Влияние сопротивления лицевого слоя солнечного элемента на выходные характеристики устройства
Автор: Логинов Ю.Ю., Брильков А.В., Мозжерин А.В.
Журнал: Сибирский аэрокосмический журнал @vestnik-sibsau
Рубрика: Авиационная и ракетно-космическая техника
Статья в выпуске: 1 т.16, 2015 года.
Бесплатный доступ
Рассмотрено влияние сопротивления лицевого слоя солнечного элемента (СЭ) на выходные характеристики устройства. Солнечные элементы активно используются в производстве солнечных батарей космических аппаратов, и эффективность работы СЭ влияет на время жизни изделия. В настоящее время прилагаются значительные усилия для увеличения эффективности солнечных элементов (СЭ). Минимизация сопротивления n + -канала позволяет улучшить качество СЭ при длительной эксплуатации изделия, например, в условиях радиационного воздействия в космосе. Поэтому интересно рассмотреть более точные модели учета влияния омических потерь n + -канала на вольт-амперные характеристики СЭ. На основе дифференциальных уравнений для распределения потенциалов и токов в лицевом n + -слое солнечных элементов n + -p-типа получено выражение для их вольт-амперных характеристик (ВАХ) в зависимости от параметров лицевого слоя. Это позволило уточнить влияние сопротивления лицевого n + -слоя (R) на выходные характеристики СЭ (I кз , V хх , коэффициент заполнения), связав их с параметрами n + -p-перехода. Предложен простой алгоритм численного решения указанных уравнений с расчетом ВАХ СЭ. Показано, что при сопротивлении лицевого слоя R > R п (~ 4 Ом/см 2 ) ток короткого замыкания (I кз ) и коэффициент заполнения () уменьшаются обратно пропорционально, а при R п ВАХ практически не зависит от R. Полученные результаты могут быть использованы при анализе работы солнечных батарей космических аппаратов.
Солнечные элементы, вольт-амперная характеристика, сопротивление лицевого слоя, p-n-переход, ток короткого замыкания
Короткий адрес: https://sciup.org/148177394
IDR: 148177394
Текст научной статьи Влияние сопротивления лицевого слоя солнечного элемента на выходные характеристики устройства
Ведение. Солнечные элементы широко используются в космических аппаратах [1-12]. Одной из важнейших задач технологии солнечных элементов (СЭ) с лицевым n +-слоем является уменьшение омических потерь этого слоя на фоне других факторов, ухудшающих рабочие параметры СЭ.
Обычное выражение для ВАХ СЭ [11-14]:
I C =- I pn + I v , |
(1) |
|
где |
Г q ( V + I c R ) > |
|
где |
I pn = 1 0 e 0 - 1 V 7 |
, (2) |
0 = кТ ; R = p 1 1 ; w1 2 |
(3) |
R - сопротивление лицевого слоя; р - его удельное сопротивление; w - толщина; 1 1 - длина (от середины n +-слоя до собирающего электрода); 1 2 -протяженность собирающего электрода; I v - фототок СЭ при R = 0; Ipn - обратный ток из n +-канала в p -область; I 0 - обратный темновой ток p-n -перехода.
Уравнения (1), (2) отражают модель, в которой сопротивление лицевого слоя учтено как последовательно соединенное с p-n +-переходом сопротивление.
Минимизация сопротивления n +-канала должна осуществляется самосогласованно с конструкцией СЭ, обеспечивать максимальную прозрачность лицевого слоя для проникновения в p -область света, а главное, не ухудшать это качество при длительной эксплуатации СЭ, например, в условиях радиационного воздействия в космосе.
В связи с этим интересно рассмотреть более точные модели учета влияния омических потерь n +-канала на вольт-амперные характеристики СЭ.
Влияние сопротивления n +-канала на вольт-амперные характеристики СЭ. В [13-15] показано, что для расчета вольт-амперных характеристик СЭ с n +-каналом, необходимо использовать уравнения рассредоточенных токов j ( x ) и потенциалов ф ( x ) в канале. Учитывая, что возрастание тока а / ' на пути А х в канале обусловлено притоком электронов из p -области - I ф 1 2 А x , запишем:
j = 121ф, (4) dx где 12 - протяженность собирающего электрода,
Iф = - Ipn + Iv; (5)
qφ rpn = Iо e 0 -1 .
Аналогичным образом для падения напряжения в n-канале запишем dФ = - R/(7)
dx1
Из (7) получим:
1 1 1
Аф = (-V + фо ) = R- J j(x) dx.
' 1 о
Решение уравнений (4)-(7) будем рассматривать с учетом граничных условий:
j = 0, ф = ф 0 при x = 0
j = I , ф = V при x = 1 1
где ф 0 - потенциал середины n +-слоя.
