Dynamic random access memory with redundant transistors
Автор: Tyurin S.F.
Журнал: Вестник Пермского университета. Серия: Математика. Механика. Информатика @vestnik-psu-mmi
Рубрика: Информатика. Информационные системы
Статья в выпуске: 4 (35), 2016 года.
Бесплатный доступ
The article analyzes dynamic random access memory (DRAM). DRAM with a redundant transistor is considered by analogy with a six-transistor SRAM cell, in which the transistors are reserved. The paper estimated the probability of failure-free operation of DRAM with such redundancy compared with triple redundancy.
Ячейка памяти sram, ячейка памяти dram, cmos transistor, sram cell, dram cell, reliability, failure resistance, triple redundancy
Короткий адрес: https://sciup.org/14730082
IDR: 14730082 | DOI: 10.17072/1993-0550-2016-4-58-62