Брэгговская элементная база электроники микроволнового и терагерцового диапазонов
Автор: Никитов С.А., Скрипаль А.В., Пономарев Д.В.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 4-1 т.22, 2019 года.
Бесплатный доступ
Предложен новый подход к построению элементной базы электроники микроволнового и терагерцового диапазонов, связанный с разработкой функциональных элементов радиоэлектроники на основе брэгговских структур. Отмечена возможность создания на основе брэгговских структур узкополосных фильтров заграждения, обладающих вне полосы заграждения частотно-независимым коэффициентом прохождения, близким к единице. Описаны характеристики малогабаритных согласованных нагрузок, предназначенных для работы в микроволновом и терагерцовом диапазонах частот, на основе брэгговских структур, содержащих нанометровые металлические пленки. Рассмотрена возможность использования СВЧ фотонных кристаллов в качестве новых типов электродинамических систем при измерении параметров материалов и структур СВЧ-методами. При реализации методики измерения комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков, основанной на использовании частотных зависимостей коэффициента пропускания и отражения на частоте дефектной моды в запрещенной зоне, применен коаксиальный фотонный кристалла.
Брэгговская элементная база, микроволновый, терагерцовый диапазоны, фильтры заграждения, согласованные нагрузки, свч-измерение материало
Короткий адрес: https://sciup.org/140256110
IDR: 140256110 | УДК: 621.372.2 | DOI: 10.18469/1810-3189.2019.22.4.58-60
The Bragg element base of the microwave and terahertz electronics
A new approach to constructing the elemental base of electronics in the microwave and terahertz ranges associated with the development of functional elements of radio electronics based on Bragg structures have been proposed. The possibility of creating narrow-band rejection filters based on Bragg structures with a frequency-independent transmission coefficient close to unity outside the stop band has been demonstrated. The characteristics of small-sized matched loads for operation in the microwave and terahertz frequency ranges based on Bragg structures containing nanometer metal films have been described. The possibility of using microwave photonic crystals as a new types of electrodynamic systems for measuring the parameters of materials and structures by microwave methods has been considered. The coaxial photonic crystal was used for implementing the method for measuring the complex permittivity of dielectrics, based on the use of the transmission and reflection frequency dependences at the frequency of the defect mode in the band gap.
Список литературы Брэгговская элементная база электроники микроволнового и терагерцового диапазонов
- One-Dimensional Microwave Photonic Crystals. New Applications / D.A. Usanov [et al.]. Boca Raton: CRC Press, 2019. 154 p. DOI: 10.1201/9780429276231
- Usanov D.A. et al. One-Dimensional Microwave Photonic Crystals. New Applications. Boca Raton: CRC Press, 2019, 154 p. DOI: 10.1201/9780429276231
- Waveguide bandstop filters based on microwave photonic crystals with parameters controlled by n-i-p-i-n diodes / D.A. Usanov [et al.] // Journal of Communications Technology and Electronics. 2019. Vol. 64. № 4. P. 399-408. DOI: 10.1134/S1064226919040107
- Usanov D.A. et al. Waveguide bandstop filters based on microwave photonic crystals with parameters controlled by n-i-p-i-n diodes. Journal of Communications Technology and Electronics, 2019, vol. 64, no. 4, pp. 399-408. DOI: 10.1134/S1064226919040107
- Centimeter- and millimeter-wavelength matched loads based on microwave photonic crystals / D.A. Usanov [et al.] // Technical Physics. 2017. Vol. 62. № 2. P. 243-247. https://. DOI: 10.1134/S106378421702027X
- Usanov D.A. et al. Centimeter- and millimeter-wavelength matched loads based on microwave photonic crystals. Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics, 2017, vol. 62, no. 2, pp. 243-247. https://. DOI: 10.1134/S106378421702027X
- Determination of the metal nanometer layer thickness and semiconductor conductivity in metal-semiconductor structures from electromagnetic reflection and transmission spectra / D.A. Usanov [et al.] // Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics. 2006. Vol. 51. № 5. P. 644-649. DOI: 10.1134/S1063784206050173
- Usanov D.A. et al. Determination of the metal nanometer layer thickness and semiconductor conductivity in metal-semiconductor structures from electromagnetic reflection and transmission spectra. Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics, 2006, vol. 51, no. 5, pp. 644-649. DOI: 10.1134/S1063784206050173
- Determination of the conductance and thickness of semiconductor wafers and nanometer layers with the use of one-dimensional microwave photonic crystals / S.A. Nikitov [et al.] // Doklady Physics. 2013. Vol. 58. № 1. P. 6-8. DOI: 10.1134/S1028335813010023
- Nikitov S.A. et al. Determination of the conductance and thickness of semiconductor wafers and nanometer layers with the use of one-dimensional microwave photonic crystals. Doklady Physics, 2013, vol. 58, no. 1, pp. 6-8. DOI: 10.1134/S1028335813010023
- Multiparametric measurements of epitaxial semiconductor structures with the use of one-dimensional microwave photonic crystals / D.A. Usanov [et al.] // Journal of Communications Technology and Electronics. 2016. Vol. 61. № 1. P. 42-49. DOI: 10.1134/S1064226916010125
- Usanov D.A. et al. Multiparametric measurements of epitaxial semiconductor structures with the use of one-dimensional microwave photonic crystals. Journal of Communications Technology and Electronics, 2016, vol. 61, no. 1, pp. 42-49. DOI: 10.1134/S1064226916010125
- Microstrip photonic crystals used for measuring parameters of liquids / D.A. Usanov [et al.] // Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics. 2010. Vol. 55. № 8. P. 1216-1221. DOI: 10.1134/S1063784210080220
- Usanov D.A. et al. Microstrip photonic crystals used for measuring parameters of liquids. Technical Physics. The Russian Journal of Applied Physics, 2010, vol. 55, no. 8, pp. 1216-1221. DOI: 10.1134/S1063784210080220
- Nasybullin A.R., Morozov O.G., Sevastyanov A.A. Bragg sensory microwave structures on a coaxial cable // Journal of Radio Electronics. 2014. № 3. P. 1-17. URL: http://jre.cplire.ru/jre/mar14/8/text.pdf.
- Nasybullin A.R., Morozov O.G., Sevastyanov A.A. Bragg sensory microwave structures on a coaxial cable. Journal of Radio Electronics, 2014, no. 3, pp. 1-17. URL: http://jre.cplire.ru/jre/mar14/8/text.pdf.
- СВЧ коаксиальные брэгговские структуры и их использование для измерения диэлектриков / Д.А. Усанов [и др.] // Электроника и микроэлектроника СВЧ. 2019. Т. 2. С. 194-198.
- Usanov D.A. et al. Microwave coaxial Bragg structure and their use for the measurement of dielectrics. Elektronika i mikroelektronika SVCh, 2019, vol. 2, pp. 194-198. [In Russian].
