Самосинхронный регистр с расчетверением транзисторов
Автор: Тюрин С.Ф., Каменских А.Н.
Журнал: Вестник Пермского университета. Математика. Механика. Информатика @vestnik-psu-mmi
Рубрика: Информатика. Информационные системы
Статья в выпуске: 3 (34), 2016 года.
Бесплатный доступ
Самосинхронная схемотехника (ССС) является альтернативой синхронной и обеспечивает фиксацию завершение переходного процесса, что повышает быстродействие, позволяет работать на сверхнизких напряжениях питания и выполнять самоконтроль. Основоположником ССС является Д. Маллер. В настоящее время ССС активно продвигается не только на "зелёной" волне энергосберегающих технологий, но и в русле повышения степени интеграции цифровых чипов до наноуровня, когда уже начинают сказываться квантовые эффекты. В Институте проблем информатики - ИПИ РАН активно работает группа Ю.А. Степченко-ва, которая, продолжая дело группы В.И. Варшавского, разработала обширную библиотеку самосинхронных элементов. В Великобритании работает в направлении ССС проф. А. Яковлев, ранее работавший с В. Варшавским. Однако вопросы отказоустойчивости самосинхронных схем до сих пор исследованы недостаточно. Авторами статьи предложено комбинированное резервирование самосинхронной схемотехники (ССС) на основе расчет-верения (по терминологии классификатора ФИПС) транзисторов. В статье предлагается и оценивается комбинированное резервирование триггеров самосинхронного регистра, выполняющего функции приемопередатчика тестового самосинхронного процессора. Показывается эффективность такого резервирования по сравнению с троированием.
Самосинхронная схемотехника, самосинхронный регистр, кмдп-транзистор, резервирование, вероятность безотказной работы, мажоритарный элемент, транзисторная структура
Короткий адрес: https://sciup.org/14730055
IDR: 14730055 | DOI: 10.17072/1993-0550-2016-3-103-109
Текст научной статьи Самосинхронный регистр с расчетверением транзисторов
Самосинхронная схемотехника, впервые предложенная в работах Маллера [1] в конце 1950-х гг. ХХ в. и развитая в СССР ленинградской группой В. Варшавского [2, 3] в постсоветский период продолжает развиваться благодаря трудам его бывших учеников и последователей, например Алекса Яковлева [3], работающего теперь в университете НьюКасла (Великобритания). В России активно работает исследовательская группа института проблем информатики РАН, возглавляемая Ю. Степченковым, разработавшая и продолжающая совершенствовать библиотеку само-синхронных элементов [5]. Имеются примеры
коммерческого использования самосинхрон-ной технологии [6]. Это направление в нашей стране может внести вклад в создание отечественной электронной компонентной базы [7], степень актуальности которой подошла уже к критической отметке. В этом плане большие надежды возлагаются на базовые матричные кристаллы [8–11], использование которых, в том числе для реализации самосинхронных цифровых решений, в какой-то мере может компенсировать технологическое отставание в критических областях, особенно в оборонной, хотя некоторые подвижки на "интегральном" поприще и внушают определенный оптимизм [12–14]. В этих областях применения весьма востребованы надежные, отказоустойчивые цифровые устройства, особенно радиационно-стойкие [15–17]. Однако вопросы на- дежности самосинхронных схем по большей части рассматриваются в ракурсе активной отказоустойчивости, путем дублирования, в предположении о том, что имеются соответствующие средства контроля, которые зафиксируют отказ [18–20], а средства реконфигурации отключат неисправный канал и подключат исправный. Для ряда важных областей необходима пассивная отказоустойчивость [21], когда отказ или ошибка (этот термин по аналогии с английским "error" теперь использован в ГОСТ [18] вместо термина "сбой") не замечается, маскируется устройством или системой, что требует значительно большей избыточности, но зато не требует временных затрат на восстановление. Тем не менее, исследования в области пассивно отказоустойчивых самосинхронных схем освещены в литературе недостаточно, в основном речь идет о комбинационных схемах [22–23].
В статье предпринята попытка построить пассивно отказоустойчивую регистровую самосинхронную схему, используемую в качестве приемо-передающего порта [5] на основе потразисторного резервирования [24]. Анализ сложности и вероятности безотказной работы нерезервированного самосинхронного приемо-передающего порта, состоящего из трех типов триггеров и описанного в [5], при экспоненциальной модели отказов транзисторов позволяет получить выражением
- (22 + 52 + 54 - 6 + 54 - 8 - ( b - 1) + 16 - 2 r iog28b ^
) Л - t
P(t) b = e
, (1)
где λ – интенсивность отказов одного транзи- стора; b – число байт, принимаемых регист- ром; 22 – сложность в транзисторах первого триггера, именуемого в библиотеке элементов аббревиатурой R1RE11; 52 – последнего R1RE22; 54 – промежуточных триггеров S1RRE2; 16 - 2fl°B28b^ - сложность гистерезис-
R
E
RT
S

