Разработка измерителей высоких уровней СВЧ-мощности на основе структур карбид кремния на изоляторе для аэрокосмических систем
Автор: Курганская Л.В., Щербак А.В.
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Физика и электроника
Статья в выпуске: 6-1 т.13, 2011 года.
Бесплатный доступ
Рассмотрены вопросы разработки чувствительного элемента датчика СВЧ-мощности на основе слоев карбида кремния на изолирующих подложках, в основе работы которого лежит радиоэлектрический эффект в полупроводниках.
Радиоэлектрический эффект, чувствительный элемент датчика свч-мощности
Короткий адрес: https://sciup.org/148200515
IDR: 148200515
Текст научной статьи Разработка измерителей высоких уровней СВЧ-мощности на основе структур карбид кремния на изоляторе для аэрокосмических систем
К электронным компонентам, применяемым в узлах и системах аэрокосмического назначения, предъявляются повышенные требования в первую очередь по надежности и массогабаритным характеристикам [1], [2]. Традиционно применяемые в настоящее время для контроля и измерения высоких уровней СВЧ мощности тепловые датчики [3] обычно не отвечают всем требованиям, предъявляемым к аппаратуре аэрокосмического назначения [2]. Основные недостатки таких датчиков связаны с невысокими эксплуатационными характеристиками, а именно: малой предельно допустимой мощностью измеряемого сигнала (при измерении больших мощностей требуется ослабитель), высокой инерционностью процесса измерения, невысокой точностью, а также неудовлетворительными массогабаритными характеристиками. Широко распространенные полупроводниковые диоды СВЧ диапазона работают при малых уровнях СВЧ мощности и имеют нелинейную характеристику [3].
В связи с этим вопросы разработки полупроводниковых преобразователей СВЧ-мощности, непосредственно преобразующих величину уровня СВЧ мощности в сигнал постоянного тока являются актуальными для аэрокосмического приборостроения. Действие таких преобразователей основано на использовании радио-электрического эффекта в полупроводниках. В настоящее время использование радиоэлектри-ческого эффекта для измерения СВЧ мощности сдерживается низкой чувствительностью и на-
личием различного рода дополнительных эффектов, возникающих в полупроводниках под действием СВЧ излучения, и приводящих к существенным искажениям полезного сигнала.
В настоящей работе анализируются причины возникновения дополнительных эффектов и разрабатываются меры по минимизации их влияния на выходной сигнал измерительного преобразователя.
РАДИОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ЭФФЕКТ
Возникновение постоянной ЭДС в проводящей среде при распространении электромагнитной волны называется радиоэлектрическим эффектом [4].
Исходя из общности рассмотрения кинетики процесса взаимодействия электромаг-нитной волны со свободными носителями заряда в твердом теле, ЭДС, возникающая в проводящей среде, связана с анизотропией функции распределения электронов. Ее возникновение может быть обусловлено силой Лоренца (высокочастотный эффект Холла), т.е. динамическим действием, а также градиентом электромагнитного поля, действие которого, в частности, проявляется в неоднородном разогреве среды вдоль направления вектора Умова-Пойнтинга.
Рассматривая основные теоретические модели радиоэлектрического эффекта, можно определить условия преобладания увлекающего механизма радиоэдс над неоднородно разогревающим (градиентным) механизмом возникновения ЭДС. В наиболее простом случае взаимодействия полупроводника с электромагнитным полем, температура электронов и фононов локально одинакова. Полная система уравнений для нахождения ЭДС в образце состоит из уравнений Максвелла и уравнения теплопроводности, источником в котором служит джоулево тепло, выделяемое в полупроводнике при прохождении плоской электромагнитной волны и уравнениями, определяющими макроскопическую связь между током, электрическим полем и градиентом температуры. Последнее необходимо для учета термоэлектродвижущих сил (термоэдс). Поток тепла в этом приближении зависит не только от градиента температуры, но и от плотности тока.
