Влияние спектра полупроводникового лазера на ФРТ дифракционного микрообъектива для лазерной считывающей головки

Рассчитываются и экспериментально исследуются допустимое уширение спектра и сдвиг длины волны излучения п/п лазера, которые не влияют существенно на качество изображения точки дифракционного микрообъектива. Сообщается, что при выполнении критерия Марешаля расчетноезначение сдвига длины волны равно ±32 Ǻ, а допустимая ширина спектра источника 30Ǻ. Показывается, что при работе с одномодовым п/п лазером функция отклика дифракционного микрообъектива мало отличается от функции рассеяния точки при работе с He-Ne лазером.