Контроль параметров ультразвуковых технологических аппаратов
Автор: Хмелев Владимир Николаевич, Абраменко Денис Сергеевич, Барсуков Роман Владиславович, Генне Дмитрий Владимирович
Журнал: Техническая акустика @ejta
Статья в выпуске: т.10, 2010 года.
Бесплатный доступ
Статья посвящена поиску решения проблемы контроля амплитуды ультразвуковых колебаний, вводимых в технологические среды в процессе эксплуатации ультразвуковых аппаратов. Показывается, что совершенствование способа измерения путем визуального наблюдения колеблющейся поверхности через микроскоп с использованием двух стробоскопических источников света не позволяет обеспечить непрерывный контроля в процессе эксплуатации аппаратов. На основании анализа процесса преобразования и введения ультразвуковых колебаний показывается возможность измерения амплитуды колебаний по величине тока, протекающего в «механической ветви» ультразвуковой колебательной системы. Представлены результаты экспериментальных исследований предложенного способа
Ультразвук, измерение, амплитуда
Короткий адрес: https://sciup.org/14316267
IDR: 14316267
Список литературы Контроль параметров ультразвуковых технологических аппаратов
- Б. А. Агранат. Основы физики и техники ультразвука. М.: Высшая школа, 1987, 352 с.
- Г. В. Леонов, В. Н. Хмелев, Д. С. Абраменко, И. И. Савин. Способ измерения амплитуды колебаний. Патент РФ №2292530.
- D. S. Abramenko, V. N. Khmelev, R. V. Barsukov, A. N. Lebedev. Usage features of contact and noncontact measuring methods of oscillation amplitude during adjustment process of ultrasonic devices. Ninth international workshops and tutorials on electron devices and materials EDM'2008. Novosibirsk: NSTU, 2008, p. 223-226.
- А. В. Донской, О. К. Келлер, Г. С. Кратыш. Ультразвуковые электротехнологические установки. Л.: Энергоиздат, 1982, 276 с.
- В. Н. Хмелев, Д. С. Абраменко, В. В. Педдер, С. Н. Цыганок, Р. В. Барсуков. Исследование функциональных возможностей пьезоэлектрических преобразователей. Tenth international conference and seminar on micro/nanotechnologies and electron devices EDM'09. Novosibirsk: NSTU, 2009, p. 233-241.
