Определение параметров амплитудных изображений микро- и нанообъектов при помощи излучения оптического диапазона
Автор: Балабанов Д.Е.
Журнал: Труды Московского физико-технического института @trudy-mipt
Рубрика: Физика
Статья в выпуске: 3 (59) т.15, 2023 года.
Бесплатный доступ
В работе предложена и апробирована методика исследования амплитудных изображений микро- и нанообъектов с использованием прямого визуально-микроскопического наблюдения. Методика основана на анализе интенсивности света рассеянного нанообъектами в дальней зоне. Установлено, что чувствительность метода существенно превышает классический релеевский предел.
Нанобъекты, визуально-микроскопическая методика наблюдения
Короткий адрес: https://sciup.org/142239455
IDR: 142239455
Список литературы Определение параметров амплитудных изображений микро- и нанообъектов при помощи излучения оптического диапазона
- Тычипский В.П. Корерентная фазовая микроскопия внутриклеточных процессов // УФН. 2001. Т. 171, № 6. С. 649 662.
- Жданов Г.С., Либенсон М.Н., Марциновский Г.А. Оптика внутри дифракционного предела: принципы, результаты, проблемы // УФН. 1998. Т. 168, № 7. С. 801 801.
- Andreev V.A., Indukaev К. V. The problems of subravleigh resolution in interference microscopy //j. of Russ. las. Res. 2003. V. 24, N 3. P. 220 236.
- Sommerfeld A. Lectures on Theoretical Physics: Optics. Academic Press, 1964. 383 p.
Статья научная
