Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников
Автор: Захаров В.А., Фисенко Т.Е., Рахматулина Э.А.
Журнал: Форум молодых ученых @forum-nauka
Статья в выпуске: 1 (17), 2018 года.
Бесплатный доступ
Статья посвящена изучению гранулометрического состава порошков полупроводников CdTe и ZnTe. Исследование проводили методом оптической микроскопии. По результатам дисперсионного анализа распределили частицы по размерам на три категории: среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц.
Дисперсия, полупроводники, микроскопия
Короткий адрес: https://sciup.org/140279818
IDR: 140279818
Текст научной статьи Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников
Важными характеристиками дисперсионных систем являются фракционный состав, удельная геометрическая поверхность и коэффициент полидисперсности.
Целью настоящей работы явилось изучение гранулометрического состава порошков полупроводников CdTe и ZnTe методом оптической микроскопии. Для анализа использовали оптический микроскоп, в окуляр которого вставляли микрометрическую сетку. Подготовленные водные суспензии порошков помещали на предметное стекло, накрывали покровным стеклом и проводили подсчёт частиц по фракциям не менее шести раз в разных местах препаратов. В качестве статистического диаметра принимали наибольший размер проекции частицы на плоскость наблюдения вдоль одной из сторон микрометрической сетки.
Результаты фракционного распределения частиц по размерам представлены в таблице 1.
Таблица 1
Средний радиус частиц фракции d i , мкм |
Содержание частиц Q, % |
|
ZnTe |
CdTe |
|
28 |
- |
53,61 |
57 |
43,27 |
22,16 |
113 |
23,07 |
16,49 |
170 |
12,50 |
1,54 |
227 |
7,69 |
4,12 |
284 |
1,92 |
1,03 |
341 |
4,81 |
1,03 |
397 |
0,96 |
- |
454 |
5,77 |
- |
Величину геометрической удельной поверхности и коэффициент полидисперсности порошков рассчитывали по формулам [1, 2]:
S =
6 ⋅ ∑ ni ⋅ di3 ρ⋅ ∑ ni ⋅ di2
6 ; K = dn ,
ρ⋅ dS dq
где d i – средний диаметр частиц фракций; n – число частиц в системе; ρ-рентгеновская плотность частиц; dS, dn, dq – среднеповерхностный, среднечисленный и средневесовой диаметры частиц; K – коэффициент полидисперсности.
Cреднечисленный, среднеповерхностный и средневесовой диаметры частиц рассчитывали по формулам:
d
∑ n i ri ∑ n i
n r 3 d m = ∑ i i ;
∑ niri 2
nr 4 d m = ∑ i i .
∑ niri 3
Результаты расчета геометрической удельной поверхности порошков, коэффициента полидисперсности, среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц представлены в табл. 2
Таблица 2
Образец |
Геометрическая удельная поверхность S, м2/кг |
Коэффициент полидисперсности, К |
Рентгеновская плотность ρ, г/см3 |
Диаметр частиц, мкм |
||
d n |
d S |
d q |
||||
CdTe |
4,90 |
0,27 |
6,435 |
65 |
190 |
239 |
ZnTe |
3,36 |
0,38 |
5,640 |
141 |
316 |
371 |
Согласно данным дисперсионного анализа (табл. 1), распределение частиц по размерам в логарифмической системе координат близко к линейной зависимости. Низкие коэффициенты полидисперсности порошков CdTe и ZnTe указывают на большой разброс частиц по размерам. На полидисперсность образцов также указывают различия в значениях среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц, которые изменяются в следующей последовательности: dn > dS > dq.
Список литературы Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников
- Лабораторные работы и задачи по коллоидной химии. - Под ред. Ю.Г. Фролова и А.С. Гродского. - М.: Химия, 1986. -216 с.
- Федяева О.А., Васина М.В., Пошелюжная Е.Г. Исследование системы ZnTe-CdSe методом электронной микроскопии //Омский научный вестник. - 2013. - №3 (123). - С. 52-55.