О возможности определения среднеквадратического угла наклона микрограней шероховатой поверхности в технологических линиях производства автолиста

Одними из важных показателей оценки качества поверхности автолиста являются такие параметры, как и RPc. Эти параметры описывают среднее значение модуля ординат профиля и среднее значение числа пиков на единицу длины профиля, но они не дают полной информации о топографической структуре шероховатой поверхности. В данной работе в качестве альтернативы предлагается использование комплексных параметров среднеквадратического угла наклона микрограней шероховатой поверхности и – корреляционного расстояния профиля шероховатой поверхности. R_Δq – это комплексный параметр, учитывающий как высотные, так и частотные параметры профиля поверхности одновременно. Его значения более жёстко корреляционно связаны с коэффициентом сухого и вязкого трения, с прочностными характеристиками тонкослойных материалов, с маслоёмкостью поверхностного слоя. Параметр τ_e используется для очень гладких поверхностей. Он имеет чёткое физическое толкование как расстояние, выше которого корреляционная связь между ординатами поверхности теряется. Это его отличает от эмпирического параметра . В статье описана методика измерения и τe рефлектометрическим способом по индикатрисам рассеянного лазерного излучения (ИРЛИ) и программные средства для анализа ИРЛИ путём сопоставления экспериментальных и теоретических данных. Приведены примеры использования данной методики и программных средств для определения параметра поверхности как холоднокатаного, так и оцинкованного автолиста. Результаты работы данной можно использовать для разработки и внедрения приборов для бесконтактного измерения важнейшей трибологической характеристики поверхности в технологических линиях производства автолиста.