Определение и оценка прогнозных моделей качества для интегральных микросхем с использованием теории распознавания образов
Автор: Еранцева Е.С., Пиганов М.Н., Мишанов Р.О., Денисюк А.А.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 2 т.23, 2020 года.
Бесплатный доступ
В статье рассмотрена методика прогнозных моделей интегральных микросхем серии 564 на основе методов теории распознавания образов. Для построения моделей были использованы методы регрессионных моделей и дискриминантных функций. Проведено исследование полученных прогнозных моделей. Определены оптимальные значения порога дискриминантной и регрессионной функций. Оценены значения вероятности ошибочных решений, а также рисков потребителя и изготовителя.
Индивидуальное прогнозирование, интегральная микросхема, выборка, прогнозная модель, метод регрессионных моделей, метод дискриминантных функций, вероятностные характеристики
Короткий адрес: https://sciup.org/140256133
IDR: 140256133 | DOI: 10.18469/1810-3189.2020.23.2.76-80
Список литературы Определение и оценка прогнозных моделей качества для интегральных микросхем с использованием теории распознавания образов
- Электрофизическое диагностирование элементов радиоэлектронной аппаратуры / под ред. В.П. Бережного. М.: ЦНИИ "Электроника", 1990. 304 с.
- Electrophysical Diagnostics of Elements of Electronic Equipment. Ed. by V.P. Berezhnoy. Moscow: TsNII "Elektronika", 1990, 304 p. (In Russ.)
- Жаднов В.В. Прогнозирование надежности электронных средств с механическими элементами. Екатеринбург: ООО "Форт Диалог - Исеть", 2014. 172 с.
- Zhadnov V.V. Reliability Prediction of Electronic Devices with Mechanical Elements. Ekaterinburg: OOO "Fort Dialog - Iset'", 2014, 172 p. (In Russ.)
- Лучино А.И., Савина А.С. Исследование возможности индивидуального прогнозирования долговечности транзисторов методом распознавания образов // Электронная техника. Сер. 8. 1976. Вып. 10. С. 3-9.
- Luchino A.I., Savina A.S. Investigation of the possibility of individual prediction of transistor durability by pattern recognition. Elektronnaja tehnika. Ser. 8, 1976, no. 10, pp. 3-9. (In Russ.)
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Еранцева Е.С. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры // Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1 (5). C. 9-17.
- Tjulevin S.V., Piganov M.N., Erantseva E.S. To the problem of forecasting the quality indicators of space equipment elements. Nadezhnost' i kachestvo slozhnyh sistem, 2014, no. 1 (5), pp. 9-17. (In Russ.)
- Mishanov R., Piganov M. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrated circuits // The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII international conference. Ukraine: Lviv, 2015. P. 242-244. DOI: 10.1109/CADSM.2015.7230846
- Mishanov R., Piganov M. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrated circuits. The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII international conference. Ukraine: Lviv, 2015, pp. 242-244. DOI: 10.1109/CADSM.2015.7230846
- Сергеев В.А., Юдин В.В. Контроль качества цифровых интегральных микросхем по параметрам матрицы тепловой связи // Известия вузов. Электроника. 2009. № 6. С. 72-78.
- Sergeev V.A., Judin V.V. Quality control of digital integrated circuits according to the parameters of the thermal communication matrix. Izvestija vuzov. Elektronika, 2009, no. 6, pp. 72-78. (In Russ.)
- Устройство для отбраковки полупроводниковых диодов / С.В. Тюлевин [и др.] // Вестник СГАУ. 2014. № 2 (44). С. 68-73.
- Tjulevin S.V. et al. Device for rejection of semiconductor diodes. Vestnik SGAU, 2014, no. 2 (44), pp. 68-73. (In Russ.)
- Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М.: Новые технологии, 2002. 267 с.
- Piganov M.N. Individual Forecasting of Quality Indicators of Elements and Components of Microassemblies. Moscow: Novye tehnologii, 2002, 267 p. (In Russ.)
- Пестряков В.Б., Андреева В.В. Индивидуальное прогнозирование состояния РЭА с использованием теории распознавания образов: учебное пособие. Куйбышев: КуАИ, 1980. 82 с.
- Pestrjakov V.B., Andreeva V.V. Individual Prediction of the State of Cea Using the Theory of Pattern Recognition: A Training Manual. Kujbyshev: KuAI, 1980, 82 p. (In Russ.)