QB
I
Q
Рис. 1. Первый триггер R1RE11
Первый триггер регистра – R1RE11 – содержит 22 транзистора, при этом во всех цепочках не более 2 транзисторов, поэтому при резервировании путем расчетверения ограничения [25] выполняются [24], получаем:
P(t)«,RE„ = [e-(4M-' + 4 - e-’" (1" e-u-' )]22 .(2)
При увеличении числа байт не изменяется. Затраты – 88 транзисторов. Последний триггер регистра – R1RE22 – представлен на рис. 2.

Рис. 2. Последний триггер R1RE22
Триггер R1RE22 содержит 28 транзисторов в самой двухступенчатой памяти, но имеет индикатор АОАI7 (16 транзисторов), в котором число транзисторов в последовательной цепочке превышает ограничения, поэтому предлагается повторить его 4 раза, учитывая блоки NAN2, т. е. получаем формулу:
ных триггеров, остальная аппаратура обрамления имеет незначительную сложность и не учитывается. Предложим потранзисторное резервирование с учетом ограничений на число последовательно включенных транзисторов (не более 4) [25].
P(t)
ft -R1RE22
[e " (4) - Л - t
i [е " (64) Л - t
+ 4 - e - 3 - Л - t(1 - e - 1 - Л - t)]28
+ 4 - e - 48 Л - t
(1 - е - 16 Л - t
)] - e - (16) Z - t(
1.Расчетверение транзисторов триггеров самосинхронного регистра с учетом b байт
Первый триггер – R1RE11 – изображен на рис. 1.
Затраты (112+ 64+16) транзисторов.
Основной триггер S1RRE2 для удовлетворения ограничения [25] требует декомпозиции (детальное рассмотрение которой, названной комбинированным расчетверением, предполагается в отдельной статье) второй ступени A31OI1, A31OI1 и резервирования индикатора ОAOА1 (рис. 3).

Рис. 3. Основной триггер S1RRE2
4. Оценка троирования аппаратуры регистра при наличии b байт порта
В случае мажоритирования с одним мажо-ритаром (сложность которого – 12 транзисторов), R1RE11(сложность – 22 транзистора), имеющий три выхода, описывается формулой (7):
P(t)3-R1REn = [3-e-2 ■ t -2■e-3■(22)л■t]■
- (3 - 12 - + 6 + 6) л - t
e.
Триггер R1RE22 (сложность – 52 транзистора), имеющий 4 выхода, описывается формулой (8):
P(t) 3-R1RE22 = [З^ (52) ^ t - 2^ (52) ^ t ] - (8) - (4 ■ 12 + 6 + 6) ■ л - t
e.
После декомпозиции второй ступени A31OI1 получим (рис. 4).

