Возможности алгоритма сверток с производными для оценки параметров масс-спектров, содержащих наложившиеся пики
Автор: Манойлов В.В., Заруцкий И.В.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Обработка и анализ сигналов
Статья в выпуске: 4 т.19, 2009 года.
Бесплатный доступ
Рассматриваются результаты исследования возможностей алгоритма сверток исходного сигнала со второй и четвертой производными функций, описывающих форму спектральных линий. Приводятся погрешности оценок амплитуд, положений и ширин спектральных пиков после проведения процедуры разделения наложившихся пиков для сигналов с разными значениями дисперсии шума, разными значениями амплитуд в наложившихся пиках и разными расстояниями по шкале масс отдельных пиков в мультиплетах. Исследование проведено с помощью вычислительного эксперимента с использованием компьютерных моделей масс-спектрометрических сигналов, искаженных шумами для мультиплетов с различными амплитудами отдельных пиков и различными расстояниями между ними.
Методы обработки сигналов, масс-спектрометрия, оценка параметров пиков в мультиплетах, анализ погрешностей алгоритмов обработки данных
Короткий адрес: https://sciup.org/14264618
IDR: 14264618
Текст научной статьи Возможности алгоритма сверток с производными для оценки параметров масс-спектров, содержащих наложившиеся пики
Рассматриваются результаты исследования возможностей алгоритма сверток исходного сигнала со второй и четвертой производными функций, описывающих форму спектральных линий. Приводятся погрешности оценок амплитуд, положений и ширин спектральных пиков после проведения процедуры разделения наложившихся пиков для сигналов с разными значениями дисперсии шума, разными значениями амплитуд в наложившихся пиках и разными расстояниями по шкале масс отдельных пиков в мультиплетах. Исследование проведено с помощью вычислительного эксперимента с использованием компьютерных моделей масс-спектрометрических сигналов, искаженных шумами для мультиплетов с различными амплитудами отдельных пиков и различными расстояниями между ними.
Кл. сл. : методы обработки сигналов, масс-спектрометрия, оценка параметров пиков в мультиплетах, анализ погрешностей алгоритмов обработки данных
ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ
Большинство масс-спектрометрических пиков можно описать гауссовой функцией. Как известно, пик гауссовой формы описывается формулой
S 2 ( t ) =
t
V цо
- 1 I exp
f t2 A
-yr I,
V 2 ц J
S 4 ( t ) =
S ( t ) = A • exp
( t t max )
2 ц 2 J
где А — амплитуда пика; µ — – полуширина пика; t — независимая переменная; t max — положение вершины на оси независимой переменной .
Как отмечалось в работах [1–4], масс-спектр можно рассматривать как сумму суперпозиции пиков гауссовой формы. Предположим, что независимая переменная t меняется непрерывно на вещественной оси (- да , да ). Таким образом, полезная составляющая спектра равна
Y ( t ) = Е A s • exP s
( t t max s )
2 Ц 2
,
где s — номер пика в спектре; A s — амплитуда s -го пика спектра; µ s — полуширина s -го пика; t max s — положение вершины s -го пика спектра.
Рассмотрим подробнее алгоритм оценки параметров масс-спектрометрических пиков, основанный на вычислении сверток с производными четных порядков гауссовых пиков. Выпишем формулы производных гауссианы второго и четвертого порядков:
V Ц
6 t 2 7
+ 3 I exp Ц J
f t 2 A
-yr I.
V 2ц 2 J
В формулах (3) и (4) через µ 0 обозначена полуширина пика в функции, описывающей форму пика. Эти функции "подобны" пику в том смысле, что имеют экстремумы при t = 0.
Теперь рассмотрим свертки – S 2 ( t ) и S 4 ( t ) с отдельно взятым пиком:
. да f t 2 V ,
У 2 ( т ) = - Aj exp I УТ S 2 ( T - t )d t , (5)
-да v 2 ц 2 j
. да f t 2 Y,
У 4 ( T ) =- A l exp l -^ S 4 ( T - t )d t .
-да V 2 ц 2 J
В формулах (5) и (6) µ — полуширина пика в исходном сигнале, A — амплитуда пика в исходном сигнале. Взяв интегралы, получим:
У 2 ( т ) = А ц п V2/ [ 1 + ( Ц Ц о ) 2 У x
x[(1- T 7 (ц2+ц2 ))• exp (-T 7 (ц2+ц2))], (7)
У 4 ( т ) = Ацп12/ [ 1 + ( цц о ) 2 У x x ( 3 - 6 т 2/ ( ц 2 + ц2 ) ) +
+ Т 4/ ( ц 2 + Ц 2 ) 2 ■ exp ( — т 2/ ( ц 2 + ц 2 ) ) . (8)
Из формул (7) и (8) следует:
-
• при т = 0 у 2( т ) и у 4 ( т ) имеют абсолютный максимум;
-
• у 2 (0) / у 4 (0) = [1 + ( ц / Ц о )2] / 3;
-
• если у обеих сверток в одной и той же точке имеются максимумы, то это значит, что на экспериментальной кривой в этом месте расположен пик, а в данной точке — его вершина.
Таким образом, производится обнаружение пика в спектре. Можно доказать, что система функций на основе производных четных порядков { S n ( t )} является ортогональной. В базисе этой системы может быть представлен сигнал исследуемого масс-спектра. Выполнение операций свертки при n = 2 и n = 4 дает возможность выделить пик в заданной точке оси масс, если он там существует. В дальнейшем по значению сверток в максимуме, используя формулы (7) и (8), можно вычислить полуширину µ и амплитуду А обнаруженного пика.
Обозначим значение свертки y 2 ( τ ) в максимуме как С 2 , а значение свертки y 4 ( τ ) в максимуме как С 4 , тогда
Ц = Цо ■
f 3
V С 4
—
A =
C 2
1+ц15
V ц
2 πµ
.
Для дискретных отсчетов (7) и (8) имеют вид:
+ N
Y2( tk ) =Z ^2( ti) У (tk — tJ, i =— N
+ N
Y 4 ( t k ) = Z ^ 4 ( t ) У ( t k - t^.
i =— N
Здесь оказалось возможным перейти от интегрирования по бесконечному интервалу к конечным суммам, т. к. гауссова функция и ее производные быстро убывающие — уже на расстоянии в несколько µ 0 уменьшаются до машинного нуля (т. е. становятся по модулю меньше минимального положительного вещественного компьютерного числа).

