Расчет элементов тензора комплексной диэлектрической проницаемости для анизотропных материалов

Автор: Александров Ю.М., Яцышен В.В.

Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp

Статья в выпуске: 1 т.18, 2015 года.

Бесплатный доступ

Произведен квантовомеханический расчет частотной зависимости элементов тензора действительной части комплексной диэлектрической проницаемости силицена на основе данных о волновых функциях, полученных с помощью пакета SIESTA.

Силицен, элементы тензора, комплексная диэлектрическая проницаемость

Короткий адрес: https://sciup.org/140255894

IDR: 140255894

Calculation of the elements of the complex dielectric tensor for anisotropic materials

The calculations of the real part of complex dielectric constant of silicene is produced by the first principles. Using the SIESTA program, the wave functions were constructed. For a sicilene layer the reflection frequency - angle spectra have been analyzed in the ATR configuration. The surface polaritons may be generated in this case.

Текст научной статьи Расчет элементов тензора комплексной диэлектрической проницаемости для анизотропных материалов

В работе исследовался силицен – двумерный материал, аналог графена, имеет ряд предпочтительных отличий от него. В последнее время он и устройства на его основе довольно активно изучаются [3–6]. Пока нет отработанной технологии получения данного материала в силу его низкой стабильности [3]. Однако структурные, электрические и оптические свойства в силу их особенности продолжают исследоваться [7–9]. На рис. 1 представлена молекулярная структура силицена.

Цель данной работы – рассчитать недиагональные элементы тензора комплескной диэлектрической проницаемости пленки титана, используя подход Аграновича, Гинзбурга, изложенный в [1, с. 339]. Согласно этому подходу, компоненты тензора определяются по формуле:

численное решение уравнения Кона-Шэма для изолированного псевдоатома с теми же приближениями (обменный функционал, псевдопотенциал), что и для конденсированной системы.

1 d 2

2 r dr 2

l ( l + 1)

2 r 2

)

+ V ( r ) R ( r ) = ER ( r ).

Решение данного уравнения производится методом Нумерова.

Базисная функция представляется в виде:

Ф IImn ( r ) = R lln (| С Ь ^m ( Г I ).

s j ) ( to , k ) = 1

4п V ea s

”2 У ^'

ю2 V ^ m a

a

' a

ij

4n c 2 у [ M nm HC M MC) A to 2 V m y n [ to to m +to

M^.. ( k ) M n^ ( k ) ' to + to m — to n

Под n подразумевается основное состояние.

Для определения матричных элементов M mn ( Z c ) необходимо знать вид волновых функций.

Для их получения взята программа SIESTA, которая использует метод МО ЛКАО. В качестве базисных функций выбираются NAO (numerical atomic orbitals), которые представляют собой

Базис характеризуется размером (количеством функций на один атом), диапазоном (пространственным расширением орбиталей), формой радиальной части. В качестве радиальной части берутся гауссовы функции, в качестве угловой – функции Бесселя.

Интересно то, что базисные функции строятся для изолированных атомов, а используются в конденсированном веществе. Это делается для большей гибкости при описании различных систем.

Однако было решено использовать численные данные о базисных функциях, которыми оперирует SIESTA. В данной программе они представлены в виде

^ ц = У, C цv Ф v ,

V где c^ — коэффициенты при базисных волновых функциях фV , радиальная часть которой представлена таблично, а угловая аналитически.

Таким образом,

Рис. 1. Молекулярная структура силицена

—T„ „( r, 0, ф) = 5t m o(r, 8-ф)    + m0

д x a                  д r a     д x a

дТ m o ( r , 0 , ф ) d0a дТ m o ( r , 0 , ф ) дф а

.

д0а    д x a      дф а     д x a

Учитывая (1), преобразуем выражение выше:

д

-— У C цv R v ( r ) Y v ( 0 , Ф ) о x

a

A

a y C цv R v ( r ) Y v ( 0 , Ф ) v ____________________ d r a +

Т.   У c ^v R V ( r ) Yv M.

V

a r a         a x a

Далее примем Т ц = Т n о — полная функция основного состояния системы.

Для расчета тензора диэлектрической проницаемости нужно знать компоненты матричных элементов М П т ( к ) , которые находятся, исходя из того, что:

M nm ( к ) = <Т n 0 | М ( к )| Т m0} =

= IU T * n 0 М ( k ) Т m 0 dxdydz , xyz

M ( k ) = - У d^ ( p «" + e ikr - p )

2 mc a a

~ a д p = - i n    .

