Влияние фотонной обработки и температуры на проводимость In 2O 3 пленок, полученных автоволновым окислением

Тамбасов И.А. Немцев И.В. Савранский Д.С. Мацынин А.А. Ежикова Е.В.

Журнал: Сибирский аэрокосмический журнал @vestnik-sibsau

Рубрика: Математика, механика, информатика

Статья в выпуске: 3 (49), 2013 года.

Бесплатный доступ

Пленки оксида индия были синтезированы автоволновой реакцией окисления на покровном стекле, кварце и монокристалле MgO. Толщина пленки измерялась с помощью режима «cross-section» сканирующего электронного микроскопа и составляла ~300 нм. Оптическая ширина запрещенной зоны оксида индия была ~3.5 эВ. Исследования сопротивления In 2O 3 пленки от температуры в теневых условиях показали, что при нагревании до 100 0С сопротивление увеличивается на ~10 %. Показано, что при фотооблучении происходит резкое уменьшение электрического сопротивления пленок, максимальное изменение которого составило 52 % при комнатной температуре. Определены две скорости релаксации сопротивления пленок после прекращения облучения 15 Ом/сек первые 30 сек и 7 Ом/сек в остальное время. Сделано предположение, что фотовосстановление является доминирующим механизмом, ответственным за изменения проводимости пленок.

тонкие пленки \ оксид индия \ автоволновое окисление \ ультрафиолетовое облучение

Похожие статьи в разделе Физика конденсированного состояния (жидкое и твердое состояние)

Электрические неустойчивости в тонкопленочных структурах на основе оксидов молибдена
Электрические неустойчивости в тонкопленочных структурах на основе оксидов молибдена

Малиненко Владимир Пантелеймонович, Пергамент Александр Лионович, Горбаков Александр Олегович

Получение оптически прозрачных токопроводящих покрытий термическим испарением
Получение оптически прозрачных токопроводящих покрытий термическим испарением

Ярмонов Андрей Николаевич, Ларионов Дмитрий Денисович, Яхиханов Рустам Русланович

Влияние электрополевого воздействия на свойства тонких пленок гидратированного пентаоксида ванадия
Влияние электрополевого воздействия на свойства тонких пленок гидратированного пентаоксида ванадия

Березина Ольга Яковлевна, Кириенко Дмитрий Александрович, Клочкова Татьяна Александровна, Яковлева Дарья Сергеевна

Рентгеновский фотоэлектронный анализ анодных пленок оксида ванадия
Рентгеновский фотоэлектронный анализ анодных пленок оксида ванадия

Величко Андрей Александрович, Борисков Петр Петрович, Черемисин Александр Борисович, Стефанович Генрих Болеславович

Короткий адрес: https://sciup.org/148177089

IDS: 148177089   |   УДК: 538.9

The impact of the photon processing and temperature on the conductivity of In 2O 3 films produed with autowave oxidation

Indium oxide films were synthesized by auto-wave oxidation reaction on the cover glass, quartz and single crystal MgO. The film thickness was measured with a mode «cross-section» scanning electron microscope and was ~ 300 nm. Optical band gap of indium oxide was ~3.5 eV. The study of In2O3 film resistance versus temperature in the dark conditions showed that when heated to 100 °C the resistance increases by about 10 %. It is shown that the_ films electric resistance decreases sharply under photo radiation and the maximum change was 52 % at room temperature. The two film resistance relaxation rates after irradiation have been determined to be 15 Ohm/s the first 30 seconds and 7 Оhm/s f for the rest, respectively. On the basis of the above stated the authors suggest that the photo reduction is the dominant mechanism responsible for the changes in conductivity of In 2O 3 films.