Технология и методика обучающего эксперимента КМОП-микросхем
Автор: Мишанов Р.О.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 1 т.21, 2018 года.
Бесплатный доступ
Рассмотрена методика обучающего эксперимента интегральных микросхем с КМОП-структурой. Проведен анализ конструктивно-технологических особенностей микросхем серии 765. Предложены схемы их включения и измерения основных параметров при проведении обучающего эксперимента. Сделан выбор методов и средств контроля информативных параметров в процессе исследовательских испытаний. Описан процесс выбора объема выборки. Определен подход к разработке программных исследовательских испытаний.
Методика, обучающий эксперимент, микросхема, кмоп-структура, конструктивно-технологические особенности, серия 765, схемы включения, основные параметры, информативные параметры, объем выборки, исследовательские испытания, средства контроля
Короткий адрес: https://sciup.org/140256033
IDR: 140256033
Список литературы Технология и методика обучающего эксперимента КМОП-микросхем
- Пиганов М.Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок. М.: Новые технологии, 2002. 267 с.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н. Методика обучающего эксперимента при индивидуальном прогнозировании показателей качества космических РЭС // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы всероссийской НТК 13-15 мая 2008 г. Самара: Издательство СГАУ, 2008. С. 239-253.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Мишанов Р.О. Разработка методики диагностического неразрушающего контроля микросхем // Сборник научных трудов SWorld. 2014. Т. 5. № 4 (37). С. 66-73.
- Килибаева Ж.К. Анализ отказов и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем // Молодой ученый. 2014. № 8.1. С. 12-16.
- Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус [и др.] // Технология конструирования в электронной аппаратуре. 2001. № 4-5. С. 35-37.
- Mishanov R.O., Tyulevin S.V., Piganov M.N. Analysis of the unreliability reasons and the diagnostic non-destructive testing installation for the integrated stabilizers // SWorld Journal. 2015. J11510-032. P. 179-183.
- Глудкин О.П. Управление качеством электронных средств. М.: Высшая школа, 1994. 414 с.
- Карпов О.В. Определение объема выборки при индивидуальном прогнозировании различными методами // ХХIХ Гагаринские чтения: труды международной конференции. М.: МАТИ, 2004. С. 117-119.