Рис. 4. Основной триггер S1RRE2 с декомпозицией второй ступени
Триггер S1RRE2 (сложность – 54 транзистора), имеющий 4 выхода, описывается формулой (9).
p+ = ГЗ • e -2 ■ (54) л ■ t
(L) 3-1 x S1RRE2 [ e
- (4 - 12 + 6 + 6) - Л - t
e.
То есть получаем после декомпозиции:
P(t) 6 - ft-S1RRE2
= {[e - (4 R t
+ 4 ■ e - 3 - Z 4(1 - e - 1 - л 4)]44
[e
- (80) л ■ t
+ 4 ■ e - 60 - л - t
(1 - e - 20 - л - t
)] ■ e - (16) л - t
]}6.
В случае b байт
P(t) b-6 - ft-s1RRE2 = {[e - (4) - A t + 4 ■ e - 3 л 4(1 - e - 1 - л )]44
[e
- (80) Л ■ t
+ 4 - e
- 60 ■ л ■ t
(1 - e
- 20 ■ Л ■ t
■ e - (16) ■ л ■ t
]}6-
■ {[e - (4) л + 4 ■ e - 3 л (1 - e " b л )]44 (5)
[e
- (80) л t
+ 4 - e
- 60 л t
(1 - e
20 л t
)] ■ e
,-(16) - л-t
]}
8(b - 1)
.
Затраты – (44*4+80+16) в степени 6+(44*4+80+16) в степени 8*(b-1) транзисторов.
К дополнительной аппаратуре относятся Г-триггеры, количество которых при условии наличия у них двух входов можно оценить числом узлов по уровням соответствующего дерева для одного байта 4, 2, 1 всего 7, т.е. 2 3 - 1 , на единицу меньше байта. Если имеется b байт, получаем 2^ 2 8^ - 1 . То есть, получим:
P(t)ft-r = [e - (4) ' л 4 + 4 ■ e - 3 ■ л4 ■ (1 - e - 1 л 4)]28<2 Гь,1“ L1) .(6)
-
2e 3■ (54)л■ t +
2 e ] (9)
Поскольку для одного байта таких триггеров 6, получим
P(t)3-6 x S1RRE2 =
^■e - 2^ л ■ t
- 4 - 12 л - t к e
—
2 - e - 3 (54) л ■ * ] ■
/
. (10)
При наличии b байт порта вероятность безотказной работы имеет вид
P(t)3-b x S1RRE2 =
,- 2 - (54) - л - t
,- 2 - (54) -л-t
—
—
■ 2-e-3 - (54) л 4]-e-4 - 12 - л 4 )6-|
9 о- 3 - (54) л - t - 4 - 12 - л - t 8 (b - 1)
2 - e J^ ) .(11)
Затраты (162+48) в степени 6+(162+48) в степени 8( b -1).
В случае мажоритирования с тремя ма-жоритарами (сложность которого – 12 транзисторов), R1RE11 (сложность – 22 транзистора), имеющий три выхода, описывается формулой
P(t1 3-RIRE11 =
= [3 ■ e - 2 - (22) л - t - 2 ■ e - 3 ■ (22) л - t ]
■ [3 - e - 2 - (12) - л ■ t - 2 - e - 3 ■ (12) л ■ t ] 3
.
В случае мажоритирования с тремя ма-жоритарами триггер R1RE22 (сложность – 52 транзистора), имеющий 6 выходов, описывается формулой
P(t)3.3-R1RE22
= [3 • e
— 2 - (52) - Л - t
—
2 • e
— 3 - (52) Л - t
] •
• [3 • e
— 2 - (12) - Л - t
— 2 e
— 3 - (12) Л 4]6
.
Триггер S1RRE2 (сложность – 54 тран-
зистора), имеющий 4 выхода, описывается
формулой

0 t 17 - 102
б)
Рис. 5. Графики изменения вероятности безотказной работы а) – в диапазоне от 1 до 0,5; б) в диапазоне от 1 до 0 – схемы без резервирования P(t) , вероятности безотказной работы резервированной схемы – с комбинированным расчетверением P(t) , вероятности безотказной работы резервированной – троированной схемы с одним мажоритаром P3 и троированной схемы с тремя мажоритарами P при интенсивности отказов (сбоев) Л = 10-5
P(t ) 3.3-1 x S1RRE2
= [3- e
,— 2 - (54) Л - t
—2 e
, —3 - (54) Л - t
]•
-[3- e
— 2 - (12) - Л - t
—
2 • e
— 3 (12) Л t 4
]
.
Поскольку для одного байта таких триг-
геров 6, получим:
P(t)3.3-6 x S1RRE2 =
f[3 e
,-2 - (54> 2 - t
—
2 • e
.-3 - (54) Л - t ] -
Ф - e
,— 2 - (12) - Л - t
—
2 • e
,— 3 - (12) Л - t-14
] 7
. (15)
1/час для одного байта
-
4. Сравнение вероятностей безотказной работы вариантов схем самосинхронного регистра
Построим в СКМ МАТКАД графики изменения вероятности безотказной работы исходной схемы самосинхронного регистра без резервирования P(t) , вероятности безотказной работы резервированной схемы – с комбинированным расчетверением P(t)ftm , вероятности безотказной работы резервированной – троированной схемы с одним мажоритаром P3 и троированной схемы с тремя мажоритарами P33 при заданной интенсивности отказов для заданного числа байтов.
Возьмем интенсивность отказов Л = 10 -5 , один байт, получим рис. 5.

