Расчет элементов тензора комплексной диэлектрической проницаемости для анизотропных материалов
Автор: Александров Ю.М., Яцышен В.В.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 1 т.18, 2015 года.
Бесплатный доступ
Произведен квантовомеханический расчет частотной зависимости элементов тензора действительной части комплексной диэлектрической проницаемости силицена на основе данных о волновых функциях, полученных с помощью пакета SIESTA.
Силицен, элементы тензора, комплексная диэлектрическая проницаемость
Короткий адрес: https://sciup.org/140255894
IDR: 140255894
Текст научной статьи Расчет элементов тензора комплексной диэлектрической проницаемости для анизотропных материалов
В работе исследовался силицен – двумерный материал, аналог графена, имеет ряд предпочтительных отличий от него. В последнее время он и устройства на его основе довольно активно изучаются [3–6]. Пока нет отработанной технологии получения данного материала в силу его низкой стабильности [3]. Однако структурные, электрические и оптические свойства в силу их особенности продолжают исследоваться [7–9]. На рис. 1 представлена молекулярная структура силицена.
Цель данной работы – рассчитать недиагональные элементы тензора комплескной диэлектрической проницаемости пленки титана, используя подход Аграновича, Гинзбурга, изложенный в [1, с. 339]. Согласно этому подходу, компоненты тензора определяются по формуле:
численное решение уравнения Кона-Шэма для изолированного псевдоатома с теми же приближениями (обменный функционал, псевдопотенциал), что и для конденсированной системы.
1 d 2
2 r dr 2
l ( l + 1)
2 r 2
)
+ V ( r ) R ( r ) = ER ( r ).
Решение данного уравнения производится методом Нумерова.
Базисная функция представляется в виде:
Ф IImn ( r ) = R lln (| С Ь ^m ( Г I ).
s j ) ( to , k ) = 1
—
4п V ea s
”2 У ^'
ю2 V ^ m a
a
' a
ij
—
4n c 2 у [ M nm HC M MC) A to 2 V m y n [ to — to m +to „
M^.. ( — k ) M n^ ( k ) ' to + to m — to n
Под n подразумевается основное состояние.
Для определения матричных элементов M mn ( Z c ) необходимо знать вид волновых функций.
Для их получения взята программа SIESTA, которая использует метод МО ЛКАО. В качестве базисных функций выбираются NAO (numerical atomic orbitals), которые представляют собой
Базис характеризуется размером (количеством функций на один атом), диапазоном (пространственным расширением орбиталей), формой радиальной части. В качестве радиальной части берутся гауссовы функции, в качестве угловой – функции Бесселя.
Интересно то, что базисные функции строятся для изолированных атомов, а используются в конденсированном веществе. Это делается для большей гибкости при описании различных систем.
Однако было решено использовать численные данные о базисных функциях, которыми оперирует SIESTA. В данной программе они представлены в виде
^ ц = У, C цv Ф v ,
V где c^ — коэффициенты при базисных волновых функциях фV , радиальная часть которой представлена таблично, а угловая аналитически.
Таким образом,

