Разработка устройства для определения нагрузочной способности микросхем
Автор: Тюлевин С.В., Шопин Г.П., Пиганов М.Н., Мишанов Р.О.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 1 т.20, 2017 года.
Бесплатный доступ
Обоснована необходимость учета нагрузочной способности логических элементов и микросхем. Предложено устройство для определения нагрузочной способности микросхем. Устройство содержит генератор прямоугольного напряжения, испытуемую микросхему, вольтметр, элементы нагрузки, коммутатор, элемент И, компаратор, счетчик импульсов, источник опорного напряжения.
Нагрузочная способность, интегральная микросхема, устройство определения
Короткий адрес: https://sciup.org/140255993
IDR: 140255993
Список литературы Разработка устройства для определения нагрузочной способности микросхем
- Устройство для контроля и отбраковки двуханодных стабилитронов/М.Н. Пиганов //Сборник научных трудов SWorld. Одесса, 2013. Т. 10. № 3. С. 85-91.
- Патент 2445640, Российская Федерация, МПК G01R 31/26. Устройство для отбраковки двуханодных стабилитронов/М.Н. Пиганов //заявитель и патентообладатель: Самарский государственный аэрокосмический университет. № 2010140421/28. Приоритет от 01.10.2010 г. Опубликовано 20.03.2012 г. Бюллетень № 8. 8 с.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Методика и установка диагностического контроля полупроводниковых диодов//Сборник научных трудов по материалам международной конференции «Современные направления теоретических и прикладных исследований». Одесса, 2008. Т. 4. С. 62-67.
- Патент 2154279, Российская Федерация, МПК G01R 23/20. Устройство контроля нелинейных искажений радиоэлементов/М.Н. Пиганов //заявитель и патентообладатель: Самарский государственный аэрокосмический университет. № 99106323/09. Приоритет от 29.03.1999 г. Опубликовано 10.08.2000 г. Бюллетень № 22.
- Устройство контроля стабилитронов/С.В. Тюлевин //Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета имени академика С.П. Королева (национального исследовательского университета). 2012. № 7(38). С. 156-159.
- Сквозной диагностический прогнозируемый контроль фотодиодов для космической аппаратуры/С.В. Тюлевин //XIX Всероссийская НТК по неразрушающему контролю и технической диагностике: тезисы докладов. Самара. М.: Спектр, 2011. С. 458-460.
- Квурт А.Я., Миндпин Н.Л. Динамический неразрушающий контроль мощных микросхем//Электронная техника. Серия 2. Полупроводниковые приборы. 1980. Вып. 4. С. 74-79.
- Piganov M.N., Mishanov R.O. Technology of diagnostic for non-destructive control of the bipolar integrated circuits//2nd International scientific symposium «Sense. Enable. SPITSE. 2015»: Symposium Proceedings. St. Petersburg. 2015. P. 38-41.
- Mishanov R., Piganov M. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrates circuits//The experience of designing and application of CAD systems in microelectronics (CADSM 2015): Proceedings XIIIth International conference. Ukraine, Lviv. 2015. P. 242-244.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Еранцева Е.С. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры//Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1(5). C. 9-17.
- Apparatus diagnostic for non-destructive control chip CMOS-Type/S.V. Tyulevin //European science and technology: materials of the VIII international research and practice conference. Germany, Munich, 2014. P. 398-401.
- Piganov M., Tyulevin S., Erantseva E. Individual prognosis of quality indicators of space equipment elements//The experience of designing and application of CAD systems in microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII international conference. Ukraine, Lviv, 2015. P. 367-371.
- Фролкин В.Т., Попов Л.Н. Импульсные и цифровые устройства: учебное пособие для вузов. М.: Радио и связь, 1992. 336 с.
- Авторское свидетельство СССР № 836606, МПК G01R 31/28. Устройство для определения нагрузочной способности дискретных схем/Ю.А. Дейкин. Приоритет от 17.07.1979 г. Опубликовано 07.06.1981 г. Бюллетень № 21.
Статья научная
