Влияние электрического режима на уровень дозовой стойкости аналоговых коммутаторов
Автор: Бойченко Дмитрий Владимирович, Кессаринский Леонид Николаевич, Печенкина Дарья Витальевна
Журнал: Спецтехника и связь @st-s
Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.
Бесплатный доступ
Исследованы особенности влияния режима облучения на радиационное поведение аналоговых ключей и коммутаторов (АКК). Показано существенное влияние режима на уровень радиационной стойкости АКК.
Дозовый эффект, облучение, аналоговый коммутатор
Короткий адрес: https://sciup.org/14967056
IDR: 14967056
Список литературы Влияние электрического режима на уровень дозовой стойкости аналоговых коммутаторов
- Total-Ionizing-Dose Effects in Modern CMOS Technologies/Barnaby H.J.//IEEE Trans. Nucl. Sci., 2006. -Vol. NS-53. -№ 6. -PP. 3103 -3121.
- Radiation-induced edge effects in deep submicron CMOS transistors/Faccio F., Cervelli G./IEEE Trans. Nucl. Sci., 2005. -Vol. NS-52. -№ 6. -PP. 2413 -2420.
- Enhanced TID Susceptibility in Sub-100 nm Bulk CMOS I/O Transistors and Circuits/Barnaby H.J., Holbert K.E., McLain M. et al//IEEE Trans. Nucl. Sci., 2007. -Vol. NS-54. -№ 6. -PP. 2210 -2217.
- Никифоров А.Ю., Телец В.А., Чумаков А.И. Радиационные эффекты в КМОП ИС. -М.: Радио и связь, 1994. -164 с.
- Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
- Бойченко Д.В., Братко Д.В., Кессаринский Л.Н. Исследование радиационного поведения стабилизаторов напряжения разного типа./Научная сессия МИФИ-2008. Сб. науч. трудов. Т. 8 -М.:МИФИ, 2008. -С.59 -60.
- Кессаринский Л.Н., Бойченко Д.В., Шведов С.В. Сравнительное исследование радиационного поведения аналоговых ИС./Электроника, микро-и наноэлектроника. Сб. научн. трудов/Под ред. В.Я. Стенина. -М.: МИФИ, 2007. -С.272 -275.
- Методы прогнозирования эффектов полной дозы в элементах современной микроэлектроники./Чумаков А.И., Никифоров А.Ю., Скоробогатов П.К. и др. -Микроэлектроника, 2003. -Том 32. -№ 1.
- Методы испытаний на стойкость к воздействию радиационных факторов космического пространства и импульсную электрическую прочность./Никифоров А.Ю., Чумаков А.И., Скоробогатов П.К., Телец В.А., Улимов В.Н. и др./Модель космоса. Научно-информационное издание. -В 2 т. -Т.2: Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов. -М.: КДУ, 2007
Статья научная