Рис. 1. Молекулярная структура силицена
—T„ „( r, 0, ф) = 5t m o(r, 8-ф) + m0
д x a д r a д x a
дТ m o ( r , 0 , ф ) d0a дТ m o ( r , 0 , ф ) дф а
.
д0а д x a дф а д x a
Учитывая (1), преобразуем выражение выше:
д
-— У C цv R v ( r ) Y v ( 0 , Ф ) о x „
a
A
a y C цv R v ( r ) Y v ( 0 , Ф ) v ____________________ d r a +
Т. У c ^v R V ( r ) Yv M.
V
a r a a x a
Далее примем Т ц = Т n о — полная функция основного состояния системы.
Для расчета тензора диэлектрической проницаемости нужно знать компоненты матричных элементов М П т ( к ) , которые находятся, исходя из того, что:
M nm ( к ) = <Т n 0 | М ( к )| Т m0} =
= IU T * n 0 М ( k ) Т m 0 dxdydz , xyz
M ( k ) = - У d^ ( p “ «" ■ + e ikr - p “ ) •
2 mc a a
~ a д p = - i n .
'a
д У C av R v ( r ) Y v ( 0 , ф )
+ 50a д0а д xa
дУ Cav Rv (r) Yv (0, ф) v_______________дфа дфа дxa
= У
v
+ У
v
+
' д ( C gv R v ( r ) Y v ( 0 , ф ) ) | д r a ^ д r a J д x a
" д ( c av R v ( r ) Y v ( 0, ф)У| д0а ^ д0а J д x a
+ У
v
"a( c av R v ( r ) Y v ( 0 ^ ) ) ^ дф д
д ф а
д x a
Далее подставляем формулы выше в выражение для матричного элемента:
M nm ( k ) = j T n o ( r , 0 , ф ) x
V
= У l c цv Y v ( 0,ф ) v ^
д R v ( r ) I д r a + д r a ) д x a
x
- У
2 mc a u
- i n A( eik ? « T m 0 ( r , 0 , ф ) ) + д r
У I c av R v ( r )
v ^
д Y v ( 0 , ф ) | д0 а а / x а
+ eik ? “
( - i n )^ T m 0 ( r , 0 , ф ) I dV . д r a J
+ У 1 C av R v ( r ) v ^
д Y v ( 0 , ф ) J дф а дфа J д x а
.
Чтобы получить компоненты матричного элемента, необходимо умножить слева на единичный вектор:
a d n p = - i n .
x дx a
Тогда получаем:
M x ( k ) =- y mc ( p >“ - r-+ * - r- p a ) a a
Аналогично для Mnym ( k ) и Mnym ( k ).
Из формулы, определяющей матричный элемент видно, что для решения задачи нужно знать частные производные волновой функции по x , y , z .
Очевидно, необходимо найти производные T m o ( r , 0, ф ) по пространственным координатам x , y , z . Ниже приведены результаты.
д r
— = sin 0 cos ф, д x д r
= cos 0 ;
д z д0 cos 0 cos ф
д r
— = sin 0 sin ф , д y
д x д0 д z дф д x
r
- sin 0
;
r
- sin ф r sin 0
дф д y
д0 cos 0 sin ф д y r
cos ф r sin 0
^ 0.
д z
Выражения для компонент матричных элементов (на примере x -й) после взятия производ-
ных упрощаются:
_
M um ( k ) = J y „ о ( r , 0 , ф ) х
V
х
—Z
а
e ( (
——1— i h I ik x e x “ Y m 0 ( r , 0 ф ) +
2 m а c ( (
+ ^xr
a
Y m 0 ( r , 0 Ф ) a ж а
—
— i h eik x r “
a
7-- Y m 0 ( r , 0 Ф )
a x а
dV .
Данные интегралы берутся численно, методом трапеций [2], а производные – двухточечным методом. Должен быть учтен тот факт, что подынтегральные функции должны быть безразмерными. Размерность же производных волновой функции [ L — 1]. Также размерностью обладает элемент объема r 2 sin 0 dr . Необходимо избавиться от размерности:
r = r0 r ‘, dV = d (V0 V'), где r] = 0.529E — 8.0 см (система СГС); r‘ - безразмерная величина.
Подставляя соответствующие переменные,
Раскрывая скобки, находим:
_
M Xm ( k ) = JX 0 ( r , 0 , Ф ) х
V
получаем:
_
M xm ( k ) =
Ne h
2 mc
х
-z
а
e а
2 m а c
h k xei k x r “ W m 0 ( r , 0 ф ) —
r r n 2 n
JJJ
— A o ( r , 0 , ф ) k x eikxr Y m o ( r , 0 , ф ) х
х r 2
— 2 i h eik x ^Xy m 0 ( r , 0 , ф ) a x а
dV .
r n 2n sin 0 dr d0 dф + JJ J 2ieikxrY^o(r, 0, ф) х
Далее для тождественных частиц (электронов) сумма под интегралом заменяется произведением:
a х — ax
Y m о ( r , 0 , ф ) r 2 sin 0 dr d 0 d ф ®
_
M^ xm ( k ) = JX o ( r , 0 , ф ) х
V
х
h k x e ik x r Y m о ( r , 0 , Ф ) —
— 2 i h eik x r ±Y m 0 ( r , 0 , ф )
dV ,
3 Г nL m L
* ---- h r h 0 h ф ^^^ q ijk ( —Y n 0 ( r ', 0 ф )
2 mcr0 L ill jit k=l V х kxekxr0r Ymo(r', 0, ф) r2 sin 0) + nm l
+ hrh0hф ZZ Z qijk 2ieikxr Yn0 (r', 0 ф) х i=1 j=1 k=1
a х^Y m 0(r, 0 ф) r 2sin 0 .
a x
где N – число электронов в единице объема.
Вынося константы за знак интеграла и опуская проекции, получаем:
M Xm ( k ) = Ne ^ IX o ( r , 0 , Ф ) х 2 mc
“ V х — kxeikxr^m0 (r, 0 ф) +
Получив матричные элементы, можно рассчитать компоненты тензора диэлектрической проницаемости. Для этого преобразуем формулу, учитывая тождественность электронов и вынося общий множитель за скобки, а также факт, что величины в зависимости должны быть без-
размерными.
Диагональные компоненты представляются
+ 2 ie ik x r “XV m 0 ( r , 0 , ф ) dV .
системой:
После чего интеграл можно разбить на
_ Ne h
M nm (k) = х nm
2 mc
S in )( ® , k) =
два:
= 1 —
4 п I Ne 2 c 2 ( Ne h r ] ) 2
(to0to')2 v m + h ^ 2mc ?
х
х JX o( r , 0 Ф ) k
_ V
e
:ik x r Y m 0 ( r , 0 , ф) dV +
+ J 2 ie ik x r< o ( r , 0 , Ф ) V
a
T- Y m 0 ( r , 0 Ф ) dV • a x
_ _
Mlnm ( — k ) M mn ( k ) ® o (®' — ® m + ® n )
M mn ( — k ) M ^m ( k ) 1 ® o (®'+® m — ® n ) ?

