Влияние пространственной корреляции дефектов на рассеяние рентгеновских лучей от полупроводниковой сверхрешетки
Автор: Пунегов В.И.
Журнал: Известия Коми научного центра УрО РАН @izvestia-komisc
Рубрика: Физико-математические науки
Статья в выпуске: 1, 2010 года.
Бесплатный доступ
В рамках статистической теории дифракции рентгеновских лучей на полу- проводниковой сверхрешетке исследовано влияние пространственной корре- ляции дефектов на угловое распределение интенсивности рассеяния. Прове- дено численное моделирование рентгеновской дифракции на сверхрешетке при наличии и отсутствии корреляционных эффектов. Впервые показано, что пиковые значения диффузного фона могут не совпадать с максимумами коге- рентного рассеяния.
Диффузное рассеяние рентгеновских лучей, сверхрешетка, дефекты
Короткий адрес: https://sciup.org/14992356
IDR: 14992356
Список литературы Влияние пространственной корреляции дефектов на рассеяние рентгеновских лучей от полупроводниковой сверхрешетки
- Herres N., Fuchs F., Schmitz J., Pavlov K.M.,Wagner J., Ralston J.D., Koidl P., Gadaleta C., Scamarcio G. Effect of interfacial bonding on the structural and vibrational properties of InAs/GaSb superlattices//Phys. Rev. B., 1996. Vol. 53. № 23. Р. 15688-15705.
- Пунегов В.И., Павлов К.М. Кинематическая теория рентгеновской дифракции на гармонической сверхрешетке с микродефектами//Кристаллография, 1993. Т.38. N 5. С. 34-42.
- Пунегов В.И. Рентгеновская дифракция на полупроводниковой сверхрешетке с микродефектами//Письма в ЖТФ, 1992. Т.18. N4. С.66-70.
- Пунегов В.И. Погашение сателлитных максимумов сверхрешетки с периодически распределенными дефектами//ФТТ, 1995. Т.37. N4. С. 1134-1148.
- Pietsch U., Holy V., Baumbach T. High Resolution X-ray Scattering -from Thin Films to Lateral Nanostructures. New York. Springer Verlag, 2004. 408 p.
- Бушуев В.А., Козак В.В. Эволюция корреляции межслойных шероховатостей в процессе формирования многослойных структур//Письма в ЖТФ, 1996. Т. 22. № 19. С. 29-33
- Shilkrot L.E., Srolovitz D.J., Tersoff J. Morphogy evolution during the growth of strained-layer superlatticex//Phys. Rev. B, 2000. Vol. 62. P. 8397-8409.
- Fukushima S., Otsuka N. X-ray diffraction analysis of the structure of antisite arsenic point defects in low-temperature-grown GaAs layer//J. Appl. Phys., 2007. Vol. 101. P. 1-7.
- Леденцов Н.Н., Устинов В.М., Щукин В.А. и др. Гетероструктуры с квантовыми точками: получение, свойства, лазеры//ФТП, 1988. Т.32. № 4. С.385-410.
- Nesterets Ya.I., Punegov V.I. The statistical kinematical theory of X-ray diffraction as applied to reciprocal-space mapping//Acta Cryst. A, 2000. Vol. A56. N.6. P. 540-548.
- Speriosu V.S., Vreeland T. X-ray rocking curve analysis of superlattices//J.Appl. Phys, 1984. Vol.56. №6. P.1591-1600.
- Пунегов В.И., Ломов А.А. Теория дифракции рентгеновских лучей в нанопористых кристаллах с латеральной квазипериодичностью//Письма в ЖТФ, 2008. Т. 34. Вып. 6. C.30-35.
- Бушуев В.А. Влияние пространственной корреляции квантовых точек на диффузное рассеяние рентгеновского излучения//Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2007. N 9. С.29-34.
- Punegov V.I, Lomov A.A., Shcherbachev K.D. Characterization of InP porous layer by highresolution x-ray diffraction//Physica Status Solidi (a), 2007. Vol. 204, N8. P. 2620-2625.
- S.A. Stepanov, http://sergey.gmca.aps.gov
Статья научная
