubling technique to produce ultrahigh resolution x-ray optics/Jefimovs K., Vila Comamala J., Pilvi T., Raabe J., Ritala M. [and oth.]//Phys. Rev. Lett., 2007. Vol. 99. N. 26. Pp. 264801.
- Fresnel zone plate imaging of gamma rays; theory/Barret H.H., Horrigan F.A.//Appl. Opt., 1973. Vol. 12. N. 11. Pp. 2686-2702.
