Устройство для контроля толщины покрытий на поверхности космического аппарата
Автор: Калаев М.П., Рязанов Д.М.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 2 т.17, 2014 года.
Бесплатный доступ
В статье рассмотрена математическая и физическая модель прибора для определения малых изменений толщины пленок на основе кварцевых микровесов. Промоделирован унос массы каптона с поверхности кварцевой пластины под действием атомарного кислорода и ультрафиолета.
Атомарный кислород, кварцевые микровесы, ультрафиолет, унос массы, каптон, уравнение зауэрбрея
Короткий адрес: https://sciup.org/140255862
IDR: 140255862
Список литературы Устройство для контроля толщины покрытий на поверхности космического аппарата
- Новиков Л.С. Перспективы применения наноматериалов в космической технике. М.: Университетская книга, 2008. 188 с.
- Verker R. Residual stress effect on degradation of polyimide under simulated hypervelocity space debris and atomic oxygen//Polymer. 2007. № 48. С. 19-24.
- Silverman E.M. Space environment effects on spacecraft: LEO materials selection guide//NASA Contractor report 4661. 1995. 502 p.
- Вернигоров К.Б. Исследование воздействия атомарного кислорода на полимерные материалы//Х межвузовская научная школа молодых специалистов «Концентрированные потоки энергии в космической технике, электронике, экологии и медицине». 2009. C. 253-259.
- Doan L.A. Synergistic effects of atomic oxygen and ultraviolet radiation exposure on various spacecraft materials//Requirement for the degree of bachelor of science. 2013. 25 p.
- Kurtz O. Quartz crystal microbalance used to characterize electrochemical metal deposition//JEPT. 2010. № 5. P. 52-69.
- Bousser E. In situ, real-time solid particle erosion testing methodology for hard protective coatings//Surface & Coating, Technology. 2013. № 237. P. 313-319.
Статья научная
