Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников

Автор: Захаров В.А., Фисенко Т.Е., Рахматулина Э.А.

Журнал: Форум молодых ученых @forum-nauka

Статья в выпуске: 1 (17), 2018 года.

Бесплатный доступ

Статья посвящена изучению гранулометрического состава порошков полупроводников CdTe и ZnTe. Исследование проводили методом оптической микроскопии. По результатам дисперсионного анализа распределили частицы по размерам на три категории: среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц.

Дисперсия, полупроводники, микроскопия

Короткий адрес: https://sciup.org/140279818

IDR: 140279818

Analysis of variance powders almasadamtion of semiconductors

The article is devoted to study of the granulometric composition of powders in doprovodnou CdTe and ZnTe. The study was conducted by optical microscopy. According to the results of variance analysis distributed particles by size into three categories: srednekamennogo, renepower personal and weighted diameters of the particles.

Текст научной статьи Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников

Важными характеристиками дисперсионных систем являются фракционный состав, удельная геометрическая поверхность и коэффициент полидисперсности.

Целью настоящей работы явилось изучение гранулометрического состава порошков полупроводников CdTe и ZnTe методом оптической микроскопии. Для анализа использовали оптический микроскоп, в окуляр которого вставляли микрометрическую сетку. Подготовленные водные суспензии порошков помещали на предметное стекло, накрывали покровным стеклом и проводили подсчёт частиц по фракциям не менее шести раз в разных местах препаратов. В качестве статистического диаметра принимали наибольший размер проекции частицы на плоскость наблюдения вдоль одной из сторон микрометрической сетки.

Результаты фракционного распределения частиц по размерам представлены в таблице 1.

Таблица 1

Средний радиус частиц фракции d i , мкм

Содержание частиц Q, %

ZnTe

CdTe

28

-

53,61

57

43,27

22,16

113

23,07

16,49

170

12,50

1,54

227

7,69

4,12

284

1,92

1,03

341

4,81

1,03

397

0,96

-

454

5,77

-

Величину геометрической удельной поверхности и коэффициент полидисперсности порошков рассчитывали по формулам [1, 2]:

S =

6 ni di3 ρ⋅ ni di2

6   ; K = dn ,

ρ⋅ dS       dq

где d i – средний диаметр частиц фракций; n – число частиц в системе; ρ-рентгеновская плотность частиц; dS, dn, dq – среднеповерхностный, среднечисленный и средневесовой диаметры частиц; K – коэффициент полидисперсности.

Cреднечисленный, среднеповерхностный и средневесовой диаметры частиц рассчитывали по формулам:

d

n i ri n i

n r 3 d m = i i ;

niri 2

nr 4 d m = i i .

niri 3

Результаты расчета геометрической удельной поверхности порошков, коэффициента полидисперсности, среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц представлены в табл. 2

Таблица 2

Образец

Геометрическая удельная поверхность S, м2/кг

Коэффициент полидисперсности, К

Рентгеновская плотность ρ, г/см3

Диаметр частиц, мкм

d n

d S

d q

CdTe

4,90

0,27

6,435

65

190

239

ZnTe

3,36

0,38

5,640

141

316

371

Согласно данным дисперсионного анализа (табл. 1), распределение частиц по размерам в логарифмической системе координат близко к линейной зависимости. Низкие коэффициенты полидисперсности порошков CdTe и ZnTe указывают на большой разброс частиц по размерам. На полидисперсность образцов также указывают различия в значениях среднечисленного, среднеповерхностного и средневесового диаметров частиц, которые изменяются в следующей последовательности: dn > dS > dq.

Список литературы Дисперсионный анализ порошков алмазоподобных полупроводников

  • Лабораторные работы и задачи по коллоидной химии. - Под ред. Ю.Г. Фролова и А.С. Гродского. - М.: Химия, 1986. -216 с.
  • Федяева О.А., Васина М.В., Пошелюжная Е.Г. Исследование системы ZnTe-CdSe методом электронной микроскопии //Омский научный вестник. - 2013. - №3 (123). - С. 52-55.