Математические модели дрейфа функциональных параметров электронных изделий
Автор: Козлова И.Н., Пиганов М.Н., Тюлевин С.В.
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Достижения физики, химии, электроники и нанотехнологий
Статья в выпуске: 4-3 т.12, 2010 года.
Бесплатный доступ
Разработаны математические модели дрейфа функциональных параметров электронных изделий в условиях комплексного воздействия возмущающих факторов среды эксплуатации. Предложено характеризовать индивидуальный функциональный параметр набором характеристических показателей {B, W0, qi} кинетической модели дрейфа функциональных параметров электронных изделий. Разработана методика определения характеристических показателей физико-математической модели дрейфа функциональных параметров и оптимизации режимов ускоренных испытаний.
Модель, функциональный параметр, электронное изделие
Короткий адрес: https://sciup.org/148205498
IDR: 148205498
Список литературы Математические модели дрейфа функциональных параметров электронных изделий
- Еремина, И.Н. Прогнозирование срока службы изделий на основе активационных моделей процессов деградации функциональных параметров//Надежность и качество: Труды междун. симпоз. в 2-х томах. -Пенза, 2007. Т. 2. С. 18-21.
- Меламедов, Н.М. Физические основы надежности. -М.: Энергия, 1970. 320 с.
- Регель, В.Р. Кинетическая природа прочности твердых тел/В.Р. Регель, А.И. Слуцкер, Э.Е. Томашевский.-М.: Наука, 1974. 560 с.
- Литвинский, И.Е. Обеспечение безотказности персональных ЭВМ/И.Е. Литвинский, В.А. Прохоренко. -М.: Радио и связь, 1993. 208 с.
- Эммануэль, Н.М. Курс химической кинетики/Н.М. Эммануэль, Д.Г. Кнорре. -М.: Высшая школа, 1969. 432 с.
- Козлова, И.Н. Анализ процессов деградации элементов космических радиоэлектронных средств при разработке методики прогнозирования их надежности/И.Н. Козлова, М.Н. Пиганов//Инновационная экономика и промышленная политика региона (ЭКОПРОМ -2010): Труды междун. НТК. -СПб: Изд-во Политехн. ун-та, 2010. Т.2. С. 438-449.
- Козлова, И.Н. Вероятностно-детерминированная модель расходования ресурса электронного устройства//Научные исследования и их практическое применение. Современное состояние и пути развития: Сборн. научн. тр. -Одесса: Черноморье, 2010. Т.3. С. 59-65.