Для сравнительно низких частот ( to = 5 , 7 -1010 + 2 , 5 -1011 Гц) ЭДС увлечения и тер-моэдс имеют следующий вид [4], [5], [6]:
4л- 1-е"La
V | = ^ W 0--------; (1)
c2 a r _ aT W0 h1(1-aL-e La) + h2(1-e La(1-La))
T =
X a h 1 + h 2 + L
, (2)
где цн - холловская подвижность носителей в полупроводниках; W0 – плотность потока мощности, падающей на проводящую среду; a - коэффициент поглощения электромагнитной волны; aT - коэффициент термоэдс; X - коэффициент теплопроводности; h1 и h2 – коэффициенты обратной величины теплоотдачи, h1 = 4STT ’ S - постоянная Стефана-Больцмана.
При h1 = h2 = 0 имеем VT = 0 . Стало быть в случае хорошего теплоотвода с обеих сторон поверхности полупроводниковой пластины термо-эдс не вносит вклада в радиоэлектрический эффект. Термоэдс максимальна, если электромагнитная волна падает на поверхность слоя полупроводника из вакуума, а противоположная сторона поддерживается при постоянной темпе- ратуре. При h1 >> L >> — ЭДС увлечения не за-a висит от L , а VT растет линейно с размерами образца вдоль распространения электромагнит- ной волны. Если это так и L >> h1, h2, —, то
a
V T = “W 0 h 1 (3)
и определяется только теплоотводом через ту сторону пластины, на которую падает электромагнитная волна. Оценить рост термоэдс удобно, сравнив VT и V|| :
VT
V
“c г/ T X / f ( La)
Wh X ’
где aL , 1
f ( La ) = k ' при “L << 1
aL , при aL >> 1
Еще одним возможным источником термо-эдс может быть неоднородный разогрев свободных носителей заряда в объеме преобразователя. Рассматривая совместно уравнения Максвелла и уравнение переноса заряда и тепла свободными носителями, получаем [7], что ЭДС увлечения (высокочастотный эффект Холла) дает основной вклад в радиоэдс, если выполняется условие:
k" i
®Te^; «1, (5)
где k' - действительная часть волнового вектора плоской электромагнитной волны, к" - мнимая часть волнового вектора, те - время релаксации электрона по энергии в полупроводнике.
Если неоднородность разогрева электронов вносит основной вклад в постоянный ток (т.е. выполняется условие обратное (5)) то разность потенциалов, возникающая в образце, имеет вид [7]:
V =
Vo---i (E1
3 ms v 2 + о 2
- E 2 2 ) ,
где E 1 и E 2 – напряженности поля на передней и задней стенках полупроводниковой пластины, v = 1 / Te .
Таким образом, при взаимодействии электромагнитной волны с полупроводником возникают термоэдс двоякой природы: электронной и решеточной [7] . В том случае, когда теплопроводность решетки много больше теплопроводности электронов, т.е.
l L
X >> X e ];“ , (7)
где Х и xe - теплопроводность решетки и электронов соответственно, разогревом решетки можно пренебречь при любой длительности электромагнитного импульса [6], [7]. Таким образом, при достаточно хорошем теплообмене электронной системы можно избежать появления заметной термоэдс в образце. Следовательно, для того, чтобы преобладал увлекающий эффект над разогревающим, необходимо уменьшать толщину образцов и увеличивать теплоотвод с поверхности.
Выполнение требований для достижения преобладания увлекающего эффекта над разогревающим наталкивается на принципиальные трудности в рамках рассматриваемых моделей, так как уменьшение толщины образца приводит к возникновению сильной неоднородности полупроводника (влияние неоднородности поверхности) и к уменьшению эффективности теплоотвода через боковые грани, что наиболее важно для уменьшения разности температур между передней и задней стенками пластины.
