Устройство для контроля толщины покрытий на поверхности космического аппарата

Калаев М.П.; Рязанов Д.М.; Kalaev M.P.; Ryazanov D.M.

Научные статьи \ Математика. Естественные науки \ Астрономия. Астрофизика. Исследование космического пространства. Геодезия

Устройство для контроля толщины покрытий на поверхности космического аппарата

Калаев М.П. Рязанов Д.М.

Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp

Статья в выпуске: 2 т.17, 2014 года.

Бесплатный доступ

В статье рассмотрена математическая и физическая модель прибора для определения малых изменений толщины пленок на основе кварцевых микровесов. Промоделирован унос массы каптона с поверхности кварцевой пластины под действием атомарного кислорода и ультрафиолета.

атомарный кислород \ кварцевые микровесы \ ультрафиолет \ унос массы \ каптон \ уравнение зауэрбрея

Похожие статьи в разделе Астрономия. Астрофизика. Исследование космического пространства. Геодезия

Разработка устройства измерения толщины металлических покрытий в процессе изготовления печатных плат

Мощенский Юрий Васильевич, Белоглазова Татьяна Александровна, Ашихмин Евгений Александрович

Оптическое измерение характеристик тонких пленок с помощью спиральных зонных пластинок

Налимов А.Г., Козлова Е.С., Стафеев С.С., Котляр В.В., Подлипнов В.В.

Структура и свойства углеродных пленок, получаемых электронно-лучевым распылением в вакууме

Троицкий Андрей Александрович, Березин Владимир Михайлович, Лукашев Владимир Сергеевич

Восстановление высоты расположения источника в математической модели роста тонких пленок на подложках

Тарасенко Елена Олеговна, Гладков Андрей Владимирович

Математическая модель прибора контроля чистоты поверхности подложек по скорости растекания капли жидкости

Подлипнов Владимир Владимирович, Дубовик А.С.

Оценка возможности применения метода лазерной триангуляции к измерениям толщин тонких пленок

Адамов Антон Андреевич, Храмов Владимир Николаевич

Короткий адрес: https://sciup.org/140255862

IDS: 140255862 | УДК: 520.6

A device for control the coating thickness on the surface of the space vehicle

This article presents mathematical and physical models of a device based on the technique of a piezoelectric quartz crystal microbalance which find the low change of films. The ablation under the fluence of atomic oxygen and ultraviolet of Kapton deposited on the quartz plate was simulated.

Список литературы Устройство для контроля толщины покрытий на поверхности космического аппарата

Новиков Л.С. Перспективы применения наноматериалов в космической технике. М.: Университетская книга, 2008. 188 с.
Verker R. Residual stress effect on degradation of polyimide under simulated hypervelocity space debris and atomic oxygen//Polymer. 2007. № 48. С. 19-24.
Silverman E.M. Space environment effects on spacecraft: LEO materials selection guide//NASA Contractor report 4661. 1995. 502 p.
Вернигоров К.Б. Исследование воздействия атомарного кислорода на полимерные материалы//Х межвузовская научная школа молодых специалистов «Концентрированные потоки энергии в космической технике, электронике, экологии и медицине». 2009. C. 253-259.
Doan L.A. Synergistic effects of atomic oxygen and ultraviolet radiation exposure on various spacecraft materials//Requirement for the degree of bachelor of science. 2013. 25 p.
Kurtz O. Quartz crystal microbalance used to characterize electrochemical metal deposition//JEPT. 2010. № 5. P. 52-69.
Bousser E. In situ, real-time solid particle erosion testing methodology for hard protective coatings//Surface & Coating, Technology. 2013. № 237. P. 313-319.