Сравнительный анализ испытаний электронной компонентной базы на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц на лазерных имитаторах и ускорителях ионов
Автор: Яненко Андрей Викторович, Чумаков Александр Иннокентьевич, Печенкин Александр Александрович, Савченков Дмитрий Владимирович, Тарараксин Александр Сергеевич, Васильев Алексей Леонидович
Журнал: Спецтехника и связь @st-s
Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.
Бесплатный доступ
Рассмотрены основные современные подходы для расчетно-экспериментальной оценки параметров чувствительности электрорадиоизделий (ЭРИ) к воздействию отдельных ядерных частиц (ОЯЧ) с использованием испытаний на моделирующих установках и лазерных имитаторах. В работе показано, что полный комплекс исследований стойкости ЭРИ к воздействию ОЯЧ следует проводить с использованием как моделирующих установок, так и лазерных имитаторов
Одиночные эффекты, тяжелые заряженные частицы, локальное лазерное излучение
Короткий адрес: https://sciup.org/14967054
IDR: 14967054
Список литературы Сравнительный анализ испытаний электронной компонентной базы на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц на лазерных имитаторах и ускорителях ионов
- Messenger G.C., Ash M.S. Single Event Phenomena. N.Y.: Chapman&Hall, 1997. -368 p.
- The Radiation Design Handbook. European Space Agency. ESTEC, Noordwijk, the Nederland, 1993. -444 p.
- Pickel C. Single event effects rate prediction./IEEE Trans. on Nucl. Sci., 1996. -V. 43. -№ 2. -P. 483 -495.
- Чумаков А.И. Действие космической радиации на ИМС. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
- Беляков В.В., Чумаков А.И., Никифоров А.Ю., Першенков В.С., Скоробогатов П.К., Согоян А.В. Расчетно-экспериментальные методы прогнозирования эффектов одиночных сбоев в элементах современной микроэлектроники./Микроэлектроника, 2003. -Т. 32. -№ 2. -С. 134 -151.
- Allen G. R. Compendium of Test Results of Single Event Effects Conducted by the Jet Propulsion Laboratory./2008 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record.
- Чумаков А.И. Однопараметрическая модель для оценки чувствительности ИС к эффектам одиночных сбоев при воздействии высокоэнергетичных протонов./Микроэлектроника, 2004. -Т. 33. -№ 2. -С. 122 -128.
- Pouget V. Fundamentals of laser SEE testing and recent trends./RALFDAY, 2009. -EADS France, Suresnes -11th September.
- Jones R. et al. Comparison between SRAM SEE cross-section from ion beam testing with those obtained using a new picosecond pulsed laser facility//IEEE Trans. on Nucl. Sci., 2000. -V. NS-47. -№4. -P. 539 -544.
- Чумаков А.И., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Яненко А.В. Возможности использования локального лазерного излучения для моделирования эффектов от воздействия отдельных ядерных частиц в ИМС./Микроэлектроника, 2004. -Т. 33. -№ 2. -С. 128 -133.
- Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Яненко А.В. Методика оценки параметров чувствительности ИС к тиристорному эффекту при воздействии отдельных ядерных частиц./Микроэлектроника, 2008. -Т. 37. -№ 1. -С. 45 -51.
- Анашин В.С., Емельянов В.В, Зебрев Г.И. и др. Программный комплекс «ОСОТ» для прогнозирования скорости одиночных сбоев в условиях компического пространства./Радиационная стойкость электронных систем -СТОЙКОСТЬ-2008. -М.: МИФИ, 2008. -С. 165 -166.
