Численное исследование процесса регистрации оптического излучения с помощью апертурного полого кантилевера

Обоснование. Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия является мощным и перспективным инструментом для исследования взаимодействия света с веществом. Одной из важнейших задач является повышение качества и точности измерений. При интерпретации результатов экспериментов необходимо учитывать чувствительность кантилевера к типу поляризации. Цель. Целью данного исследование является оценка чувствительности пирамидального апертурного кантилевера к углу наклона падающего излучения. Методы. С использованием метода конечных разностей во временной области с учетом зависимости от частоты излучения было показано, что угол падения и наклон плоскости поляризации могут влиять на процесс измерения апертурным кантилевером для обоих предложенных типов поляризации падающего света: линейной и круговой. Результаты. Результаты моделирования показывают, что с увеличением угла падения света на кантилевер общая интенсивность, прошедшая через кантилевер, уменьшается примерно на 50 % для линейно поляризованного света и 30 % для света с круговой поляризацией. Заключение. Это доказывает, что апертурный алюминиевый кантилевер слабо чувствителен к продольной составляющей.