Рис. 1. Сигнал с наложившимися гауссовыми пиками со степенью наложения 0.375 без добавления шума, отношение амплитуд 2 : 1.
Сплошная линия — суммарный пик, штриховая линия и линия с точками — отдельные пики в дуплете
Рис. 2. Сигнал с наложившимися пиками, полученными из экспериментальных данных, со степенью наложения 0.395 без добавления шума, отношение амплитуд 4 : 1.
Сплошная линия — суммарный пик, штриховая линия и линия с точками — отдельные пики в дуплете
МОДЕЛИРОВАНИЕ СИГНАЛА, СОДЕРЖАЩЕГО НАЛОЖИВШИЕСЯ ПИКИ, ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ И ОЦЕНКИ
ПАРАМЕТРОВ АЛГОРИТМА СВЕРТОК С ПРОИЗВОДНЫМИ
Для исследования возможностей указанного выше метода оценки параметров сигналов, содержащих наложившиеся пики, использовались модели двух типов:
-
1) масс-спектр представляет собой совокупность пиков, форму которых можно описать гауссовыми функциями с различными амплитудами и ширинами;
-
2) описание формы пиков масс-спектра основано на реальных экспериментальных данных, полученных на масс-спектрометре с квадрупольным анализатором.
Модели каждого из двух типов имеют наложившиеся пики и аддитивный шум. Степень наложения определяется параметром N = µ / L, где µ — полуширина пика в соответствии с формулой (1), L — расстояние между центрами наложившихся пиков. Шум, добавляемый к моделям пиков двух типов, генерировался с помощью датчика случайных чисел, имеющих плотность рас- пределения, соответствующую нормальному закону с задаваемой программно дисперсией и нулевым математическим ожиданием.
На рис. 1 представлена модель двух наложившихся пиков гауссовой формы со степенью наложения N = 0.375. Для данной модели L = 4, µ = 1.5. Соотношение амплитуд 2 : 1 (амплитуда большого пика 1500, малого пика 750).
На рис. 2 представлена модель двух наложившихся пиков, форма которых соответствует экспериментальным данным, полученным на масс-спектрометре с квадрупольным анализатором. Наложившиеся пики получены путем сближения одиночных пиков реального масс-спектра.
На рис. 3 и 4 представлены те же модели сигналов соответственно, что и на рис. 1, 2, но наложившиеся пики сдвинуты относительно друг друга до степени наложения N = 1.
На рис. 5 и 6 представлены те же модели сигналов, что и на рис. 3, 4, но с добавлением шума. Отношение сигнал/шум ( R ) определяется как отношение амплитуды минимального пика к среднему квадратичному отклонению дисперсии шума. Для представленных моделей отношение сиг-нал/шум R = 10.

