Математическая модель прибора контроля чистоты поверхности подложек по скорости растекания капли жидкости
Автор: Подлипнов Владимир Владимирович, Дубовик А.С.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Математические модели физико-технических систем
Статья в выпуске: 2 т.22, 2012 года.
Бесплатный доступ
Рассматриваемая задача включает моделирование процесса растекания жидкости по поверхности подложки. Показана возможность регистрации концентрации чужеродных атомов на поверхности образца по изменению параметров светового потока, проходящего через структуру жидкость-подложка. Приведены основные уравнения, описывающие процесс растекания капли жидкости по поверхности подложки, позволяющие определить численное значение концентрации атомов и молекул, адсорбированных поверхностью образца. Показана возможность реализации экспресс-контроля чистоты поверхности подложки, используя регистрацию светового потока на фотодетекторе, расположенном на фокальной оси динамически изменяющейся линзы, формируемой растекающейся каплей.
Контроль чистоты поверхности, смачивание, растекание, адсорбированное загрязнение, определение концентрации молекул загрязнения, моделирование светового потока
Короткий адрес: https://sciup.org/14264793
IDR: 14264793