Отказоустойчивая ячейка статической памяти с использованием функционально полных толерантных элементов

Бесплатный доступ

Предложено для повышения отказоустойчивости ячейки памяти SRAM использовать элементы с избыточным базисом - функционально полные толерантные (ФПТ) элементы, обеспечивающие работоспособность в случаях отказов и сбоев соответствующих транзисторов. Описано моделирование стандартной ячейки памяти SRAM, а затем ее модификации с использованием функционально полных толерантных элементов. Подтверждена работоспособность ячейки памяти при однократных константных отказах (сбоях). Произведено сравнение с отказоустойчивой реализацией в виде троированной ячейки памяти с мажоритарным элементом на выходе, показывающее предпочтительность предложенной ячейки по показателям сложности, быстродействия и вероятности безотказной, бессбойной работы.

Еще

Триггер, ячейка памяти sram, отказы и сбои, отказоустойчивость, мажоритирование, вероятность безотказной, бессбойной работы, система схемотехнического моделирования multisim

Короткий адрес: https://sciup.org/14729821

IDR: 14729821

Список литературы Отказоустойчивая ячейка статической памяти с использованием функционально полных толерантных элементов

  • Тюрин С.Ф. Функционально полные толерантные булевы функции//Наука и технология в России, 1998, № 4. С.7-10.
  • Тюрин С.Ф. Проблема сохранения функциональной полноты булевых функций при "отказах" аргументов//Автоматика и телемеханика. 1999. № 9. С. 176-186.
  • Туurin S., Kharchenko V. Redundant Basises for Critical Systems and Infrastructures: General Approach and Variants of Implementa-tionProceedings of the 1st Intrenational Workshop on Critical Infrastructures Safety and Security. Kirovograd, 2011. Vol. 2. P.300-307.
  • Тюрин С.Ф., Громов O.A., Греков A.B. Функционально полный толерантный элемент ФПТ+//Научно-технические ведомости С-Петерб. гос. политехи, ун-та. 2011. №1(115). С. 24-31.
  • Тюрин С.Ф., Громов О.А., Греков А.В. Функционально-полный толерантный элемент. Патент РФ № 2449469, опубл. 27.04.2012. Бюл. № 12.
  • Тюрин С.Ф., Громов О.А, Функционально полный толерантный элемент. Патент РФ № 2438234, опубл. 27.12.2011. Бюл. № 36.
  • Иыуду К. Надежность, контроль и диагностика вычислительных машин и систем. М.: Высшая школа, 1989. 219 с.
  • 6Т SRAM Ceil.URL: htrp://www.iue.tuwien. ac.at/phd/enmer/node34.html (дата обращения: 10.12).
  • ПЛИС Actel -основа при реализации "SoC" бортовой аппаратуры [Электронный ресурс]. URL: http://www.spigl.wordpress. com/2009/09/16/плис/(дата обращения: 20.10.12).
  • Степченков Ю.А., Дьяченко Ю.Г., Грш-фельд Ф.И. и др. Библиотека самосинхронных элементов для технологии БМК//Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем. 2006: сб. науч. тр./под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2006. С. 259-264.
  • Сайт разработчика National Instruments//http://www.ni.com/multisim/
  • Учебник по Multisim -Transient Analysis. URL: http://jeka91 lxs.narod.ru/analiz5.html
  • National Instruments -Error: Time Step Too Small in Multisim. URL: http://digital.ni.com/public. nsf/allkb/4B99B2CD6C0C3B6A 86257 205005D58E0 (дата обращения: 30.10.12).
Еще
Статья научная