а)
Зададим при той же интенсивности отказов Л = 10 -5 два байта, получим рис. 6.

а)

0 t 10 - 102
б)
Рис. 6. Графики изменения вероятности безотказной работы а) в диапазоне от 1 до 0,5; б) в диапазоне от 1 до 0 – схемы без резервирования P(t) , вероятности безотказной работы резервированной схемы – с комбинированным расчетве-рением P(t) , вероятности безотказной работы резервированной – троированной схемы с одним мажоритаром P 3 и троированной схемы с тремя мажоритарами P33 при интенсивности отказов (сбоев) Л = 10-5 1/час для двух байтов
Зададим при тех же условиях восемь байт, получим рис. 7.

Рис. 7. Графики изменения вероятности безотказной работы в диапазоне от 1 до 0,5 – схемы без резервирования P(t) , вероятности безотказной работы резервированной схемы – с комбинированным расчетверением P(t) , вероятности безотказной работы резервированной – троированной схемы с одним мажоритаром P3 и троированной схемы с тремя мажоритарами P при интенсивно сти отказов (сбоев) Л = 10-5 1/час для восьми байтов
Однако оценим еще и так называемую удельную надежность – в пересчете на один транзистор в зависимости от числа байт (рис. 8) и времени (рис. 9).

Рис. 8. Графики изменения удельной вероятности безотказной работы резервированной схемы – с комбинированным расчетверением δ ftm , резервированной – троированной схемы с одним мажоритаром δ 3 и троированной схемы с тремя мажоритарами δ 33 при интенсивности отказов (сбоев) X = 10-5 1/час для 200 часов работы в зависимости от числа байт

