Оптическое вычисление оператора дивергенции при отражении векторного пучка от слоистой металлодиэлектрической структуры

Теоретически описано оптическое вычисление оператора дивергенции для двумерного векторного поля, состоящего из поперечных компонент электрического поля светового пучка, падающего на слоистую структуру. В качестве примера слоистой структуры, вычисляющей данный оператор в отражении, предложена четырехслойная металлодиэлектрическая структура на металлической подложке. Представленные результаты численного моделирования рассчитанной слоистой структуры показывают вычисление оператора дивергенции с высоким качеством и демонстрируют возможность применения структуры для анализа поляризационных сингулярностей векторных пучков.