Методика применения кластерного анализа для классификации электрорадиоизделий и повышения надежности аппаратуры
Автор: Мишанов Роман Олегович
Журнал: Известия Самарского научного центра Российской академии наук @izvestiya-ssc
Рубрика: Информатика, вычислительная техника и управление
Статья в выпуске: 1-2 т.19, 2017 года.
Бесплатный доступ
Приведена методика применения кластерного анализа для классификации экспериментальной базы и повышения качества и надёжности радиоэлектронной аппаратуры. Для проведения кластерного анализа использован метод К-средних. Исследования проведены на выборке микросхем 765ЛН2. Было использовано центрирование исходных данных, в качестве которых выступали информативные параметры. С помощью иерархической классификации получена вертикальная дендрограмма кластерного анализа. Проведен дисперсионный анализ результатов, который позволил определить значимость различий между кластерами. Установлено, что кластерный анализ эффективен в том случае, когда классы экземпляров хорошо разделяются.
Кластерный анализ, методика, классификация, радиоэлектронная аппаратура, электрорадиоизделие, микросхема, информативный параметр, центрирование, дендрограмма, дисперсионный анализ
Короткий адрес: https://sciup.org/148205063
IDR: 148205063
Список литературы Методика применения кластерного анализа для классификации электрорадиоизделий и повышения надежности аппаратуры
- Piganov, M.N. Apparatus diagnostic for non-destructive control chip CMOS-Type/M.N. Piganov, S.V. Tyulevin, E.S. Erantseva, R.O. Mishanov//European science and technology: materials of the VIII international research and practice conference. -Germany, Munich, 2014. P. 398-401.
- Пиганов, М.Н. Прогнозирование надежности радиоэлектронных средств/М.Н. Пиганов, С.В. Тюлевин//Научно-технические ведомости СПбГПУ. Серия «Информатика.-Телекоммуникации. Управление». 2009. Вып. 1. С. 175-182.
- Mishanov, R.O. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrated circuits/R.O. Mishanov, M.N. Piganov//The experience of designing and application of CAD systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII international conference. -Ukraine, Lviv, 2015. P. 242-244.
- Piganov, M.N. Individual prognosis of quality indicators of space equipment elements/M.N. Piganov, S.V. Tyulevin, E.S. Erantseva//The experience of designing and application of CAD systems in microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII international conference. -Ukraine, Lviv, 2015. P. 367-371.
- Мишанов, Р.О. Разработка прогнозной модели качества полупроводниковых приборов методом экстраполяции/Р.О. Мишанов, М.Н. Пиганов//Известия Самарского научного центра Российской академии наук. 2014. Том 16, №4(3). С. 594-599.
- Ту Дж. Принципы распознавания образов/Дж.Ту, Р. Гонсалес//Пер. с англ. И.Е. Гуревича: под ред. Ю.И. Журавлёва. -М.: Мир, 1978. 412 с.
- Мандель, И.Д. Кластерный анализ. -М.: Финансы и статистика, 1988. 176 с.
- Тюлевин, С.В. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры/С.В. Тюлевин, М.Н. Пиганов, Е.С. Еранцева//Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1(5). C. 9-17.
- Боровиков, В.П. Прогнозирование в системе STATISTICA в среде Windows/В.П. Боровиков, Г.И. Ивченко//Основы теории и интенсивная практика на компьютере. -М.: Финансы и статистика, 2000. 384 с.
- Боровиков, В.П. STATISTICA. Искусство анализа данных на компьютере. -СПб.: Питер, 2003. 700 с.
- Пример использования кластерного анализа STATISTICA в автостраховании //STATISTICA: Data mining, анализ данных, контроль качества, прогнозирование, обучение, консалтинг . . URL: http://statsoft.ru/solutions/ExamplesBase/branches/detail.php?ELEMENT_ID=1573 (дата обращения: 05.08.2016).
- Мхитарян, В.С. Эконометрика/В.С. Мхитарян, М.Ю. Архипова, В.П. Сиротин//Учебно-методический комплекс. -М.: Изд. Центр ЕАОИ, 2008. 144 с.
