Анализ текстур и определение типа кристаллической решётки на наномасштабных изображениях

Куприянов Александр Викторович

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Рубрика: Наномасштабные изображения

Статья в выпуске: 2 т.35, 2011 года.

Бесплатный доступ

Современные приборы регистрации изображений микро- и наноструктур и методы компьютерной обработки изображений позволяют решать различные задачи анализа текстуры поверхности. Особенности обработки и анализа наномасштабных изображений, получаемых в электронной микроскопии высокого разрешения, показаны на примере решения задачи определения типа кристаллических решёток.

наномасштабные изображения \ текстура \ кристаллическая решётка

Похожие статьи в разделе Электротехника

Фрактальный анализ микроструктуры наномодифицированного композита 5
Фрактальный анализ микроструктуры наномодифицированного композита 5

Смирнов Владимир Алексеевич, Королев Евгений Валерьевич, Данилов Александр Максимович, Круглова Альбина Николаевна

Компьютерная микроскопия при изучении предмета микроэлектроники
Компьютерная микроскопия при изучении предмета микроэлектроники

Галеева Луиза Хамитовна, Сайфуллина Дана Вахитовна

Короткий адрес: https://sciup.org/14058998

IDS: 14058998

Texture analysis and identification of the crystal lattice type upon the nanoscale images

The high end equipment intended for image acquisition of the micro- and nanostructures and various methods of the image processing allows one to solve the problems of surface texture analysis. The specifics of processing and analysis of the nanoscale images obtained via high resolution electronic microscopy are presented as an example solution of the task of crystal lattice type identification.