Влияние сопротивления лицевого слоя на параметры СЭ можно проанализировать с помощью компьютерного интегрирования уравнений (5)-(7). Для этого преобразуем их по методу конечных разностей, превратив их в следующие рекуррентные отношения:
Jk + 1 = Jk + 1 ф (Ф к ) А к , (10)
Ф к + 1 = Ф к — R/ k А к , (11)
где
Г q-.
I ф (Ф к ) = I v - 1 0 e 0 - 1
Систему рекуррентных соотношений (10)-(12) будем решать при граничных условиях:
jk = 0, ф к = ф 0 при к = 0 ( x = 0)
. (13) j N = I , Ф N = V при к = N ( x = 1 1 )
Здесь N А к =1, 1 1 = N A x , N - число разбиений участка 1 1 на элементы A x . При этом (как и выше) здесь и ниже токи Iv , I 0, I ф , jk и сопротивление R будем относить к единице освещенной поверхности СЭ так, что 1 1 1 2 = 1.
При этом ф0 (потенциал середины n +-слоя) так же, как и все jk и ф к , независимы, а Iv , I 0, R и 1 1 являются параметрами модели, от которых следует изучить зависимость ВАХ СЭ.
С учетом нелинейности уравнения (12) решение уравнений (10), (11) требует нестандартного подхода. В нашем случае задача существенно упрощается, если ф0 рассматривать как аргумент, от которого выходные ток jN = I и напряжение ф0 = V зависят параметрически.
Из физических соображений следует, что ф0 лежит в интервале фкз < ф0 < Vxx. Каждому ф0 в этом интервале однозначно соответствует своя пара значений фN = V и jN = I, совокупность которых и образует ВАХ СЭ. При этом фкз определяется как то значение ф0, при котором V = 0 и I = Iкз.
На рис. 1 показана серия ВАХ, рассчитанных для типичных СЭ с параметрами Iv = 25 мА/см2 и Vxx = 0,6 В и различающимися сопротивлениями лицевого слоя R (на рис. 1 приведены кривые для различных 1 1 , так как R ~ 1 1 ).
Для анализа результатов рассмотрим уравнения (4)-(7) интегрированием их отношения:
JdJ = - 1 1 Ф (Ф) d Ф. (14)
R
Здесь и ниже положено 1 1 1 2 = 1, и поэтому I ф , I v , I , а также R будут рассматриваться на единицу освещаемой поверхности СЭ.
Учитывая (5), интегрирование (14) дает
2, j =х[Ф(Фо) — Ф(Ф)], R
На рис. 1 видно, что при R < Rn ~ 4 Ом/см2 вольт-амперная характеристика СЭ приближается к идеальной, у которой I кз не зависит от R . В то же время при R > Rn эти параметры уменьшаются обратно пропорционально RR в полном соответствии с (19) и (20).
Необходимо отметить, что при больших расстояниях между электродами в середине межэлектродного пространства даже при токе короткого замыкания должна существовать «нейтральная» зона, в которой фототоки сбалансированы обратными токами из n +-канала в базовую p -область. Протяженность этой части канала будет определяться из условия j ( x = 1 1 -- X) = y I , где y << 1 — величина, задающая требуемую точность расчетов (~0,01), X - протяженность активного участка канала, прилегающего к электродам, в котором собирается основная часть фототока.
Если на этом (11 - X < x < 11) участке n+-канала пренебречь обратными токами, то возрастание тока в n+-канале в X-области будет происходить по линейному закону, и тогда, как не трудно показать с помощью (8), где
Ф (ф) = ( I v + I о )ф-- q
^
e ®
- 1 1 0 .
Здесь ф 0 (как и выше) - потенциал середины ( x = 0) n +-слоя. Это уравнение справедливо и для x = 1 1 , где j = I и ф = V . При этом для ВАХ СЭ получается следующее уравнение:
1 2 = - [Ф (Ф 0 ) -Ф ( V ) ] ,
R
I 2 = - Аф
R
qV
I v + I 0 - I 0 e ® F (а)
где q . eа -1
Аф = фо - V , а = —Аф, F (а) =-----. (17)
0 а
В этих уравнениях фигурирует параметр ф 0, для определения которого можно использовать уравнение (7) в интегральной форме:
7 d Ф
R = ----.
V j (Ф)
Из (15) и (16) устанавливается следующая связь между ф кз и I К з :
I к 2 3 = 2- Ф (фкз). (19)
R
При больших R R —— максимальное значение I I кз )
I 2 достигается при ф ~ Vxx и согласно (19) зависит от R по закону
I КЗ = — Ф(фк з). кз кз
I V» I
В то же время при малых R I R << — I величина
I I кз )
фкз « — RIK3 кз 2 кз
и поэтому I кз ~ Iv , т. е. слабо зависит от R .