ми со степенью наложения 1 без добавления шума, отношение амплитуд 2 : 1.
Сплошная линия — суммарный пик, штриховая линия и линия с точками — отдельные пики в дуплете

Рис. 4. Сигнал с наложившимися пиками, полученными из экспериментальных данных, со степенью наложения 1 без добавления шума, отношение амплитуд 4 : 1.
Сплошная линия — суммарный пик, штриховая линия и линия с точками — отдельные пики в дуплете

Рис. 5. Сигнал с наложившимися гауссовыми пиками со степенью наложения 1 с добавлением шума, отношение амплитуд 2 : 1.
Отношение сигнал/шум R = 10

ными из экспериментальных данных со степенью наложения 1 с добавлением шума, отношение амплитуд 4 : 1.
Отношение сигнал/шум R = 10
Табл. 1. СКО оценок параметров отдельных сигналов в дублетах ( N = 0.85) с соотношением амплитуд 5 : 1 при различных отношениях сигнала к шуму
Сигнал/ шум |
СКО оценки, % |
|||
Амплитуда |
Ширина |
|||
гаусс |
квадр |
гаусс |
квадр |
|
10 |
3 |
3 |
0.1 |
0.1 |
50 |
0.5 |
0.8 |
0.05 |
0.05 |
100 |
0.1 |
0.3 |
0.05 |
0.05 |
РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ НА МОДЕЛЯХ СИГНАЛОВ АЛГОРИТМА СВЕРТОК С ПРОИЗВОДНЫМИ ДЛЯ ОЦЕНКИ
ПАРАМЕТРОВ МАСС-СПЕКТРОВ, СОДЕРЖАЩИХ НАЛОЖИВШИЕСЯ ПИКИ
Для определения возможностей указанного алгоритма с помощью вычислительного эксперимента определялись средние квадратичные отклонения (СКО) оценок отдельных параметров сигналов в дублетах при различных реализациях налагаемого шума. СКО оценок параметров отдельных сигналов в дублетах с соотношением амплитуд (5 : 1) по результатам проверки алгоритма "свертка с производными …" при различных отношениях сигнала к шуму и степени наложения N = 0.85 для пиков гауссовой формы (гаусс) и эксперимен- тальных данных квадрупольного масс-спектрометра (квадр) представлены в табл. 1.
СКО оценок параметров дублетов для отдельных сигналов с соотношением амплитуд 5 : 1 по результатам проверки алгоритма "свертка с производными …" при различной степени наложения N и отношении сигнал/шум 50 для пиков гауссовой формы (гаусс) и экспериментальных данных квадрупольного масс-спектрометра (квадр) представлены в табл. 2.
Погрешность положения центра пика для всех случаев не превышала шага дискретизации по оси масс.
СКО оценок параметров дублетов для отдельных сигналов с различным соотношением амплитуд по результатам проверки алгоритма "свертка с производными…" при степени наложения N = 0.85
Табл. 2. СКО оценок параметров отдельных сигналов в дублетах с соотношением амплитуд 5 : 1 при различной степени наложения ( R = 50)
Степень наложения N |
СКО оценки, % |
|||
Амплитуда |
Ширина |
|||
гаусс |
квадр |
гаусс |
квадр |
|
0.75 |
0.5 |
0.6 |
0.05 |
0.05 |
0.85 |
0.5 |
0.8 |
0.05 |
0.05 |
1.00 |
1.0 |
1.0 |
0.1 |
0.1 |
Табл. 3. СКО оценок параметров отдельных сигналов в дублетах ( N = 0.85) с различным соотношением амплитуд при R = 50
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Рассмотренные возможности алгоритма на основе сверток с производными для оценки параметров масс-спектров, содержащих наложившиеся пики, дают информацию о пригодности такого алгоритма для использования в практической работе при обработке данных со степенью наложения пиков в мультиплетах, не превышающей единицы, и с соотношением амплитуд, не превышающим двадцати. Достоинством алгоритма является низкая погрешность определения положения центров пиков при различных отношениях амплитуд одиночных пиков в мультиплетах.