Исследование технологии изготовления конструкции дефлектора на основе монокристалла парателлурита
Автор: Писаревский Ю.В., Вишняков А.В., Гуров А.В.
Журнал: Мировая наука @science-j
Рубрика: Естественные и технические науки
Статья в выпуске: 7 (40), 2020 года.
Бесплатный доступ
В работе рассмотрены особенности технологии изготовления АО-дефлектора(АОД) на основе монокристалла TeO2. Кристалл TeO2 имеет исключительно большое по величине акустооптическое качество, высокую прозрачность. В статье рассмотрены основные характеристики АОД. Проанализированы основные факторы, влияющие на широкополосность дефлектора: селективность акустооптического взаимодействия, ограниченность полосы акустических частот пьезопреобразователя и конечность частотной полосы электрического согласования параметров преобразователя с генератором высокочастотной мощности.
Дефлектор, монокристалл, акустооптика пьезопреобразователь
Короткий адрес: https://sciup.org/140265717
IDR: 140265717
Список литературы Исследование технологии изготовления конструкции дефлектора на основе монокристалла парателлурита
- Антонов С.Н. Акустооптический дефлектор на кристалле парателлурита с использованием широкополосного клеевого акустического контакта // Акустический журнал -2017. Т.63. №4. с.364-370
- Блистанов А.А. Кристаллы квантовой и нелинейной оптики - М.: МИСИС, 2000. - 432 c.
- Мачихин А. С. Разработка методов акустооптической видеоспектрометрии и приборов на их основе для анализа пространственно-спектральной структуры объектов // автореферат дис. доктора технических наук: - Москва. 2019. - 37 с.
- Антонов С.Н. Акустооптический дефлектор - новый метод повышения эффективности и широкополосности // Журнал технической физики, 2016, том 86, выпуск 10. - с. 10
- Минкина Т.В., Брагина Е.А., Брыкалова А.А. Математические модели технологических процессов выращивания монокристаллов //Культура и общество: история и современность: материалы III Всероссийской (с межд.участием) науч.-практич. конференции /Филиал РГСУ. Ставрополь, 2014. С. 76-80.
- Минкина Т.В. Теоретические и методические основы моделирования процессов кристаллизации // "Экономический и информационный потенциал устойчивого развития регионов России" / Сборник материалов Всероссийской научно-практической конференции.- 2017. С. 93-96.
- Марченков Н.В., Благов А.Е., Ломонов В.А., Писаревский Ю.В., Ковальчук М.В. Изучение дефектной структуры кристалла парателлурита с помощью многоволновой дифракции и стандартной двухволновой дифрактометрии// Кристаллография. 2013. Т.58. №2. С.181.
- Таргонский А.В., Благов А.Е., Писаревский Ю.В., Просеков П.А., Элиович Я.А., Ковальчук М.В. Рентгеноакустическая дифрактометрия для контроля электронных компонент и материалов // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т. 13. № 1. С. 32-35.
