Определение шероховатости поверхности с помощью поля направлений
Автор: Налимов А.Г., Котляр В.В., Скиданов Р.В.
Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics
Рубрика: Численные методы компьютерной оптики
Статья в выпуске: 25, 2003 года.
Бесплатный доступ
В данной работе описывается метод измерения шероховатости поверхности. Поскольку задача прямого измерения шероховатости поверхности является трудновыполнимой при малой амплитуде шероховатости, проводятся косвенные измерения шероховатости за счет измерения плотности дислокаций на спекл-интерферограмме. Используется связь между плотностью дислокаций и амплитудой шероховатости исследуемой поверхности. Для поиска дислокаций используется поле направлений спекл-интерферограммы.
Короткий адрес: https://sciup.org/14058597
IDR: 14058597
Статья научная
