Планарный многоотражательный времяпролетный масс-анализатор, работающий без ограничения диапазона масс
Автор: Явор М.И., Веренчиков А.Н.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Масс-спектрометрия для биотехнологии
Статья в выпуске: 2 т.14, 2004 года.
Бесплатный доступ
Предложена схема многоотражательного времяпролетного масс-анализатора, ионы в котором последовательно отражаются от двух параллельных друг другу двумерных бессеточных электростатических зеркал. Пространственное удержание пучка ионов при большом количестве отражений и временнáя фокусировка в широком диапазоне энергий обеспечиваются оптимизацией полевого распределения в зеркалах.
Короткий адрес: https://sciup.org/14264335
IDR: 14264335 | УДК: 621.384.668.8:
Planar multireflection time-of- flight mass analyzer with unlimited mass range
The paper presents the design of a multireflection time-of-flight mass analyzer wherein the ions are successively reflected from two parallel two-dimensional gridless electrostatic mirrors. The spatial confinement of an ion beam at numerous reflections and time focusing in a wide range of energies are achieved due to optimization of the field distribution at the mirrors. The analyzer is suitable for operation both in the high mass resolution mode and in the time-of-flight "slow" ion separation mode in tandem spectrometers.
Список литературы Планарный многоотражательный времяпролетный масс-анализатор, работающий без ограничения диапазона масс
- Park M. et. al.//Extended abstract ASMS, 2001 (www.asms.org).
- Каратаев В.И., Мамырин Б.А., Шмикк Д.В.//ЖТФ. 1971. Т. 41. С. 1498-1501.
- Wollnik H., Casares A.//Int. J. Mass Spectrometry. 2003. V. 227. P. 217-222.
- Toyoda M., Okumura D., Ishihara M., Katakuse I.//J. Mass Spectrometry. 2003. V. 38. P. 1125-1142.
- Hoyes J. et al.//Extended abstract ASMS, 2000 (www.asms.org); Patent EP 1237044 A2.
- Wollnik H. Patent GB 2080021A, 1982.
- Назаренко Л.М., Секунова Л.М., Якушев Е.М. А.с. SU 1725289 A1, 1992.
- Wollnik H., Casares A., Radford D., Yavor M.//Nucl. Instrum. Meth. A 2004. (in print).
- Verentchikov A., Yavor M.//Extended abstract ASMS, 2003. www.asms.org.
- Веренчиков А.Н.//Здесь. С. 24-37.
- Вольник Г. Оптика заряженных частиц. СПб.: Энергоатомиздат, 1992. 281 с.
- Dahl D.A. SIMION 3D v. 7.0: User's Manual. Idaho National Eng. Envir. Lab, 2000.