МАТЕРИАЛЫ ДЛЯ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ СВЧ МОЩНОСТИ
На сверхвысоких частотах требования к параметрам полупроводникового материала, размерам и форме образца, геометрии контакта ме-талл-полупроводник, состоянию поверхности преобразователя становятся более высокими, чем на постоянном токе. Это связано с тем, что размеры образца сравнимы с длиной волны, особенно в миллиметровом диапазоне длин волн, и вносимое образцом возмущение волны может привести к возникновению нежелательных эффектов. Выбор полупроводникового материала для СВЧ преобразователя в основном определяется двумя факторами: максимальной чувствительностью образцов и наилучшим согласованием их сопротивления с волновым сопротивлением передающего тракта.
Как показано в [8], максимальная чувствительность будет у полупроводников с максимальной подвижностью и минимальной концентрацией носителей заряда. Наиболее приемлемыми материалами в этом случае являются InSb n -типа и InAs, обладающие максимальными подвижностями носителей заряда из всех известных полупроводников. Антимонид индия обладает очень высокой подвижностью электронов, достигающей 65000…78000 см2В-1с-1 при комнатной температуре и 106 при температуре 77К [9]. Подвижность дырок в 40…100 раз меньше. Эффективная масса электронов 0,0015m0, дырок – 0,18m0. Недостатком этого материала является сильная зависимость его характеристик от температуры.
Арсенид индия по своим свойствам похож на антимонид индия. Его зонная структура подобна зонной структуре антимонида индия. Под- вижность электронов немного меньше подвижности электронов в InSb. Известно [9], что подвижность в InAs р-типа лежит в пределах от 460 см2/В·с при концентрации акцепторов 3·1016 см3 до 120 см2/В·с при концентрации 2·1019см-3.
Исследования InAs n -типа с концентрацией доноров 1,6-1016 см-3 показали [9], что постоянная Холла Rx почти не изменяется в пределах от 1,5К до комнатной температуры, а подвижность равна 30000 см2/В·с в пределах от 1,3 до 10 К.
Основной недостаток преобразователей СВЧ мощности на основе InSb и InAs при более высоких температурах связан с тем, что они пригодны для измерения малых (милливатты) уровней мощности.
Известно [10], что материалы с большой шириной запрещенной зоны (SiC, алмаз) имеют параметры, обеспечивающие возможность их применения в приборах, действующих при высоких температурах (до 700К); эти материалы также обладают высокой теплопроводностью, в них слабо проявляются эффекты радиационных нарушений. Основные параметры карбида кремния в сравнении с широко используемым в настоящее время полупроводниковым материалом кремнием приведены в табл. 1. Карбид кремния представлен политипами 6Н-, 4H-, 3С-, 15R-модификации.
Как видно из табл. 1, карбид кремния 3C-SiC имеет подвижность электронов 1000 см/В·с, что на два порядка меньше, чем подвижность в InSb. Следовательно, чувствительность преобразователей радиоэдс на основе SiC будет меньше, чем у аналогичных приборов на основе антимонида индия. Однако при измерении больших уровней СВЧ мощности снижение чувствительности вполне допустимо. Средние уровни мощности,
Таблица 1. Политипы карбида кремния
Параметры |
Полупроводники |
||||
Si |
SiC (политипы) |
||||
3С |
15R |
4H |
6H |
||
Ширина запрещенной зоны (300К) Eg , эВ |
1,12 |
2,4 |
3,02 |
3,28 |
3,09 |
Постоянные решетки а/с , ? |
5,44 |
4,36 |
3,07/ 37,3 |
3,076/ 10,05 |
3,08/ 15,12 |
Диэлектрическая проницаемость ε/ε0 |
11,8 |
6,5 |
6,5 |
||
Теплопроводность (300К), Вт/(см∙град) |
0,8-1,4 |
1,3-2,6 |
3-5 |
||
Допустимая температура Т р, К |
500 |
800 |
1000 |
1000 |
1000 |
Максимальная скорость дрейфа электронов (300К) vn∙ 107, см/с |
1 |
2 |
|||
Дрейфовая подвижность электронов/дырок, см2/(В∙с) |
1350/ 480 |
1000/ 60 |
500/ 60 |
700/ 60 |
330/ 60 |
Поле лавинного пробоя Е пр ∙104 В/см |
2-4 |
20-40 |
измеряемые преобразователем на основе антимонида индия (десятки мВт) на три - четыре порядка ниже уровней мощности, измеряемых преобразователем на основе карбида кремния (десятки – сотни Вт), а чувствительность карбида кремния уменьшается всего на два - три порядка по сравнению с антимонидом индия.
