Разработка методов помехозащищенности радиотехнических систем путем реализации технологии индивидуального отбора и квалификации радиационно-стойкой электронной компонентной базы на этапе ее производства

Бесплатный доступ

В статье обобщены и сформулированы методики экспериментального извлечения информации о скрытых параметрах радиационно-стойкой технологии больших интегральных схем, включая методику извлечения дефектных центров оксида кремния. Описаны радиационно-физические методы неразрушающего контроля изделий электронной компонентной базы при ее производстве. Рассмотрены теоретические механизмы ионизационных явлений космического пространства с учетом не локализованных электронных состояний и поляризационных явлений в кристаллах полупроводника и промежуточного слоя диэлектрика. Рассмотрены методы обеспечения помехозащищенности электронной компонентной базы, и сделан вывод о безусловном преимуществе развития технологии «кремний-на-диэлектрике», обеспечившей радиационную стойкость приоритетного уровня как к дозовым эффектам воздействия заряженных частиц космического пространства, так и одиночным сбоям под действием протонов высокой энергии и тяжелых заряженных частиц.

Еще

Деградация электронной компонентной базы, доза поглощенной энергии, линейные модели аддитивного нагружения, субмикронные и наноразмерные технологические стандарты, методики экспериментального извлечения информации

Короткий адрес: https://sciup.org/140256050

IDR: 140256050

Список литературы Разработка методов помехозащищенности радиотехнических систем путем реализации технологии индивидуального отбора и квалификации радиационно-стойкой электронной компонентной базы на этапе ее производства

  • Татаринцев А.В. Воздействие ионизирующих излучений и импульсных магнитных полей на поверхностные свойства полупроводников. Автореферат дисс. … доктора физ.-мат. наук. Воронеж: ВГУ, 2010.
  • Двумерное моделирование короткоканальных МОП-транзисторов с учетом поверхностных состояний / М.Н. Левин [и др.] // Автометрия. 1992. № 2. С. 7-12.
  • Нестационарная спектроскопия поверхностных состояний в режиме постоянного подпорогового тока МДП-транзистора / М.Н. Левин [и др.] // Журнал технической физики. 1999. Т. 69. Вып. 8. С. 60-64.
  • Программно-методическое обеспечение прогнозирования радиационного ресурса кристаллов БИС на борту космического аппарата / М.Н. Левин [и др.] // ВАНТ. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. 2008. Вып. 1. С. 32-36.
  • Таперо К.И., Ладыгин Е.А. Кинетика отжига радиационных дефектов в кремниевых МОП- и КМОП-структурах // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. 1999. Вып. 1-2. С. 39-42.
  • Проблемы радиационного повреждения элементной базы аппаратуры космических аппаратов с длительными сроками полетов / В.С. Беляев [и др.] // 61 Международная конференция по структуре атомного ядра «Ядро-2011»: тез. докл. 2011. С. 219-221.
Еще
Статья научная