Моделирование роста тонких пленок молибдата свинца PbMoO4 распылением ионными пучками
Автор: Халтанов В.Э.
Журнал: Вестник Бурятского государственного университета. Химия. Физика @vestnik-bsu-chemistry-physics
Статья в выпуске: 3, 2024 года.
Бесплатный доступ
В статье рассмотрен рост тонких пленок молибдата свинца PbMoO4 методом распыления ионными пучками, который имеет ряд преимуществ по сравнению с другими методами: проведение опытов в вакуумных условиях, что значительно влияет на чистоту эксперимента; рабочая камера отделена от области горения разряда, что позволяет контролировать процесс выращивания покрытий. Предложены две методики роста тонких пленок PbMoO4 путем независимого распыления двух мишеней (свинца Pb и молибдена Mo), а также путем распыления мишеней PbO и MoO3 с образованием потоков частиц, падающих на поверхность подложек, где происходит синтез молибдата свинца. Осуществлено моделирование в зависимости от технологических параметров с использованием математической программы MathCad. Предложены оптимальные режимы ростовых процессов.
Моделирование, тонкие пленки, молибдат свинца, ионные пучки, распыление
Короткий адрес: https://sciup.org/148329957
IDR: 148329957 | DOI: 10.18101/2306-2363-2024-3-20-26
Текст научной статьи Моделирование роста тонких пленок молибдата свинца PbMoO4 распылением ионными пучками
Тонкие пленки молибдата свинца PbMoO 4 , являясь акустооптическими материалами, широко применяются для создания изделий оптоэлектроники. Одним из перспективных методов выращивания слоев молибдата свинца можно назвать метод распыления ионными пучками [1].
В работе рассмотрены две методики синтеза молибдата свинца с использованием двух ионных пучков, осуществлено моделирование в зависимости от технологических параметров (расстояние мишень — подложка, размер подложки) с использованием математической программы MathCad. На основе полученных расчетов возможны рекомендации по определению оптимальных режимов роста тонких пленок.
Результаты и обсуждение
Процессы выращивания тонких слоев ионно-лучевыми методами возможны тремя способами: путем бомбардировки мишени пучком ионов инертного газа, бомбардировки пучком ионов химически активного газа и распылением с двумя ионными пучками.
В целом метод выращивания тонких пленок с использованием ионных пучков состоит из трех процессов: первый — распыление поверхности мишени ионным пучком; второй — перенос распыленных частиц к подложке путем преодоления расстояния от мишени к подложке; третий — непосредственно рост слоев на поверхности подложки. Каждый процесс весьма важен и требует пристального внимания.
В исследовании рассматривалась установка с двумя ионными пучками [1], в которой два ионных пучка независимо друг от друга распыляют две мишени. Рост тонких пленок молибдата свинца PbMoO4 в такой установке может быть осуществлен с использованием двух методик: первая методика предполагает независимую бомбардировку двух мишеней: из свинца Pb и из молибдена Mo; по второй методике независимо распыляются мишени из PbO и MoO3.
В первой методике путем независимого распыления двумя пучками ионов инертного газа (аргона Ar+) двух мишеней (Pb и Mo) молекулы свинца и молибдена достигают поверхности подложки, где и формируется пленка, состоящая из молекул свинца и молибдена. Молибден и свинец имеют различные коэффициенты распыления под действием ионных пучков аргона, которые были рассчитаны по теории Зигмунда [2; 3]. Поэтому для достижения соотношения 1:1 для каждой мишени подбирались разные энергии распыляющих ионов. Далее необходим дополнительный отжиг получившихся пленок на воздухе, в результате чего вначале происходит формирование простых оксидов PbO и MoO 3 , а затем осуществляется реакция образования стехиометрических пленок молибдата свинца PbMoO4. Таким образом, рост слоев достигается в два этапа.
Во второй методике рост стехиометрических слоев молибдата свинца возможен в один этап согласно реакции: PbO + MoO 3 = PbMoO 4 . По данной методике путем независимого распыления двумя потоками ионов аргона Ar+ двух мишеней из PbO и MoO 3 свинец, молибден и кислород в виде молекул достигают поверхности подложки. Далее происходит поэтапное образование вначале простых оксидов PbO и MoO 3 , а затем реакция синтеза стехиометрических пленок молибдата свинца PbMoO 4 .
В настоящей работе была поставлена задача — сделать расчет процессов синтеза покрытий с использованием ионных пучков при параллельном расположении мишеней и подложки (рис. 1) при помощи математической программы MathCad. Были проведены расчеты толщины пленок в зависимости от геометрических характеристик эксперимента, а именно от расстояний мишень — подложка и размеров подложки. Учитывался также тот факт, что толщина слоев зависит от коэффициентов распыления мишеней.
Толщина покрытия определялась по формуле:
h = ^cosp cos<]) • t (1)
Частицы, выбитые ионным пучком с поверхности мишени, долетают до подложки и движутся по ее поверхности симметрично центру с расстоянием от центра l.