РАЗРАБОТКА ТОПОЛОГИИ ИЗМЕРИТЕЛЯ РАДИОЭДС
Топология преобразователей радиоэдс, используемых для измерения СВЧ мощности, должна определяться с одной стороны диапазоном рабочих частот (длина преобразователя вдоль распространения волны соизмерима с длиной волны), а с другой – условием минимизации сопутствующих эффектов, искажающих выходной сигнал преобразователя. Толщина полупроводникового слоя должна определяться скин-эффектом в рабочем диапазоне частот (слои, толщина которых превышает удвоенную глубину проникновения электромагнитного поля, используются не полностью, в то же время увеличение толщины неоднородности в волноводе резко увеличивает искажения электромагнитного поля, а, следовательно, и КСВН датчика мощности).
Величина ЭДС увлечения (1) зависит как от подвижности носителей заряда, так и от их концентрации (через коэффициент поглощения). Коэффициент поглощения волны а имеет вид:
а =-- . — s" ( — )
c -^sX®)’
где £ '( — ) и s " ( — ) - вещественная и мнимая части диэлектрической проницаемости полупроводника:
£' ( — ) = £ 0 < 1
'2 2 \
—lT\
11 + — 2 т 2 /
£'' ( — ) = -£о -^ —
—Т
1 + — 2 Т 2
Здесь — - частота волны; — L = 4 ^ nqq 2 / s 0m -плазменная частота ( n – концентрация носителей заряда, £ 0 - статическая диэлектрическая проницаемость среды). Из (1), (8), (9), (10) следует, что чувствительность преобразователя
V
Y = w зависит от подвижности носителей заря да ц и от их концентрации n . На рис. 1 представлены зависимости чувствительности преобразователя от концентрации свободных носителей заряда, рассчитанные по формулам формул (1), (8), (9), (10) при различных значениях под-

Рис. 1. Зависимость чувствительности преобразователя радиоэдс от концентрации
свободных носителей заряда при ц, см2
В • с
1 – 10; 2 – 102; 3 – 103; 4 – 104; 5 – 105; 6 – 106.
вижности носителей заряда. Как видно из рисунка, максимальной чувствительностью будут обладать образцы с максимальной подвижностью и минимальной концентрацией.
Неотъемлемым элементом преобразователя радиоэдс является невыпрямляющий контакт типа металл – полупроводник. При работе преобразователей в СВЧ диапазоне вентильные свойства контактов приводят к нелинейным искажениям, к ослаблению величины радиоэдс, к нелинейной зависимости между воздействующим на образец полем и возникающей радиоэдс.
Одним из эффективных способов снижения эффекта выпрямления на контакте металл – полупроводник и контактной термоэдс является вынос контактов из СВЧ тракта. Для этого преобразователь радиоэдс выполняется П-образной формы, а места соединения полупроводник – металл располагаются вне СВЧ тракта. Просачивание СВЧ поля на контакты можно ограничить применением фильтра нижних частот. Фильтр может быть выполнен в виде набора чередующихся участков линии с высоким и низким волновым сопротивлением, что достигается изменением ширины токонесущего проводника. Топология такого преобразователя показана на рис. 2.
Однако такое устройство позволяет работать только на фиксированной частоте. С целью расширения полосы рабочих могут использоваться преобразователи с удлиненными выводами, как показано на рис. 3. Контакты металл-полупро-водник расположены вне тракта, передающего СВЧ энергию. Уширенные полоски выводов выполнены с целью снижения величины термоэдс.

