Сравнительный анализ методов определения спектральной плотности мощности по ортогональной модели структурной функции
Автор: Прохоров С.А., Графкин В.В.
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Механика и машиностроение
Статья в выпуске: 3 т.10, 2008 года.
Бесплатный доступ
Спектральная плотность мощности является одной из распространенных характеристик в анализе случайных процессов и существует множество способов ее определения. В данной работе рассматриваются особенности определения спектра по ортогональной модели структурной функции в случае стационарности исследуемого процесса, а также когда рассматривается случайный процесс со стационарными приращениями.
Короткий адрес: https://sciup.org/148198146
IDR: 148198146
Текст научной статьи Сравнительный анализ методов определения спектральной плотности мощности по ортогональной модели структурной функции
Самарский государственный аэрокосмический университет
Спектральная плотность мощности является одной из распространенных характеристик в анализе случайных процессов и существует множество способов ее определения. В данной работе рассматриваются особенности определения спектра по ортогональной модели структурной функции в случае стационарности исследуемого процесса, а также когда рассматривается случайный процесс со стационарными приращениями.
Обработка случайных процессов (СП) во многих случаях требует определения спектра. Это относится как к стационарным (ССП), так и к нестационарным процессам (НСП). В случае стационарных процессов справедливо следующее выражение, связывающее корреляционную (КФ) и структурную функции (СФ) процесса [1]:
K x (т ) = - 1 [ S , ( Т ) - S , ( « ) ] . (1)
Необходимо отметить, что правая часть выражения (1) содержит уменьшенную в два раза и центрированную относительно значения в бесконечности структурную функцию (ЦСФ). Подставляя выражение (1) в формулу Винера-Хинчина [2], можно определить спектральную плотность мощности (СПМ) следующим образом:
1 7° g,(®) = -? f Sx (т)cos(®T )dT , (2)
2π 0
где S x (T ) = S , (T ) - S , ( 7 ).
Представляя модель ЦСФ в виде [3]
Sa ( T) = Z в к У к ( T , a ), (3)
к =0
где m – число членов разложения ряда;
βk – коэффициенты разложения;
ψk ( τ , α ) – семейство ортогональных функций ( α – параметр масштаба ортогональных функций), выражение (2) примет вид
1 m 7
g,®)= , Z в f^k (t)cos(®T) dT =
2п k =o J0 m , (4)
= -V Z в к Re W k ( j® )
2n Я
где Re Wk ( jω ) – вещественная часть частотной характеристики ортогональных фильтров [4].
В табл. 1 представлены выражения для определения СПМ в ортогональных базисах Лагерра, Лежандра и Дирихле.
Но выражение (4) позволяет определять СПМ только в случае стационарности СП, хотя структурная функция чаще является характеристикой случайных процессов со стационарными приращениями (СПСП), которые классифицируются, как вид НСП. Это
Таблица 1. СПМ в случае CСП
1 ГО ° gx (Ю) = ~---fSln( ®Т ) S' x (т)dт (5)
2 πω 0
°
;, ,. aSx(т )
где S' x (т) =----— дт
.
После математических преобразований выражение (5) примет вид [3]
1m k gx(а)э ЕekЕAk,s(а) • Bs(a,®). (6) 2п к =0 s=0
Ak , s ( α ) и Bs ( α , ω ) для различных базисов представлены в табл. 2.
Определение СПМ с помощью выражения (6) влечет за собой определенные ограничения на его использование: в состав этого выражения входят коэффициенты Ak , s ( α ), которые представляют собой алгебраические действия с факториалами чисел, пропорциональных числу членов разложения ряда (3). Таким образом, при относительно небольшом m (для функций Лагерра это число равно 2022 члена), во время вычисления Ak , s ( α ) происходит переполнение мантиссы числа, что приводит к некорректным результатам вычисления СПМ (рис. 1).
К определению выражения (5) можно


б)

в)
Рис. 1. СПМ при использовании выражения, содержащего факториалы: а) относительная погрешность аппроксимации ЦСФ 5 =0,079; m=19; базис:Лагерра;
б) относительная погрешность аппроксимации ЦСФ 5 =0,067; m=22; базис:Лагерра;
в) относительная погрешность аппроксимации ЦСФ 5 =0,061; m=24; базис:Лагерра
Таблица 2. Коэффициенты для СПМ
О S 1-9 |
A k , s ( α ) |
B s ( α , ω ) |
cd о cd ч |
( — 1) s a s • k ! ( к — s )!( s !)2 |
s !cos s ( ф )r . / x vs /[ sin ( s • ф ) [ a ] ® l 1 1 2 J — sln ( ( s + 1) ф ) • cos ( ф ) ] , . Г 2ю ) где ф = arctgl — 1 V a J |
cd Et S cd S о ч |
( — 1) s +1 (2 s + 1) a ^ ( к + s )! ( к — s )!( s !) 2 |
1 (2 s + 1) 2 a 2 + to1 |
о ч X S S |
( — 1) к — s +1 ( s + 1) a ^ ( к + s + 1)! ( к — s )!( s + 1)! s ! |
1 ( s + 1)2 a 2 + to ^ |
также применить иной подход. Применяя формула Эйлера и учитывая, что
д Lag к ( т , а )
д т
k
= Е С к ( — а ) ‘ 1 • s !
s =0
•
— ат s^—1 e 2
—
α 2 τse
ατ
,
где Lagk ( τ , α ) – ортогональная функция Ла-герра k-го порядка;
выражение (5) легко представить в виде
°
S a ( τ )

а)
Выполнив простейшие алгебраические преобразования и используя формулу бинома Ньютона, конечное выражение будет иметь вид
g x И =
cos ϕ πα
m
£ (-1)k+1 вк к=0
cos [ ( 2 к + 1) ^ ] , (9)
. I 2™ I где ф = arctgl I. V a ;
g x ( ω )
Полученное выражение может применяться для СПСП и не ограничивается числом членов разложения ряда ЦСФ. Пример использования выражения (9) приведен на рис. 2.
ω
б)
Рис. 2 . Пример определения СПМ без ограничений на модель ЦСФ:
а) ЦСФ и ее модель. 5 =0,0003; m=170; базис:Лагерра; б) СПМ, полученная по модели СПМ
gx ( ω )
4 jωπ
mk
£ в к £ C( - a s • к = 0 s = 0
/г
α
•
-
!( a + j™ ) s ( a + j® ) s + 1
-
-
-
α
\
(1 - j™)s (1 - И) s+1
Список литературы Сравнительный анализ методов определения спектральной плотности мощности по ортогональной модели структурной функции
- Рытов С.М. Введение в статистическую радиофизику. Часть 1. Случайные процессы. М.: Наука, 1976.
- Вентцель Е.С. Теория вероятностей. М.: Наука, 1969.
- Прохоров С.А., Графкин В.В. Аппроксимация структурных функций случайных процессов // Математическое моделирование и краевые задачи: М33. Труды Третьей dсероссийской научной конференции. Ч. 4: Математические модели в информационных технологиях. Самара: СамГТУ, 2006.
- Прикладной анализ случайных процессов / Под ред. Прохорова С.А. Самара: СамНЦ РАН, 2007.