Техника измерений спектральных и материальных параметров тонких пленок жиг
Автор: Паняев Иван Сергеевич, Санников Дмитрий Германович
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Физика и электроника
Статья в выпуске: 4-4 т.14, 2012 года.
Бесплатный доступ
В статье представлены результаты измерений спектральных характеристик тонких плёнок железоиттриевого граната (ЖИГ), выполненных на модернизированном аппаратно-измерительном комплексе на основе монохроматора МДР-23У. Отработаны экспериментальные методики измерений параметров тонких плёнок ЖИГ с использованием интерференционного микроскопа, метода угла Брюстера и поляризационного микроскопа Jenapol фирмы «Zeiss».
Спектроскопия, тонкие плёнки, железоиттриевый гранат (жиг)
Короткий адрес: https://sciup.org/148201328
IDR: 148201328
Список литературы Техника измерений спектральных и материальных параметров тонких пленок жиг
- Гижевский Б.А. и др. Оптические и магнитооптические свойства наноструктурного железо-иттриевого граната//Физика твердого тела. 2009. Т.51. Вып. 9. С.1729-1734.
- Махнёв A.A., Гижевский Б.А., Номерованная Л.В. Оптические спектры нанокерамик железо-иттриевого граната Y3Fe5O12, полученных методом интенсивной пластической деформации//Письма в ЖЭТФ. 2010. Т.91. Вып. 2. С. 85-88.
- Eliseeva S.V., Sannikov D.G., Sementsov D.I. Anisotropy, gyrotropy and dispersion properties of the periodical thin-layer structure of magnetic-semiconductor//Journal of Magnetism and Magnetic Materials. 2010. V.322. Is.23. P.3807-3816.
- Элементы и устройства на цилиндрических магнитных доменах. Справочник [под ред. H. H. Евтихиева, Б. H. Наумова]. Москва. Радио и связь, 1987. 488 с.
