Оптика УДК: 535

Обеспечение температурной устойчивости параметров компенсатора эллипсометра

Бобро В.В.

О принципах и подходах к автоматизации высокочувствительных лазерных методов количественного поляризационно-оптического анализа

Фофанов Я.А., Бардин Б.В.

Развитие эллипсометрии

Дронь О.С.

Cистемный подход к энергетическому расчету фотометрического прибора

Кувалдин Э.В.

Фотометры для измерения коэффициентов отражения природных объектов в спектральной области излучения солнца

Кувалдин Э.В.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 1. Общее описание основных направлений исследования

Семененко А.И.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 2. О роли углов полной поляризации в эллипсометрии

Семененко А.И., Семененко И.А.

Модифицированный масс-рефлектрон

Голиков Ю.К., Краснов Н.В., Бубляев Р.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 3. Методы прецизионного определения параметров фазового компенсатора эллипсометра

Семененко А.И., Семененко И.А.

Разработка методик дозиметрирования диапазонов А, В и С ультрафиолетового излучения солнца

Котликов Е.Н., Кузнецов Ю.А., Лавровская Н.П., Прилипко В.К., Прокашев В.Н.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 4. Исследование относительно толстых прозрачных пленок и нарушенных поверхностных слоев на прозрачных материалах

Семененко А.И., Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 5. Углы полной поляризации в эллипсометрии поглощающих сред

Семененко А.И., Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 6. Эллипсометрия многослойных поглощающих систем. Основные положения

Семененко А.И., Семененко И.А.

Иммерсионные линзы в аксиально-симметричных электростатических системах сферического секторного дефлектора с пространственной фокусировкой второго порядка

Белов В.Д.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 7. Определение оптических постоянных объемных материалов. Метод последовательного неразрушающего восстановления оптического профиля поверхности

Семененко А.И., Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 8. Эллипсометрия анизотропных сред. Метод обобщенных измерительных зон

Семененко А.И., Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 9. О возможностях регулирования и стабилизации параметров фазового компенсатора эллипсометра

Семененко А.И., Семененко И.А.

Дифференциальная регистрация поляризационно-модулированных оптических сигналов

Соколов И.М., Фофанов Я.А.

Флуктуации сигнала оптического двулучепреломления в измерениях с глубокой модуляцией поляризации

Соколов И.М., Фофанов Я.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 11. Проблема повышения точности в "нулевой" эллипсометрии. Определяющая роль измерительных конфигураций прибора

Семененко А.И., Семененко И.А.

О нелинейных эффектах в условиях резонансного ПВО

Фофанов Я.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 12. Способы экспериментального определения положений гашения оптических элементов

Семененко А.И., Семененко И.А.

Оптические пленкообразующие материалы для инфракрасной области спектра

Котликов Е.Н., Кузнецов Ю.А., Лавровская Н.П., Тропин А.Н.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 13. Обобщение теории инвариантов. О выборе измерительных конфигураций в эллипсометрии анизотропных сред

Семененко А.И., Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 14. Межзонный разброс поляризационных углов как метрологический критерий. О влиянии различных факторов

Семененко А.И., Семененко И.А.

Снижение флуктуаций резонансно-отраженного света

Фофанов Я.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 15. Метрология "нулевой" эллипсометрии. Фактор оптической юстировки фазового компенсатора

Семененко А.И., Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 16. Метрология "нулевой" эллипсометрии. О способах определения полного набора комплексных параметров фазового компенсатора

Семененко А.И., Семененко И.А.

Оптимизация оснастки вакуумной камеры при изготовлении оптических покрытий

Котликов Евгений Николаевич, Иванов В.А., Прокашев В.Н., Тропин А.Н.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 17. Метрология "нулевой" эллипсометрии. Об особенностях эксперимента по определению параметров фазового компенсатора

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А.

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 18. Метрология "нулевой" эллипсометрии. Об экспериментальной аттестации оптических элементов прибора

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А., Мельник С.С.

Измерение температуры объектов с неизвестной излучательной способностью методом спектральной пирометрии

Магунов Александр Николаевич

О новых возможностях метода эллипсометрии, обусловленных "нулевой" оптической схемой. Эллипсометрия реальных поверхностных структур. 19. О выборе оптимального решения обратной задачи при исследовании сверхтонких поверхностных пленок

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А.

Исследование поверхностной структуры твердых тел и жидкостей методом эллипсометрии с учетом математической некорректности обратной задачи. 1. Об особенностях обратной задачи при исследовании сверхтонких поверхностных пленок на полупроводниках

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А.

Резонансно-оптические методы исследований нелинейных субмикронных границ раздела (обзор)

Фофанов Яков Андреевич

Измерение длины волны источников излучения эллипсометрическим методом

Марин Д.В., Федоринин В.Н., Хасанов Тохир

Исследование поверхностной структуры твердых тел и жидкостей методом эллипсометрии с учетом математической некорректности обратной задачи. 2. О способах определения всех параметров отражающей системы - прозрачной сверхтонкой поверхностной пленки на полупроводниковой подложке

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А.

О возможности улучшения характеристик планарных бессеточных ионных зеркал

Помозов Т.В., Явор Михаил Игоревич

Исследование поверхностной структуры твердых тел и жидкостей методом эллипсометрии с учетом математической некорректности обратной задачи. 3. Об определении всех параметров полупроводников со сверхтонкими окисными пленками на основе реального эксперимента

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А.

Исследование поверхностной структуры твердых тел и жидкостей методом эллипсометрии с учетом математической некорректности обратной задачи. 4. Об особенностях процесса минимизации функционала обратной задачи для полупроводников с прозрачными сверхтонкими пленками

Семененко Альберт Иванович, Семененко И.А.

Оптика - 535

Научные статьи