Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников

Автор: Захаров В.А., Фисенко Т.Е., Рахматулина Э.А.

Журнал: Форум молодых ученых @forum-nauka

Статья в выпуске: 1 (17), 2018 года.

Бесплатный доступ

Статья посвящена изучению гранулометрического состава порошков полупроводников CdTe и ZnTe. Исследование проводили методом оптической микроскопии. По результатам дисперсионного анализа распределили частицы по размерам на три категории: среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц.

Дисперсия, полупроводники, микроскопия

Короткий адрес: https://sciup.org/140279818

IDR: 140279818

Текст научной статьи Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников

Важными характеристиками дисперсионных систем являются фракционный состав, удельная геометрическая поверхность и коэффициент полидисперсности.

Целью настоящей работы явилось изучение гранулометрического состава порошков полупроводников CdTe и ZnTe методом оптической микроскопии. Для анализа использовали оптический микроскоп, в окуляр которого вставляли микрометрическую сетку. Подготовленные водные суспензии порошков помещали на предметное стекло, накрывали покровным стеклом и проводили подсчёт частиц по фракциям не менее шести раз в разных местах препаратов. В качестве статистического диаметра принимали наибольший размер проекции частицы на плоскость наблюдения вдоль одной из сторон микрометрической сетки.

Результаты фракционного распределения частиц по размерам представлены в таблице 1.

Таблица 1

Средний радиус частиц фракции d i , мкм

Содержание частиц Q, %

ZnTe

CdTe

28

-

53,61

57

43,27

22,16

113

23,07

16,49

170

12,50

1,54

227

7,69

4,12

284

1,92

1,03

341

4,81

1,03

397

0,96

-

454

5,77

-

Величину геометрической удельной поверхности и коэффициент полидисперсности порошков рассчитывали по формулам [1, 2]:

S =

6 ni di3 ρ⋅ ni di2

6   ; K = dn ,

ρ⋅ dS       dq

где d i – средний диаметр частиц фракций; n – число частиц в системе; ρ-рентгеновская плотность частиц; dS, dn, dq – среднеповерхностный, среднечисленный и средневесовой диаметры частиц; K – коэффициент полидисперсности.

Cреднечисленный, среднеповерхностный и средневесовой диаметры частиц рассчитывали по формулам:

d

n i ri n i

n r 3 d m = i i ;

niri 2

nr 4 d m = i i .

niri 3

Результаты расчета геометрической удельной поверхности порошков, коэффициента полидисперсности, среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц представлены в табл. 2

Таблица 2

Образец

Геометрическая удельная поверхность S, м2/кг

Коэффициент полидисперсности, К

Рентгеновская плотность ρ, г/см3

Диаметр частиц, мкм

d n

d S

d q

CdTe

4,90

0,27

6,435

65

190

239

ZnTe

3,36

0,38

5,640

141

316

371

Согласно данным дисперсионного анализа (табл. 1), распределение частиц по размерам в логарифмической системе координат близко к линейной зависимости. Низкие коэффициенты полидисперсности порошков CdTe и ZnTe указывают на большой разброс частиц по размерам. На полидисперсность образцов также указывают различия в значениях среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц, которые изменяются в следующей последовательности: dn > dS > dq.

Список литературы Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников

  • Лабораторные работы и задачи по коллоидной химии. - Под ред. Ю.Г. Фролова и А.С. Гродского. - М.: Химия, 1986. -216 с.
  • Федяева О.А., Васина М.В., Пошелюжная Е.Г. Исследование системы ZnTe-CdSe методом электронной микроскопии //Омский научный вестник. - 2013. - №3 (123). - С. 52-55.
Статья научная