А ф = X1 RI . (21) ' 1 2
Здесь величина v = X/ 1 1 представляет собой долю активной части лицевого слоя СЭ. Она зависит не только от 1 1 (точнее - от R ), но и от выходных тока и напряжения СЭ. Пользуясь численными методами, изложенными выше, мы рассчитали Аф и v = Аф/^ ZR в зависимости от I и V серии СЭ с разными R . Результаты расчетов представлены на рис. 2.
Из этих расчетов видим, что в хорошем приближении ВАХ СЭ приближается к идеальной ( v ~ 1) при R < R n , где R n = 4 Ом/см2. В то же время при R > Rn область идеальности уменьшается в сторону меньших выходных напряжений ( V < Vn , где Vn = 0,45 В для R = 6 Ом/см2 и Vn = 0,22 В для R = 25 Ом/см2) и, следовательно, больших токов. Параметр неидеальности v связан с коэффициентом заполнения ВАХ СЭ n = I m V m / 1 кз V™ , где I m V m -максимальная мощность выходного тока при заданных Iv и Vxx . Расчет показывает, что V m ~ Vn , так что определение Vn и, соответственно, I m очень важно для оптимизации электрических режимов эксплуатации СЭ.
Заключение . Таким образом, с учетом распределения потенциалов и токов в лицевом n +-слое солнечных элементов n +- p -типа получено выражение для их вольт-амперных характеристик в зависимости от параметров лицевого слоя. Проведенный анализ уравнений (4)-(8) позволил представить уравнение ВАХ СЭ в новой форме, более точно описывающей зависимость выходных параметров СЭ от R , а также от характеристик p - n -перехода. Показано, что при сопротивлении лицевого слоя R > Rn (~4 Ом/см2) ток короткого замыкания ( I кз) и коэффициент заполнения ( п ) уменьшаются обратно пропорционально RR , а при R < Rn ВАХ практически не зависит от R . Сопротивление лицевого слоя солнечного элемента влияет на вольт-амперные характеристики. В условиях космоса деградация параметров СЭ происходит в значительной степени из-за возрастания сопротивления лицевого n +-слоя, пересыщенного донорами в условиях облучения.

Рис. 1. Расчетные ВАХ для СЭ с I ф = 25 мА/см2 и Vхх = 0,6 В

Напряжение, В а
—♦— 0,00625
0,25
6,25

Рис. 2. Зависимость ν от V ( а ) и I ( б ) для разных значений R ( l 1)
Список литературы Влияние сопротивления лицевого слоя солнечного элемента на выходные характеристики устройства
- Филачев А., Таубкин И., Тришенков М. Твердо-тельная электроника. М.: Физматкнига, 2007. 384 с
- Kronik L., Shapira Y. Surface photovoltage phenomena theory, experiment, and applications. Elsevier Ltd, 1999. 206 p
- Clean electricity from photovoltaics/Edited by M. Archer, R. Hill. London: Imperial College Press, 2001. 868 p
- Luque A., Hegedus S. Handbook of Photovoltaic Science and Engineering. John Wiley&Sons, 2003. 1179 p
- Markvart T., Castafier L. Practical Handbook of Photovoltaics: Fundamentals and Applications. Elsevier Ltd, 2003. 1015 p
- Байерс Т. 20 конструкций с солнечными элементами. М.: Мир, 1988. 197 с
- Мейтин М. Фотовольтаика: материалы, технологии, перспективы//Электроника-НТБ. 2000. № 6. С. 40-47
- Härkönen J. Processing of High Efficiency Silicon Solar Cells. Helsinki: Helsinki University of Technology, 2001. 106 p
- Luque A. Handbook of Photovoltaic Science and Engineering. 2nd Edition. Wiley, 2010. 1162 p
- Würfel P. Physics of Solar Cells: From Basic Principles to Advanced Concepts. Weinheim: Wiley-VCH Verlag, 2010. 241 p
- Зи С. Физика полупроводниковых приборов. М.: Мир, 1984. 456 c
- Колтун М. Солнечные элементы. М.: Наука, 1987. 192 c
- Васильев А. М., Ландсман А. П. Полупроводниковые фотопреобразователи. М.: Сов. радио, 1971. 248 с
- Фаренбрук А., Бьюб Р. Солнечные элементы (теория и эксперимент). М.: Энергоатомиздат, 1987. 280 с
- Nelson J. The Physics of Solar Cells. London: Imperial College Press, 2003. 384 p