Прибор с зарядовой связью и плотность поверхностных состояний

Эргашов А.К.

Журнал: Экономика и социум @ekonomika-socium

Рубрика: Основной раздел

Статья в выпуске: 5-2 (72), 2020 года.

Бесплатный доступ

Исследован принцип работы прибора с зарядовой связью. Потеря части заряда дала возможность определения плотности поверхностных состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик

полупроводник \ диэлектрик \ прибор с зарядовой связью \ плотность поверхностных состояний

Похожие статьи в разделе Физика конденсированного состояния (жидкое и твердое состояние)

Структурно-фазовые переходы в дисперсных неоднородных системах при наличии электроконтактного взаимодействия разнородных компонентов
Структурно-фазовые переходы в дисперсных неоднородных системах при наличии электроконтактного взаимодействия разнородных компонентов

Щербаченко Лия Авенировна, Донской Виктор Ильич, Шурыгина Наталья Александровна, Барышников Евгений Сергеевич, Ежова Лилия Игоревна, Барышников Дмитрий Сергеевич, Васильев Сергей Александрович, Афанасов Станислав Витальевич, Ленев Дмитрий Андреевич

О влиянии концентрации примесных центров захвата носителей заряда в твердотельных слоистых структурах на их свойства
О влиянии концентрации примесных центров захвата носителей заряда в твердотельных слоистых структурах на их свойства

Заярный Вячеслав Петрович, Пономарев Игорь Николаевич, Фролов Андрей Александрович, Астафурова Ольга Александровна

Оптимальная адаптивная система для исследования зарядовых и частотных свойств гетероструктур с зарядовой связью
Оптимальная адаптивная система для исследования зарядовых и частотных свойств гетероструктур с зарядовой связью

Заярный Вячеслав Петрович, Пономарев Игорь Николаевич, Гирич Сергей Владимирович, Астафурова Ольга Александровна

Короткий адрес: https://sciup.org/140252312

IDS: 140252312   |   УДК: 538.9

Charge-coupled device and density of surface states

The principle of the charge-coupled device is investigated. The loss of part of the charge made it possible to determine the density of surface states at the semiconductor-insulator interface

Текст научной статьи Прибор с зарядовой связью и плотность поверхностных состояний

Исследуя, принцип работы прибор с зарядовой связью(ПЗС) выяснили, что пропускание заряда через ПЗС с поверхностным каналом часть заряда теряется, И эта потеря определяется поверхностными состояниями на границе раздела полупроводник-диэлектрик. Заряд Q n , оставшийся после t=nt 0 времени, где t 0 – частота переключений в ПЗС n-число нулей, окажется равным, Qn = Q o - eNn где Q o -начальный заряд, N n - количество электронов генерированных за время nt 0 . Следовательно, N s - количество электронов на единицу площади, можно найти из формулы

N, (n )= Q-Q-s enS

Где e -заряд электрона, S- общий площадь электродов в ПЗС.

Это обстоятельство может быть использовано для определения поверхностных состояний на границе раздела полупроводник-диэлектрик. В работе [1,2] даётся методика приближенного определения плотности поверхностных состояний с помощью ПЗС.

Для определения плотности поверхностных состояний на границе раздела диэлектрик полупроводник воспользуемся тем, что скорость эмиссии носителей из поверхностных уровней зависит от энергии состояния следующим образом;

( Е А e em = O v T N c exP |-^l

Экспоненциальная зависимость скорости генерации от энергии позволяет провести резкую границу по энергии между свободными и заполненными поверхностными состояниями. Если все поверхности состояния в момент времени t=0 полностью заполнены, то за время t после ухода из поверхности свободных зарядов, ловушки c энергией больше Е, в основном, опустошаются, а состояние с меньшей энергией, в основном, полностью заполнены. Граница энергии, разделяющая заполненные и опустошенные состояния с течением времени сдвигается вглубь запрещенной зоны. Энергия состояния и время генерации связаны соотношением

( Е А t = т0 exp I     I где т = ^vTNc.

к kT J

Плотность поверхностных состояний по определению равна

N (Е )= N (Е + ДЕ)- N, (Е) sA '         ДЕ здесь N(Е) - полное число поверхностных состояний расположенных ниже энергии Е.

Используя эти соотношение плотность поверхностных состояний может быть представлена в виде t Ns (t + Д t)- N (t)

N ss ( E ( t )) =

kT

Д t

Изменение интервала времени можно осуществлять, пропустив через линейный регистр последовательность сигнала нулей и единиц. В этом случае из первой единицы, который следует после n нулей, на ловушках захватываются электроны равные пустым ловушкам, которые освободились за время следования нулей.

Пусть число электронов захваченных поверхностными ловушками из первой единицы N ( nt0 ) , здесь n - число нулей, t o - период импульсов. За время n t 0 освобождаются почти все уровни, расположенные выше энергии

Е = kT ln -0 .

Изменение

к т о )

освобождению электронов состояниями сдвинется на

числа нулей на Д n приведет дополнительному

к граница между, пустыми и заполненными

Д Е . В этом случае плотность поверхностных

состояний и потеря заряда на поверхностях связаны, следующим соотношением

N ss ( E ) -

n N (( n + A nt ) - N ( nt0 ) kT       А П

Здесь N(nt0) -определяется уменьшением высоты первой единицы, следующий после n нулей.

Если n>>∆n последнее выражение можно записать в виде

N        1 dN(ntо )

Nss(E) kTd (b (n))

Список литературы Прибор с зарядовой связью и плотность поверхностных состояний

  • N.Yu. Sharibayev, J.I. Mirzayev. Temperature Dependence of the Density of States and the Change in the Band Gap in Semiconductors. International Journal of Engineering and Advanced Technology (IJEAT),ISSN: 2249 - 8958, Volume-9, Issue-2, pp 1012-1017,2019
  • Н.Ю. Шарибаев, М.И. Мирзаев., Изменение ширины запрещенной зоны в ускозонных полупроводниках, Научный вестник НамГУ, №4 2019 ст 22-27.