Рис. 2. Преобразователь Холла с фильтром нижних частот

Рис. 3. Чувствительный элемент радиоэдс с удлиненными выводами: 1 – холловский преобразователь, 2 – контакты металл – полупроводник
Наибольший вклад среди сопутствующих паразитных эффектов вносит термоэдс, обусловленная градиентом температуры между невыпрямляющими контактами преобразователя в поле СВЧ волны и неравномерным разогревом его объема (рис. 4).
В режиме работы генератора СВЧ на согласованную нагрузку грань a-c преобразователя, поглощая падающую на нее электромагнитную волну, нагревается больше, чем противоположная грань b-d . Это приводит к возникновению градиента температуры вдоль направления распространения волны, и следовательно, к появлению термоэдс, которая определяется выражением:
∂ T
VT = -αT , (12) ∂z где αT – коэффициент термоэдс полупроводника.
Как видно из этого выражения, расчет тер-моэдс сводится к определению градиента температуры по длине преобразователя. При существовании в волноводе стоячей волны величина термоэдс может существенно возрастать, а в случае соизмеримости длины волны с линейными размерами преобразователя достигает максимального значения. Это объясняется тем, что градиент температуры по ширине преобразователя зависит от электрической компоненты поля, а так как размеры преобразователя соизмеримы с длиной волны, то его положение относительно стоячей волны может оказаться таким, что градиент напряженности электрического поля будет максимальным.
Таким образом для измерителей СВЧ мощности оптимальной является П-образная топология с удлиненными выводами, если разрабатывается датчик для работы в широком диапазоне частот. Для работы на фиксированной частоте целесообразно использовать фильтр нижних частот.
ТЕХНОЛОГИЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ
ГЕТЕРОСТРУКТУР N-SIC/ ИЗОЛЯТОР
Для исследования радиоэлектрического эффекта в карбиде кремния были изготовлены преобразователи радиоэдс на основе структур n-SiC/ изолятор. Структура n-SiC/изолятор представляет собой тонкий слой полупроводникового карбида кремния, нанесенный на поликоровую или ситалловую подложку.
В качестве исходной подложки для изготовления преобразователей использовался поликор (Al2O3) размером 20Ч20 мм, толщиной 330 мкм. Для напыления пленок использовался вакуумный универсальный пост с приставкой магнетронного напыления и высокочастотным генератором (ВУП-5М). Процесс роста пленок карбида кремния определялся давлением рабочего газа (аргон), температурой подложки, током магнетронного разряда. Полученные пленки имели зеркальную поверхность. Толщина пленок SiC, измеренная методом шарового шлифа и с помощью интерферометра МИИ-4 варьировалась от 0,5 до 3 мкм в зависимости от условий напыления.
Затем на полученных структурах формировалась топология преобразователей СВЧ мощности.
Следующим этапом технологического процесса являлось получение омических контактов к карбиду кремния. Выбор основного металла, используемого для изготовления омических контактов, определяется значением величины работы выхода, механическими и температурными свойствами [11]. В [12] показано, что контакты к n-SiC на основе никеля являются омическими в широком диапазоне температур.
В результате были получены гетероструктуры n-SiC/ поликор с никелевыми контактами (рис. 5). В качестве выводов использовалась тонкая золотая проволочка. Контакт между вывода-

Рис. 4. Расположение чувствительного элемента радиоэдс в волноводе

Рис. 5. Чувствительный элемент n-SiC/поликор с Ni-контактами


Рис. 6. Вольт-амперная характеристика контактов к чувствительному элементу на n-SiC/ поликор
Рис. 7. Принципиальная схема установки для исследования радиоэдс в 8 мм диапазоне длины волны:
1 – генератор СВЧ, 2 – аттенюатор, 3 – ослабитель, 4 – измерительная головка М3, 5 – измеряемый образец, 6 –ваттметр М3-25А, 7 – согласованная нагрузка ми и напыленным никелем осуществлялся при помощи двухэлектродной сварки короткими импульсами тока, длительностью 3ч5 с.
