Методика ускоренного определения площади листовой поверхности сельскохозяйственных культур с помощью компьютерной технологии

Приведен краткий сравнительный анализ применяемых методик определения площади листьев изучаемых растений: метод нанесе-ния контуров листьев на миллиметровую бу-магу, метод высечек, метод промеров, плани-метрический метод. Раскрыты их достоин-ства и недостатки: метод нанесения конту-ров листьев на миллиметровую бумагу - ме-тод точен, но очень продолжителен по вре-мени, метод высечек - метод удобен и дос-таточно быстр, однако неприменим к некото-рым культурам и имеет погрешности, метод промеров - доступный, быстрый и простой, с большими погрешностями измерений, плани-метрический метод - точный и удобный ме-тод, требующий наличия сложного дорого-стоящего оборудования. Разработана мето-дика ускоренного определения площади лис-товой поверхности сельскохозяйственных культур с использованием сканера. Суть ме-тода: на сканер кладется плотная прозрачная пленка, на пленку раскладываются листья ис-следуемого растения, поверхность которых должна быть предварительно просушена. Ли-стья плотно прижимаются к стеклу экспони-рования крышкой сканера. Листовые пла-стинки сканируются. Полученный результат сохраняется в виде бинарного изображения (двуцветного, иногда называемого черно-бе-лым). Полученное бинарное изображение за-гружается в программу APFill Ink&Toner Coverage Meter, запускается расчет площади заполнения листа чернилами и по истечении короткого промежутка времени исследова-тель получает показатель заполнения по-верхности листа чернилами, выраженный в процентах. Далее путем расчетов по предло-женной методике получаем площадь сканиро-ванных листьев. Используя разработанную методику исследователь получает возмож-ность оценить площадь покрытия страницы формата А4 листьями исследуемой культуры, а далее экстраполировать полученные данные для определения листовой поверхности рас-тений, фотосинтезирующих на определенной площади посева. Предлагаемый метод позво-ляет быстро и точно проводить измерения, при этом не требует наличия дорогостоя-щего научного оборудования или сложных про-граммных средств, что делает его доступ-ным для любого исследователя, перед кото-рым стоит задача проведения измерения пло-щади листовой поверхности.