Субволновая фокусировка с помощью зонной пластинки Френеля с фокусным расстоянием 532 нм
Автор: Стафеев Сергей Сергеевич, Офаолейн Лиам, Котляр Маргарита Иннокентьевна, Котляр Виктор Викторович, Сойфер Виктор Александрович
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии
Статья в выпуске: 4 т.35, 2011 года.
Бесплатный доступ
Изготовлена и исследована фазовая бинарная зонная пластинка с фокусным расстоянием 532 нм, радиусом 7,7 мкм и глубиной рельефа 510 нм. С помощью ближнепольного микроскопа показано, что при освещении пластинки линейно поляризованным Гауссовым пучком с длиной волны 532 нм формируется фокусное пятно с диаметром интенсивности по полуспаду, равным 0,44 от длины волны.
Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп, субволновая фокусировка лазерного света, фазовая зонная пластинка
Короткий адрес: https://sciup.org/14059039
IDR: 14059039
Subwavelength focusing using Fresnel zone plate with focal length of 532 nm
Using a near-field scanning optical microscope we measure a focal spot resulting from the illumination the phase zone plate with focal length 532 nm, radius 7,7 um and etch depth 510 nm by linearly polarized Gaussian beam with wavelength 532 nm. The diameter of focal spot equals to 0,44 of wavelength. The root-mean-square deviation of the focal spot intensity from the calculated value is 5%.