Рис. 1. Конструктивная схема расположения мишени и подложки в рабочей камере: H — расстояние между мишенью и подложкой, L — расстояние от упавшей частицы на подложку до центра подложки, R — радиус мишени, ϕ — угол падения пучка ионов на мишень, φ — угол падения частиц на подложку, r — расстояние от точки на мишени до точки на подложке, α — угол между l и R на поверхности подложки
Малый элемент поверхности мишени найден как:
dR*=R-da- dR(2)
Угол α определяется из отношения расстояния между мишенью и подложкой H и радиусом кольца r:
cos
Интегрируем по t, R, α:
h = -—RdadRdt(4)
tRa^r2 r2
Расстояние r — это функция от L, R, d, H, α:
r = ^R2 + H2 + L2 — 2LR cos a,(5)
где l2+R2-2lRcosα =d2. Подставим выражение (5) в уравнение (4):
h = mD , , ; VT------Rddaddtdt(6)
tRa w(R2+L2+H2-2LR cos a)2
Интегрируя (6) по t, находим количество распыленного вещества. Скорость распыления не меняется и не зависит от радиуса кольца распыления:
h = — [L ^^------RdadR(7)
я Ra u^(R+L2+H2-21R cos a)2v
В (7) производим замены переменных по углу, где b=H2+l2+R2, c=2lR, интегрируем и делаем обратную подстановку, получаем:
h2r h = Vt^R (R2+l2+H2)2-(2lR)2)3/2 d(8)
Скорость распыления равна:
где h — толщина распыленного материала; t — время процесса.
Скорость распыления при перпендикулярном падении ионов:
v = ju•s•мa ^•na^p ,
где j и — плотность ионного тока, А/см2; S — коэффициент распыления, атом/ион;
М а — атомная масса атомов мишени, г/моль; е — заряд электрона; N а — число Авогадро; ρ — плотность материала, г/см3.
Распыление начинается при энергиях, больших пороговых (порядка 40 эВ).
По теории Зигмунда [2] коэффициент распыления можно найти по формуле:
S = ^-a- -^“_ . _^^
^2 (Mu+Ma)2 2Ecy6
где Ми — атомные массы ионов, г/моль; Ма — атомные массы атомов мишени, г/моль; Еи — энергия падающих ионов, эВ; Есуб — энергия сублимации атомов мишени, эВ; α — безразмерный параметр, зависящий от Мa/Ми.
Расчет толщин пленок
Для расчета в MatCad вводим H — расстояние от мишени до подложки и L — размер подложки. Определяем зависимость от этих переменных в виде матрицы. Переменная i принимает значения: i=0..15, где i — индекс переменной L.
Переменная j принимает значения: j=0..10, где j — индекс переменной H, т. е. Hj. Строка являлась функцией расстояния мишень — подложка, а столбец пока- зывал изменение толщины в зависимости от размера подложки.
Вначале производим расчеты для первой методики, когда два ионных пучка Ar+ распыляют мишени из Pb и Mo. Энергия распыляющих ионов 1 кэВ. Для наглядного изображения результаты вычислений представлены в виде графиков.
На рисунке 2 приведены результаты расчетов при распылении свинцовой мишени (Рb).

Толщина пленки в зависимости от технологических параметров
Рис. 2. Результаты расчета распыления свинцовой мишени Рb: а — график поверхности толщины пленки в зависимости от расстояния мишень-подложка и от размера подложки; б — график уровня толщины пленки в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки

h
б
а) h
На рисунке 3 приведены результаты распыления молибденовой мишени (Мо).

