Технология математической обработки результатов исследования проводимости ферритов в слабых электрических полях
Автор: Сартаев А.А., Жарлыгасова Э.З., Лифенко В.М.
Журнал: Теория и практика современной науки @modern-j
Рубрика: Физика и астрономия
Статья в выпуске: 5 (59), 2020 года.
Бесплатный доступ
Работа содержит результаты проведенных измерений полевой и температурной зависимости проводимости ферритов в интервале температур 275-298 К. Во время проведения эксперимента наблюдался рост проводимости образцов в электрических полях, превышающих величину напряженности 3*103 В\м.
Ферриты, проводимость, неоднородный, полупроводник
Короткий адрес: https://sciup.org/140275488
IDR: 140275488
Текст научной статьи Технология математической обработки результатов исследования проводимости ферритов в слабых электрических полях
Ферритовые сердечники функционируют в различных электронных устройствах [1]. Магнитные свойства ферритов находятся во взаимосвязи с их проводимостью [1,2]. В ряде работ выявлена экспоненциальная зависимость проводимости ферритов от температуры. Поэтому методика изучения кинетики проводимости в слабых и сильных электрических полях ферритовых материалов является информативной и позволяет разработать технологию получения материалов с заданными электронными характеристиками и прогнозировать стабильность магнитных характеристик в течении времени эксплуатации электронного устройства.
Методика эксперимента.
Исследование проводимости магнитного материала в зависимости от величины напряженности приложенного электрического поля в температурном интервале 275-298К проводилось на промышленных ферритовых образцах U-образной формы, применяемых для изготовления синфазных дросселей в кинескопах персональных компьютеров.
Таблица 1
Дано |
Решение |
|||||
1*10л-3 (А |
U (В) |
E=U/d В/см |
||||
Ь= 0,95 |
и«= |
1.1 |
Е,= |
5,5 |
||
к= 1,46 |
U2= |
1.6 |
Е2= |
8 |
||
к= 2,75 |
иг= |
2.8 |
Е»= |
14 |
||
к= 3,86 |
и»= |
3,8 |
Е*= |
19 |
||
ls= 5,56 |
Us= |
5 |
Е$= |
25 |
||
L= 7.8 |
и6= |
6.5 |
Е6= |
32,5 |
||
!,= 9,31 |
и7= |
7 4 |
Е7= |
37 |
||
1в= 9,66 |
Ug= |
7,6 |
Ев= |
38 |
На свежеотшлифованные и промытые в спирте образцы правильной геометрической формы осаждались медные контакты по планарной технологии с зазором, равным двум миллиметрам. Электрические параметры снимались посредством серебряных контактов при комнатной температуре и при нагреве с постоянной скоростью в слабых электрических полях напряженностью равной 2*103 В/м Величина падения напряжения на образце и протекающий ток регистрировалась при помощи вольтметра и миллиамперметра.. Медные контакты, нанесенные по планарной технологии, имели правильную геометрическую форму. На рисунке 1 представлена зависимость I(U) для образца марки 17L7M224.
Зависимость I от U

Рисунок 1. Зависимость I(U) для образца марки 17L7M224
Расчет напряженности электрического поля приложенного к образцу выполнен на базе пакета прикладных программ MS Office. Применение метода «наименьших квадратов» позволило определить уравнение связи между током и напряжением, проводимостью и напряженностью.
При малых электрических полях зависимость тока от напряжения имела характер близкий к линейному. При напряженности постоянного электрического поля превышающей величину 3*103 В/м линейность нарушалась
Для определения угла наклона линейного участка и расчета погрешности полученных экспериментальных значений (Таблица 2) разработан алгоритм [2] на базе пакета прикладных программ среды EXCEL с использованием метода «наилучшей прямой» [3]. Методологическая погрешность для различных образцов в исследуемом температурном интервале варьировалась от 3,6 до7,0%. ВАХ снимались при 298К на трех идентичных образцах методом амперметра-вольтметра. Использовали источник питания со стабилизацией по напряжению и защитой от короткого замыкания. Величина напряжения варьировалась в пределах от 0,1 до14,2 В. Образец находился в темном стеклянном термостате.
Таблица 2
М1,3=А1,3-Аср ДА2,4=А2,4-Аср ДАЗ,5=АЗ,5-Аср |
-0,12654 ААср=(ДЛ1,3+ДЛ2,4+ДЛЗ,5)/3 Е=ДЛср/Аср -0 09446 0.043030303 0.036301 0,091907 |
Дано X=l/U Xi=li/Ut= X2 = lz/Uz= Х$=1з/и$= х^.—1^/и^= Xs=l5/Us= Хв— Ib/U6= Xv=IVUt= Хв=1 b/Ub= |
Решение 0,863636 Xl,3=(ii-u)/(Ui-u3) 1,058823529 Аср=(м,з^Л2,4*лз,5)/3 0,9125 A2,4=(lz-U)/(Uz-U«) 1.090909091 1.22 1.185365 0.982143 A3.5=(I^I,)/(U*-U1) 1.277272727 1.015789 1.112 1.2 1.258108 1.271053 |
При высоких значениях электрического поля наблюдался рост проводимости материала. Изотермическая релаксация проводимости и температурная зависимость проводимости в слабых полях позволяет рассчитать параметры потенциального рельефа.
Заключение:
Наличие сублинейного участка на вольтамперной характеристике и долговременное увеличение проводимости при 298К в полях превышающих величину 3*103 В\м может свидетельствовать о наличии неоднородностей в исследуемых образцах. Что характерно для поликристаллов. Это позволяет использовать случайно-неоднородную барьерную модель полупроводниковых поликристаллов для описания электронных свойств ферритов данного типа.
Список литературы Технология математической обработки результатов исследования проводимости ферритов в слабых электрических полях
- И.И.Кифер и В.С.Пантюшин, Испытание ферромагнитных материалов, Госэнергоиздат (1955)
- Л.И.Рабкин "Высокочастотные ферромагниты" М.:1960
- Я.Смит, Х.Вейн/ Ферриты, Физические свойства и практические применение п/ред. Ю.П.Ирхина М.: 1962