Свойства контактов исследовались на постоянном токе на характериографе типа TR – 4805. Все исследуемые образцы имели линейную вольт-амперную характеристику (рис. 6).
ИССЛЕДОВАНИЕ СВОЙСТВ ГЕТЕРОСТРУКТУР N-SIC/ AL2O3 В СВЧ-ДИАПАЗОНЕ
Исслледование радиоэдс проводилось в СВЧ-диапазоне на частоте 40 ГГц на установке, блок схема которой представлена на рис. 7.
Измерения проводились при двух направлениях падающей СВЧ-волны относительно положения полупроводникового преобразователя (прямое и обратное). Расположение чувствительного элемента менялось для выявления прямой и обратной зависимости выходного напряжения от уровня СВЧ-сигнала. Полученные вольт-ваттные характеристики для прямого и обратного направления СВЧ-волны показаны на рис. 8.

Рис. 8. Вольт-ваттная характеристика гетероструктур n-SiC/поликор:
1 – прямое направление СВЧ-волны, 2 – обратное направление СВЧ-волны
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Исследование радиоэлектрического эффекта в тонких слоях полупроводникового карбида кремния на изолирующих подложках показало, что в полученных структурах возникает ЭДС радиоэлек-трического эффекта на частотах до 40 ГГц. Разработка образцов измерительных преобразователей в соответствии с предложенными техническими решениями позволило снизить влияние паразитных эффектов до уровня не более 5% полезного сигнала. При этом полученные образцы измерителей СВЧ мощности имели линейную вольт-ваттную характеристику в динамическом диапазоне от 0 до 5 Вт непрерывной СВЧ мощности.
Таким образом, структуры n-SiC/поликор могут быть использованы для создания измерителей мощности 8-мм СВЧ диапазона.
Список литературы Разработка измерителей высоких уровней СВЧ-мощности на основе структур карбид кремния на изоляторе для аэрокосмических систем
- Модель космоса: Научно информационное издание: В 2 т./Под ред. М.И. Панасюка, Л.С. Новикова. Т.2: Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов. М.: КДУ, 2007. 1144 с.
- Интегрированные инерциально спутниковые системы навигации/Составитель О. А. Степанов; Под общ. ред. В. Г. Пешехонова. СПб.: ГНЦ РФ ЦНИИ "Электроприбор", 2004.
- Билько М.И., Томашевский А.К., Шаров П.П. Измерение мощности на СВЧ. М.: Советское радио. 1976. С. 165.
- Гуляев Ю.В. О возникновении постоянной ЭДС при распространении электромагнитной волны в проводящей среде//Радиотехника и электроника. 1968. Т.13. Вып.4. С. 688-695.
- Перель В.И., Пинский Я.М. Постоянный ток в проводящей среде, обусловленный высокочастотным электромагнитным полем//ФТТ. 1973. Т.15. № 4. 1973. С.996-1003.
- Каганов М.И., Шапиро А.А. О влиянии термоэлектрических сил на радиоэлектрический эффект в полупроводниках//ФТТ. 1991. Т.12. №10 1991. С.3019-3021.
- Гуревич Л.Э., Мезрин О.А. Свето и термоэлектрические эффекты, создаваемые электромагнитной волной в проводящей среде//ФТТ. 1974. Т.16. №3. С.773-384.
- Щербак А.В. Радиоэлектрического эффект в гетеро структурах карбид кремния на кремнии: Дис. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10. Самара, 2005. 110 с.
- Хилсум К., Роуз!Инс А. Полупроводники типа AIIIBV. М.: Иностр. Лит ра, 1989. С. 323.
- Иванов А.Н., Челноков И.Р. Полупроводниковый SiC -технология и приборы.//ФТП. 1995. Т.29. №11. С.1921-1943
- Стриха В.И. Контактные явления в полупроводниках. Киев, ВШ 1982. С. 223.
- Растегаева М. Г. Омические контакты металл карбид кремния: Дис. … канд. техн. наук: 01.04.10. Спб., 1999. 157 с.