Холловский дефектоскоп

Автор: Перченко С.В., Станкевич Д.А.

Журнал: Математическая физика и компьютерное моделирование @mpcm-jvolsu

Статья в выпуске: 13, 2010 года.

Бесплатный доступ

В настоящее время актуальна проблема неразрушающего контроля различных металличес- ких конструкции, а также сварных швов, поскольку от их качества зависит надежность установки или конструкции в целом. Большинство современных методов ограничены в своем применении. Так, для акустических дефектоскопов необходима предварительная обработка поверхности, а также непосредственный контакт, рентгеноскопия неприменима для проверки толстостенных труб, по- рошковый метод очень дорогостоящ. Для многих магнитных методов необходимо предваритель- ное намагничивание детали, что не всегда возможно. Предлагаемый дефектоскоп свободен от многих недостатков. Принцип его работы основан на изменении нормальной компоненты поля вблизи дефекта. Деталь не нужно предварительно намагничивать, чувствительности прибора достаточно для работы в поле Земли. В качестве датчиков применены преобразователи Холла, которые являются пассивными. Кроме того, прибор обладает малыми габаритами и массой.

Еще

Дефектоскопия, прецизионные измерения, неразрушающий контроль, магнитометрия, датчик холла, динамическая компенсация погрешностей

Короткий адрес: https://sciup.org/14968643

IDR: 14968643

Список литературы Холловский дефектоскоп

Михайлов, С. П. Физические основы магнитографической дефектоскопии/С. П. Михайлов, В. Е. Щер-бинин. -М.: Наука, 1992. -240 с.
Пат. РФ № 2311655. Способ уменьшения погрешностей холловского магнитометра/В. К. Игнать-ев. -2007. -5 с
Сивухин, Д. В. Электричество: учеб. пособие/Д. В. Сивухин. -2-е изд., испр. -М.: Наука, 1983. -686 с.
Техническое описание микросхемы ISL21007. -Режим доступа: www.intersil.com/data/fn/FN6326.pdf.
Техническое описание микросхемы AD8531. -Режим доступа: http://www.analog.com/static/importedfiles/data_sheets/ad8531_8532_8534.pdf.
Техническое описание микросхемы ISL43L420. -Режим доступа: www.intersil.com/data/fn/FN6098.pdf.
Техническое описание микросхемы OPA211. -Режим доступа: http://focus.ti.com/lit/ds/symlink/opa2211a.pdf.
Техническое описание микросхемы LCA710. -Режим доступа: www.datasheetcatalog.org/datasheet/clare/LCA710STR.pdf.
Щур, М. Л./М. Л. Щур, В. Е. Щербинин//Дефектоскопия. -1977. -№ 7. -С. 92-96.
Янус, Р. И. Магнитная дефектоскопия/Р. И. Янус. -М.: Гостехиздат, 1946. -172 с.

Статья научная