'a

д У C av R v ( r ) Y v ( 0 , ф )

+    50a д0а        д xa

дУ Cav Rv (r) Yv (0, ф) v_______________дфа дфа       дxa

= У

v

+ У

v

+

' д ( C gv R v ( r ) Y v ( 0 , ф ) ) | д r a ^         д r a         J д x a

" д ( c av R v ( r ) Y v ( 0, ф)У| д0а ^ д0а        J д x a

+ У

v

"a( c av R v ( r ) Y v ( 0 ^ ) ) ^ дф д

д ф а

д x a

Далее подставляем формулы выше в выражение для матричного элемента:

M nm ( k ) = j T n o ( r , 0 , ф ) x

V

= У l c цv Y v ( 0,ф ) v ^

д R v ( r ) I д r a + д r a ) д x a

x

- У

2 mc a u

- i n A( eik ? « T m 0 ( r , 0 , ф ) ) + д r

У I c av R v ( r )

v ^

д Y v ( 0 , ф ) | д0 а а / x а

+ eik ?

( - i n )^ T m 0 ( r , 0 , ф ) I dV . д r a              J

+ У 1 C av R v ( r ) v ^

д Y v ( 0 , ф ) J дф а дфа J д x а

.

Чтобы получить компоненты матричного элемента, необходимо умножить слева на единичный вектор:

a       d n p = - i n     .

x дx a

Тогда получаем:

M x ( k ) =- y mc ( p >“ - r-+ * - r- p a ) a a

Аналогично для Mnym ( k ) и Mnym ( k ).

Из формулы, определяющей матричный элемент видно, что для решения задачи нужно знать частные производные волновой функции по x , y , z .

Очевидно, необходимо найти производные T m o ( r , 0, ф ) по пространственным координатам x , y , z . Ниже приведены результаты.

д r

— = sin 0 cos ф, д x д r

= cos 0 ;

д z д0 cos 0 cos ф

д r

— = sin 0 sin ф , д y

д x д0 д z дф д x

r

- sin 0

;

r

- sin ф r sin 0

дф д y

д0 cos 0 sin ф д y       r

cos ф r sin 0

^ 0.

д z

Выражения для компонент матричных элементов (на примере x -й) после взятия производ-

ных упрощаются:

_

M um ( k ) = J y о ( r , 0 , ф ) х

V

х

—Z

а

e (        (

——1 i h I ik x e x Y m 0 ( r , 0 ф ) +

2 m а c (   (

+ ^xr

a

Y m 0 ( r , 0 Ф ) a ж а

i h eik x r

a

7-- Y m 0 ( r , 0 Ф )

a x а

dV .

Данные интегралы берутся численно, методом трапеций [2], а производные – двухточечным методом. Должен быть учтен тот факт, что подынтегральные функции должны быть безразмерными. Размерность же производных волновой функции [ L 1]. Также размерностью обладает элемент объема r 2 sin 0 dr . Необходимо избавиться от размерности:

r = r0 r ‘, dV = d (V0 V'), где r] = 0.529E — 8.0 см (система СГС); r‘ - безразмерная величина.

Подставляя соответствующие переменные,

Раскрывая скобки, находим:

_

M Xm ( k ) = JX 0 ( r , 0 , Ф ) х

V

получаем:

_

M xm ( k ) =

Ne h

2 mc

х

-z

а

e а

2 m а c

h k xei k x r W m 0 ( r , 0 ф )

r r n 2 n

JJJ

A o ( r , 0 , ф ) k x eikxr Y m o ( r , 0 , ф ) х

х r 2

2 i h eik x ^Xy m 0 ( r , 0 , ф ) a x а

dV .

r n 2n sin 0 dr d0 dф + JJ J 2ieikxrY^o(r, 0, ф) х

Далее для тождественных частиц (электронов) сумма под интегралом заменяется произведением:

a х — ax

Y m о ( r , 0 , ф ) r 2 sin 0 dr d 0 d ф ®

_

M^ xm ( k ) = JX o ( r , 0 , ф ) х

V

х

h k x e ik x r Y m о ( r , 0 , Ф )

2 i h eik x r ±Y m 0 ( r , 0 , ф )

dV ,

3 Г      nL m L

*  ---- h r h 0 h ф ^^^ q ijk ( —Y n 0 ( r ', 0 ф )

2 mcr0 L       ill jit k=l    V х kxekxr0r Ymo(r', 0, ф) r2 sin 0) + nm l

+ hrh0hф ZZ Z qijk 2ieikxr Yn0 (r', 0 ф) х i=1 j=1 k=1

a х^Y m 0(r, 0 ф) r 2sin 0 .

a x

где N – число электронов в единице объема.

Вынося константы за знак интеграла и опуская проекции, получаем:

M Xm ( k ) = Ne ^ IX o ( r , 0 , Ф ) х 2 mc

“ V х — kxeikxr^m0 (r, 0 ф) +

Получив матричные элементы, можно рассчитать компоненты тензора диэлектрической проницаемости. Для этого преобразуем формулу, учитывая тождественность электронов и вынося общий множитель за скобки, а также факт, что величины в зависимости должны быть без-

размерными.

Диагональные компоненты представляются

+ 2 ie ik x r “XV m 0 ( r , 0 , ф ) dV .

системой:

После чего интеграл можно разбить на

_    Ne h

M nm (k) =     х nm

2 mc

S in )( ® , k) =

два:

= 1 —

4 п    I Ne 2 c 2 ( Ne h r ] ) 2

(to0to')2 v m + h ^ 2mc ?