Рис. 9. Графики изменения удельной вероятности безотказной работы резервированной схемы – с комбинированным расчетверением δ ftm , резервированной – троированной схемы с одним мажоритаром δ 3 и троированной схемы с тремя мажоритарами δ 33 при интенсивности отказов (сбоев) X = 10-5 1/час для четырех байт в зависимости от времени
Выводы
Таким образом, предложенное резервирование позволяет существенно повысить вероятность безотказной работы на всем интервале вероятностей по сравнению с троированными вариантами и нерезервированной схемой. Простое троирование (мажоритирова-ние) не имеет смысла – оно уступает не резервированной схеме после определенного времени. При этом удельная вероятность безотказной работы схемы самосинхронного регистра с комбинированным расчетверением при небольшом числе байт превышает удельную вероятность безотказной работы троированной схемы самосинхронного регистра с тремя мажоритарами, а при большом числе байт – незначительно уступает ей.
Список литературы Самосинхронный регистр с расчетверением транзисторов
- Muller D.E., Bartky W.S. A theory of asynchronous circuits//Proc. Int Symp. On the Theory of Switching, Part 1. Harvard University Press, 1959. P. 204-243.
- Апериодические автоматы/под ред. Варшавского В.И. М.: Наука, 1976. С. 304.
- Варшавский В.И., Мараховский В.Б., Розенблюм Л.Я., Яковлев А.В. § 4.3 Апериодическая схемотехника//Искусственный интеллект, т. 3: Программные и аппаратные средства/под ред. В.Н. Захарова и В.Ф. Хорошевского. М.: Радио и связь, 1990.
- Yakovlev A. Energy-modulated computing//Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2011. IEEE, 2011. С. 1-6.
- Степченков Ю.А., Денисов А.Н., Дьяченко Ю.Г. и др. Библиотека элементов для проектирования самосинхронных полузказных микросхем серий 5503/5507 и 5508/5509. М.: ИПИ РАН, 2008. 296 с.
- Hollosi B. et al. Delay-insensitive asynchronous ALU for cryogenic temperature environments//Circuits and Systems, 2008. MWSCAS 2008. 51st Midwest Symposium on. IEEE, 2008. С. 322-325.
- Проблемы создания отечественной элементной компонентной базы. URL: http://www.electronics.ru/journal/article/295. (дата обращения: 27.06.2015).
- Инновационный комплекс МИЭТ. URL: http://miet.ru/content/s/200 (дата обращения: 27.06.2015).
- Базовые матричные кристаллы. URL: http://www.asic.ru/index.php?option=com_c ontent&view=article&id=52&Itemid=92 (дата обращения: 27.06.2015).
- Гаврилов С.В., Денисов А.Н., Коняхин В.В.и др. САПР "Ковчег 3.0" для проектирования микросхем на БМК серий 5503, 5507, 5521 и 5529. М.: 2013. 295 с.
- Денисов А.Н., Фомин Ю.П., Коняхин В.В.и др. Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507/под общ. ред. А.Н. Саурова. М: Техносфера, 2012. 304 c.
- МЦСТ. Микропроцессор нового поколения Эльбрус 2С+. URL: http://www.mcst.ru/modul-comexpress (дата обращения: 28.06.2015).
- Федеральное государственное учреждение "Федеральный научный центр Научно-исследовательский институт системных исследований Российской академии наук" URL: https://www.niisi.ru/(дата обращения: 28.06.2015).
- ОАО КБ "Корунд-М". URL: http://www.korund-m.ru/(дата обращения: 28.06.2015).
- Donald C. Mayer, Ronald C. Lacoe. Designing Integrated Circuits to Withstand Space Radiation. Vol.4, № 2, Crosslink. URL: http://www.aero.org/publications/crosslink/su mmer2003/06.html (дата обращения: 20.05.2015).
- Юдинцев В. Радиационно-стойкие интегральные схемы. Надежность в космосе и на земле//Электроника: Наука, Технология. 2007. № 5. С. 72-77. ISSN 1992-4178. URL: http://www.electronics.ru/files/article_pdf/0/article_592_363.pdf (дата обращения: 29.05.2015).
- Чекмарёв С.А. Способ и система инъекции ошибок для тестирования сбоеустойчивых процессоров бортовых систем космических аппаратов//Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. академика М.Ф. Решетнева. Вып. № 4(56). 2014 URL: http://cyberleninka.ru/article/n/sposob-i-sistema-inektsii-oshibok-dlya-testirovaniya-sboeustoychevyh-protsessorov-bortovyh-sistem-kosmicheskih-apparatov (дата обращения: 16.12.2015).
- ГОСТ Р 53480-2009. Надежность в технике. Термины и определения. IEC 60050 (191):1990-12 (NEQ). Москва: Стандартинформ, 2010.
- ГОСТ 20911-89. Техническая диагностика. Термины и определения. Москва: Стандартинформ, 2019.
- Stuck-atfault. URL: http://en.wikipedia.org/wiki/Stuck-at_fault (дата обращения: 28.05.2015).
- Бородин В.А. и др. Отказоустойчивые вычислительные системы. М.: МО СССР, 1990. С. 55.
- Тюрин С.Ф., Каменских А.Н. Анализ отказоустойчивой самосинхронной реализации двоичного сумматора//Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. 2014. № 1(9). С. 25-39.
- Kamenskih, A.N., Tyurin, S.F. Features that provide fault tolerance of self-synchronizing circuits//Russian Electrical Engineering. 2015. P. 672-682.
- Tyurin S.F., Kamenskih A.N. Research into the reservation of logic function at transistor level. В мире научных открытий. 2014. № 10 (58). С. 232-247.
- Дж. Д. Ульман. Вычислительные аспекты СБИС/пер. с англ. А.В. Неймана/под ред. П.П. Пархоменко. М.: Радио и связь, 1990. 480 с.