б) h
Рис. 3. Результаты расчета распыления молибденовой мишени Mo: а — график поверхности толщины пленки в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки; б — график уровня толщины пленки в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки
Далее были проведены расчеты для второй методики, когда два ионных пучка Ar+ распыляют мишени из PbO и MoO 3 . Энергия распыляющих ионов 1 кэВ. На рисунке 4 показаны результаты распыления мишени РbO.
а)

Рис. 4. Результаты расчета распыления свинцовой мишени РbO: а — график поверхности толщины пленки в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки; б — график уровня толщины пленки в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки
Анализ результатов расчетов показал, что применение первой методики приводит к тому, что при независимом распылении свинцовых (Pb) и молибденовых (Mo) мишеней (рис. 2а, 3а) оптимальными расстояниями между мишенью и подложкой являются расстояния H=2–3 см.
При использовании второй методики раздельное распыление мишеней из оксида свинца (PbO) и триоксида молибдена (MoO3) (рис. 4а, 5а) приводит к тому, что оптимальными расстояниями между мишенью и подложкой также являются расстояния H=2–3 см. По-видимому, это объясняется тем, что такие небольшие расстояния обеспечивают прямолинейные, без отклонения пути распыленных частиц. В результате они, не рассеиваясь, достигают поверхности подложек и активно участвуют в синтезе сложных соединений.
На рисунке 5 приведены результаты распыления мишени МоO 3 .
а)

б)

Рис. 5. Результаты расчета распыления свинцовой мишени MoO 3 : а — график поверхности толщины пленки в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки; б — график уровня толщины пленки
в зависимости от расстояния мишень — подложка и от размера подложки
Что касается размеров подложек, то в случае использования первой методики при распылении свинцовых и молибденовых мишеней (рис. 2б, 3б) размеры подложек должны быть порядка L=4–5 см. Расчеты использования второй методики приводят к тому, что при распылении мишеней из оксида свинца и триоксида молибдена (рис. 4б, 5б) размеры подложек должны быть значительно больше: порядка 8–10 см. Возможно, это связано с тем, что при распылении оксидов распыленные частицы рассеиваются сильнее.
Поскольку скорость роста различных тонких пленок (Pb, Mo, PbO, MoO 3 ) прямо пропорциональна коэффициентам распыления соответствующих мишеней, следовательно, и энергиям распыляющих ионов, то толщины покрытий существенно различаются. За одинаковый промежуток времени наиболее быстрый рост наблюдается у пленок молибдена: hmax=2,5 отн. ед.; у пленок свинца несколько меньше (h max =2 отн. ед.). Значительно меньшие скорости роста наблюдаются у оксидных покрытий: у пленок оксида свинца h max =0,071 отн. ед.; у пленок триоксида молибдена hmax=0,176 отн. ед. По-видимому, это связано с более сложными процессами распыления оксидных мишеней по сравнению с однокомпонентными мишенями. Необходимо учитывать данные факторы при проведении реальных экспериментов, проводить внимательный анализ коэффициентов распыления, оценивать геометрические параметры в рабочей камере и другие особенности экспериментов.
Согласно первой методике на поверхности подложки проводится рост тонких пленок по реакции: Pb + Mo с последующим отжигом в атмосфере кислорода O2; с получением в конечном результате слоев молибдата свинца PbMoO4. Таким образом, данная методика предполагает рост слоев в два этапа и является более трудоемкой и длительной по времени по сравнению со второй методикой.
Согласно второй методике рост тонких пленок происходит в один этап: PbO + MoO3 = PbMoO4.
Выражаем надежду, что результаты наших расчетов помогут ученым в проведении реальных экспериментов и позволят определить наилучшие условия синтеза покрытий сложного состава.
Список литературы Моделирование роста тонких пленок молибдата свинца PbMoO4 распылением ионными пучками
- Семенов А. П. Пучки распыляющих ионов: получение и применение. Улан-Удэ: Изд-во БНЦ СО РАН, 1999. 207 с. Текст: непосредственный.
- Sigmund P. Theory of Sputtering. Phys. Rev. 1969; 184(2): 383-416.
- Халтанов В. Э. Синтез молибдата свинца распылением ионными пучками // Вестник Бурятского государственного университета. Химия. Физика. 2024. Вып. 2. С. 29-32. Текст: непосредственный. EDN: BCXVLJ