х

х JX o( r , 0 Ф ) k

_ V

e

:ik x r Y m 0 ( r , 0 , ф) dV +

+ J 2 ie ik x r< o ( r , 0 , Ф ) V

a

T- Y m 0 ( r , 0 Ф ) dV a x

_        _

Mlnm ( k ) M mn ( k ) ® o (®' ® m + ® n )

M mn ( k ) M ^m ( k ) 1 ® o (®'+® m ® n ) ?

Рис. 2. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Диагональные элементы £_-, £ , £_~. Гамма-точка зоны Бриллю-xx yy zz эна

Рис. 4. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Недиагональные элементы £ Ж2 , £ z K . Гамма-точка зоны Бриллюэна

2 4 эВ

Рис. 3. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Недиагональные элементы £ x , £ уж . Гамма-точка зоны Бриллюэна

Рис. 5. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Недиагональные элементы £ , £ . Гамма-точка зоны Бриллюэна yz zy

Далее:

Обозначая,

y n ) ( о , k = 1 -

( E 0 E f V V’

A =

4 п Ne 0 m 0

, m 0 V 0 E 0

N Й 0   f д V 0 ]

b =1I

4 m 0 E 0 V r 0 )

.

f N (e0ef N2r4 (egef (^й')2 --+--n----------- v m0m'        4 (m0m')2

Все константы

£ in ) ( О , k ) = 1 -

в

СГС.

A I I 1 + B x V'IE'J I

z

m * n

M nm ( - k ) M^ mn ( k ) E 0 ( E '- E m + Е П )

-

M mn ( - k ) M nm ( k ) ' E 0 ( E ' + E m - E n )

После упрощения получаем:

£^ ) ( o , k ) = 1 -

4n Ne 0 k 0 ( Й ' ) 2 m 0 V 0 E 0 V'

2 ft e I "E 7 J

x

xZ

m * n L

f 1     N Й 0 Г 4 Й ' f 1 2

+ " I I m'   4 m 0 E 0   V m' )

xZ

m * n

M nm ( - k ) M mn ( k ) ( EE m + E n )

-

M mn ( - k ) M nm ( k ) ( e '+ E m - E n )

Учитывая, что Й ' = e' = c' = m' = 1, получаем:

£ in )( o , k) = 1

4 n Nepho 1 f^ | 2 m 0 VE 2 V 'I E 'J

f

1 +

V

N ft 0 r 4 x 4 m 0 E 0

xZ

m * n

Mlnm ( - k ) Mlmn ( k ) ( E '- E m + E n )

-

Mlmn ( - k ) Mlnm ( k ) ( E ' + E m - E n )

A

)

Minm ( - k ) Mlmn ( ? ) M mn ( - k ) M;

—*

i

——

( E '- E m + E n )

-

nm

( k )

(E' + Em- En) JJ

.

E ' — в ридберг, V ' — в кубических борах.

Недиагональные компоненты выразятся формулой:

£ j ) ( to , k ) =

xZ

m * n L

-

4 п c 2

—x

Й О 2 V

M nm (- k ) M^mn ( k ) M mn (- k ) M^nm ( k ) --------------- — ---------------

о - о m + о n

(О + tom

-

to n

.

На рис. 2–5 приведены графики качественных

результатов на основании данных формул.

Список литературы Расчет элементов тензора комплексной диэлектрической проницаемости для анизотропных материалов

  • Агранович В.М., Гинзбург В.Л. Кристаллооптика с учетом пространственной дисперсии и теория экситонов. М.: Наука, 1979.
  • Блюмин А.Г., Федотов А.А., Храпов П.В. Численные методы вычисления интегралов и решения задач для обыкновенных дифференциальных уравнений: методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Численные методы». М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008.
  • The instability of silicene on Ag(111) / A. Acun [et al.] // Appl. Phys. Lett. 2013. № 103. P. 263119.
  • Chao Lian, Jun Ni. Strain induced phase transitions in silicene bilayers: a first principles and tight-binding study // AIP Advances. 2013. № 3. P. 052102.
  • Tahir M., Schwingenschlög U. Magnetocapacitance of an electrically tunable silicene device // Appl. Phys. Lett. 2012. № 101. P. 132412.
  • Epitaxial growth of a silicene sheet / Boubekeur Lalmi [et al.] // Appl. Phys. Lett. 2010. № 97. P. 223109.
  • Structural, electronic, and optical properties of hydrogenated few-layer silicene: Size and stacking effects / Yang Liu [et al.] // J. Appl. Phys. 2013. № 114. P. 094308.
  • Xiaokun Gu, Ronggui Yang. First-principles prediction of phononic thermal conductivity of silicene: a comparison with graphene // J. Appl. Phys. 2015. № 117. P. 025102.
  • Thermal conductivity and spectral phonon properties of freestanding and supported silicene / Zuyuan Wang [et al.] // J. Appl. Phys. 2015. № 117. P. 084317.
Еще