Формальная система вывода отказоустойчивых КМДП-структур самосинхронных схем

Автор: Каменских А.Н.

Журнал: Вестник Пермского университета. Серия: Математика. Механика. Информатика @vestnik-psu-mmi

Рубрика: Информатика. Информационные системы

Статья в выпуске: 2 (33), 2016 года.

Бесплатный доступ

Для обеспечения пассивной отказоустойчивости самосинхронных схем - ССС предложено "терминальное" резервирование транзисторных структур, а также парирующее отказы части транзисторов, которые возникают, например, в результате воздействия радиации и других негативных факторов. Однако такое резервирование возможно не всегда в силу ограничений Мида и Конвей на число последовательно соединенных транзисторов. Предлагается формальная система, обеспечивающая вывод резервированной КМДП ССС с учетом заданного ограничения на длину последовательной цепочки транзисторов.

Формальная система вывода, самосинхронная схема - ссс, кмдп-транзистор, резервирование, транзисторная структура

Короткий адрес: https://sciup.org/14730033

IDR: 14730033 | DOI: 10.17072/1993-0550-2016-2-133-137

Список литературы Формальная система вывода отказоустойчивых КМДП-структур самосинхронных схем

Muller D.E., Bartky W. S. A theory of asynchronous circuits//Proc. Int Symp. On the Theory of Switching, Part 1. Harvard University Press, 1959. P.204-243.
Апериодические автоматы/под ред. В.И. Варшавского. М.: Наука, 1976. С. 304.
Варшавский В.И., Мараховский В.Б., Ро-зенблюм Л.Я. и др. § 4.3. Апериодическая схемотехника//Искусственный интеллект, т. 3: Программные и аппаратные средства/под ред. В.Н. Захарова, В.Ф. Хорошевского. М.: Радио и связь, 1990.
Yakovlev A. Energy-modulated computing//Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2011. IEEE, 2011. С. 1-6.
Степченков Ю.А., Денисов A.H., Дьяченко Ю.Г. и др. Библиотека элементов для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503/5507 и 5508/5509. М.: ИЛИ РАН, 2008. 296 с.
Hollosi В. et al. Delay-insensitive asynchronous ALU for cryogenic temperature environments//Circuits and Systems, 2008. MWSCAS 2008. 51st Midwest Symposium on. IEEE, 2008. C. 322-325.
Проблемы создания отечественной элементной компонентной базы. URL: http://www.electronics.ru/journal/article/295. (дата обращения: 27.06.2015).
Инновационный комплекс МИЭТ. URL: http://miet.ni/content/s/200 (дата обращения: 27.06.2015).
Базовые матричные кристаллы. URL: http://www.asic.ru/index.php?option=com_con tent&view=article&id=52&Itemid=92 (дата обращения: 27.06.2015).
Гаврилов СВ., Денисов А.Н, Коняхин В.В. и др. САПР "Ковчег 3.0" для проектирования микросхем на БМК серий 5503, 5507, 5521 и 5529. М.: 2013. 295 с.
Денисов А.Н, Фомин Ю.П., Коняхин В.В. и др. Библиотека функциональных ячеек для проектирования полузаказных микросхем серий 5503 и 5507/под общ. ред. А.Н. Саурова. М.: Техносфера, 2012. 304 с.
МЦСТ. Микропроцессор нового поколения Эльбрус 2С+. URL: http://www.mcst.ru/modul-comexpress (дата обращения: 28.06.2015).
Федеральное государственное учреждение "Федеральный научный центр Научно-исследовательский институт системных исследований Российской академии наук". URL: https://www.niisi.ru/(дата обращения: 28.06.2015).
ОАО КБ "Корунд-М". URL: http://www.korund-m.ru/(дата обращения: 28.06.2015).
Donald С. Mayer, Ronald С. Lacoe. Designing Integrated Circuits to Withstand Space Radiation. Vol. 4, № 2, Crosslink. URL: http://www.aero.org/publications/crosslink/su mmer2003/06.html (дата обращения: 20.05.2015).
Юдинцев В. Радиационно-стойкие интегральные схемы. Надежность в космосе и на земле//Электроника: Наука, Технология, Бизнес: журнал. 2007. № 5. С. 72-77. ISSN 1992-4178 URL: http://www.electronics.rU/files/article_pdf/0/ar ticle_592_363.pdf (дата обращения: 29.05.2015).
Чекмарёв С.А. Способ и система инъекции ошибок для тестирования сбоеустой-чивых процессоров бортовых систем космических аппаратов//Вестник Сибирского государственного аэрокосмического университета им. акад. М.Ф. Решетнева. Вып. №4(56). 2014. URL: http://cyberleninka.ru/article/n/sposob-i-sistema-inektsii-oshibok-dlya-testirovaniya-sboeustoychevyh-protsessorov-bortovyh-sistem-kosmicheskih-apparatov (дата обращения: 16.12.2015).
ГОСТ Р 53480-2009. Надежность в технике. Термины и определения. IEC 60050 (191): 1990-12 (NEQ). М.: Стандартинформ, 2010.
ГОСТ 20911-89. Техническая диагностика. Термины и определения. М.: Стандартинформ, 2019.
Stuck-at fault. URL: http://en.wikipedia.org/wiki/Stuck-at_fault (дата обращения: 28.05.2015).
Бородин В.А. и др. Отказоустойчивые вычислительные системы. М.: МО СССР, 1990. С. 55.
Тюрин С.Ф., Каменских А.Н. Анализ отказоустойчивой самосинхронной реализации двоичного сумматора//Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. 2014. № 1(9). С. 25-39.
Kamenskih, A.N., Tyurin, S.F. Features that provide fault tolerance of self-synchronizing circuits//Russian Electrical Engineering. 2015. P.672-682.
Tyurin S.F., Kamenskih A.N. Research into the reservation of logic function at transistor level. В мире научных открытий. 2014. № 10(58). С. 232-247.
Ульман Дж.Д. Вычислительные аспекты СБИС: пер. с англ. А.В. Неймана/под ред. П.П. Пархоменко. М.: Радио и связь, 1990. 480 с.
Тюрин С.Ф., Каменских А.И. Мажоритарное устройство. Патент РФ № 2580080. Опубл. БИ№ 10 10.04.2016,

Еще

Статья научная