Влияние топологии поверхности подложки на структуру формируемых ленгмюровских пленок

Рассмотрены основные вопросы подготовки поверхности подложки для нанесения на нее ленгмюровской пленки. Приводятся изображения, полученные методами конфокальной сканирующей лазерной микроскопии и атомно-силовой микроскопии, что позволило выявить корреляцию дефектов в структуре поверхности пленки и подложки. Обсуждается влияние топографии поверхности подложки на структуру формируемых пленок.