Рис. 2. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Диагональные элементы £_-, £ , £_~. Гамма-точка зоны Бриллю-xx yy zz эна

Рис. 4. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Недиагональные элементы £ Ж2 , £ z K . Гамма-точка зоны Бриллюэна

2 4 эВ
Рис. 3. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Недиагональные элементы £ x , £ уж . Гамма-точка зоны Бриллюэна

Рис. 5. Действительная часть диэлектрической проницаемости кремния без учета релаксационных процессов. Недиагональные элементы £ , £ . Гамма-точка зоны Бриллюэна yz zy
Далее:
Обозначая,
y n ) ( о , k = 1 -
( E 0 E f V V’
A =
4 п Ne 0 m 0
, m 0 V 0 E 0
N Й 0 f д V 0 ]
b =1I
4 m 0 E 0 V r 0 )
.
f N (e0ef N2r4 (egef (^й')2 --+--n----------- v m0m' 4 (m0m')2
Все константы
£ in ) ( О , k ) = 1 -
в
СГС.
A I I 1 + B x V'IE'J I
z
m * n
M nm ( - k ) M^ mn ( k ) E 0 ( E '- E m + Е П )
-
M mn ( - k ) M nm ( k ) ' E 0 ( E ' + E m - E n )
После упрощения получаем:
£^ ) ( o , k ) = 1 -
4n Ne 0 k 0 ( Й ' ) 2 m 0 V 0 E 0 V'
2 ft e I "E 7 J
x
xZ
m * n L
f 1 N Й 0 Г 4 Й ' f 1 2
+ " I I m' 4 m 0 E 0 V m' )
xZ
m * n
M nm ( - k ) M mn ( k ) ( EE m + E n )
-
M mn ( - k ) M nm ( k ) ( e '+ E m - E n )
Учитывая, что Й ' = e' = c' = m' = 1, получаем:
£ in )( o , k) = 1
4 n Nepho 1 f^ | 2 m 0 VE 2 V 'I E 'J
f
1 +
V
N ft 0 r 4 x 4 m 0 E 0
xZ
m * n
Mlnm ( - k ) Mlmn ( k ) ( E '- E m + E n )
-
Mlmn ( - k ) Mlnm ( k ) ( E ' + E m - E n )
A
)
—
Minm ( - k ) Mlmn ( ? — ) M mn ( - k ) M;
—*
i
——
( E '- E m + E n )
-
nm
—
( k )
(E' + Em- En) JJ
.
E ' — в ридберг, V ' — в кубических борах.
Недиагональные компоненты выразятся формулой:
£ j ) ( to , k — ) =
xZ
m * n L
-
4 п c 2
—x
Й О 2 V
M nm (- k ) M^mn ( k ) M mn (- k ) M^nm ( k ) --------------- — ---------------
о - о m + о n
(О + tom
-
to n
.
На рис. 2–5 приведены графики качественных
результатов на основании данных формул.
Список литературы Расчет элементов тензора комплексной диэлектрической проницаемости для анизотропных материалов
- Агранович В.М., Гинзбург В.Л. Кристаллооптика с учетом пространственной дисперсии и теория экситонов. М.: Наука, 1979.
- Блюмин А.Г., Федотов А.А., Храпов П.В. Численные методы вычисления интегралов и решения задач для обыкновенных дифференциальных уравнений: методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Численные методы». М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008.
- The instability of silicene on Ag(111) / A. Acun [et al.] // Appl. Phys. Lett. 2013. № 103. P. 263119.
- Chao Lian, Jun Ni. Strain induced phase transitions in silicene bilayers: a first principles and tight-binding study // AIP Advances. 2013. № 3. P. 052102.
- Tahir M., Schwingenschlög U. Magnetocapacitance of an electrically tunable silicene device // Appl. Phys. Lett. 2012. № 101. P. 132412.
- Epitaxial growth of a silicene sheet / Boubekeur Lalmi [et al.] // Appl. Phys. Lett. 2010. № 97. P. 223109.
- Structural, electronic, and optical properties of hydrogenated few-layer silicene: Size and stacking effects / Yang Liu [et al.] // J. Appl. Phys. 2013. № 114. P. 094308.
- Xiaokun Gu, Ronggui Yang. First-principles prediction of phononic thermal conductivity of silicene: a comparison with graphene // J. Appl. Phys. 2015. № 117. P. 025102.
- Thermal conductivity and spectral phonon properties of freestanding and supported silicene / Zuyuan Wang [et al.] // J. Appl. Phys. 2015. № 117. P. 084317.